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本实用新型公开一种测试机台，用以对一芯片进行测试，该测试机台包括：一基座、一支撑架、一可动平台、一屏蔽装置及一台座单元。支撑架设置于基座上。可动平台通过支撑架位移。一屏蔽装置包括：一第一壳体以及一第二壳体。第一壳体设置于基座上，且第二壳体设...
该专利属于立积电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过立积电子股份有限公司授权不得商用。

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