电性测试机台制造技术

一种电性测试机台，用于电性测试至少一个电路板，此电性测试机台包括基座、多根探针、至少一驱动开关与盖子。基座包括驱动器与承载架，其中承载架配置在驱动器上，并具有测试区，而电路板放置在测试区内。多根探针配置在测试区内，并位于电路板的下方，其中驱动器用以驱动这些探针做上下移动，以使这些探针接触电路板。驱动开关装设于基座，并且电性耦接驱动器。盖子枢接基座，并用于遮盖测试区及触发驱动开关。当盖子遮盖测试区时，驱动开关被触发并驱动驱动器，以使这些探针接触电路板。本实用新型专利技术的电性测试机台在整个电性测试的过程中，作业员只要盖上盖子即可启动电性测试机台，开始进行电性测试。藉此，可缩短整个电性测试所需要的时间。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术有关于测试机台，特别是有关于电性测试机台。
技术介绍
在现有电路板的电性测试技术中，一般电性测试机台可对尚未打件的电路板(gp裸板)或已打件的电路板(又可称为电路板总成，circuit boa rd assembly)进行电性测试，其中电路板上通常配置许多测试点，而这些测试点用以对电路板进行电性测试。目前很多电性测试机台具有多根探针(probe)，而这些探针能分别接触这些测试点，并且将测试信号传送至测试点，以对电路板进行电性检测。不过，一般电路板所进行的电性测试需要花费一定的时间，所以许多制造电路板的制造厂，以及将已打件的电路板组装于电子产品内的组装厂都希望能缩短整个电性测试所需要的时间，包括缩短在装载(loading)电路板之后，启动电性测试机台进行测试的所需时间。
技术实现思路
本技术解决的技术问题在于提供一种电性测试机台，其用以对电路板进行电性测试,并能缩短整个电性测试所需要的时间。为解决上述技术问题，本技术一实施例提出一种电性测试机台，用于电性测试至少一电路板，所述的电性测试机台包括基座，包括驱动器以及承载架，其中所述承载架配置在该驱动器上，并具有测试区，而所述电路板放置在所述测试区内；多根探针，配置在该测试区内，并位于所述电路板的下方，其中所述驱动器用以驱动所述探针做上下移动，以使所述探针接触所述电路板；至少一驱动开关，装设于所述基座，并且电性耦接所述驱动器；以及盖子，枢接所述基座，并用于遮盖所述测试区及触发所述驱动开关，当所述盖子遮盖该测试区时，所述驱动开关被触发并驱动所述驱动器，以使所述探针接触所述电路板。其中，所述驱动器具有一顶面，而所述承载架位于所述顶面上，所述盖子沿着一转轴而相对于所述顶面枢转，而所述转轴平行于所述顶面。其中，所述驱动开关为一按钮开关，并具有一驱动按钮，而所述驱动按钮凸出于所述顶面，当所述盖子遮盖所述测试区时，所述盖子压触所述驱动按钮，以触发所述驱动开关。其中，所述盖子具有一末端与一相对所述末端的枢接端，所述枢接端枢接所述基座，当所述盖子遮盖所述测试区时，所述末端压触所述驱动按钮。其中，所述驱动开关为一感测开关，而遮盖所述测试区的所述盖子触发所述感测开关。其中，所述感测开关为一传感器，所述传感器裸露于所述顶面。其中，所述盖子具有一末端与一相对所述末端的枢接端，该枢接端枢接所述基座，当所述盖子遮盖所述测试区时，所述末端位于所述传感器的一感测路径上。其中，所述传感器为一光传感器或一无线传感器。其中，所述驱动器为一液压缸或一气压缸。另外，更包括一计算机装置，电性耦接所述驱动器以及所述驱动开关，以控制所述驱动器，其中所述计算机装置包括一计算机主机以及一计算机屏幕，所述计算机主机电性耦接所述计算机屏幕、所述驱动器以及所述驱动开关；以及至少一控制钮，所述控制钮电性连接所述计算机装置，所述驱动器具有一顶面，而所述承载架位于所述顶面上，所述控制钮凸出于所述顶面。本技术具有如下有益效果综上所述，在本技术实施例所提供的电性测试机台中，在整个电性测试的过程中，作业员只要盖上盖子即可启动电性测试机台，开始进行电性测试。藉此，可缩短整个电性测试所需要的时间。为使能更进一步了解本技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本技术的详细说明与附图，但是此等说明与附图仅用来说明本技术，而非对本技术的权利范围作任何的限制。附图说明图I为本技术一实施例的电性测试机台的立体示意图。图2A与2B为图I中的电性测试机台在运作时的侧视示意图图3为本技术另一实施例的电性测试机台的立体示意图。具体实施方式图I为本技术一实施例的电性测试机台的立体示意图。请参阅图1，电性测试机台I用以电性测试一电路板15，其中电路板15可以是已经装设好电容、电感、电阻或芯片等电子组件(未绘示)，或是完全未装设任何电子组件。所以，不论电路板15是否有装设电子组件，电性测试机台I都能对电路板15进行电性检测。电性测试机台I包括基座10、多根探针11、至少一个驱动开关13、盖子14、控制单元16与控制钮17。基座10包括驱动器101与承载架102，而承载架102配置在驱动器101上。控制单元16电性耦接驱动器101与驱动开关13，以控制驱动器101与驱动开关13。在本实施例中，控制单元16是计算机装置，其包括计算机主机161与计算机屏幕162，其中计算机主机161电性耦接计算机屏幕162、驱动器101以及驱动开关13。驱动器101具有顶面101a，而承载架102位于顶面IOla上，并具有一测试区103。多根探针11配置在测试区内103，而电路板15可以放置在测试区103内。当电路板15放置在测试区103内时，这些探针11会位于电路板15的下方，并且用于与电路板15接触，从而进行对电路板15进行电性测试。盖子14枢接基座10。详细而言，盖子14具有末端141与相对末端141的枢接端142，其中枢接端142枢接基座10，以使盖子14得以枢接基座10。盖子14能沿着一转轴R而相对于顶面IOla枢转，而转轴R平行于顶面101a。须说明的是，上述转轴R与顶面IOla之间的平行是指实质上平行。详细而言，在不影响基座10整体运作的前提下，这里所谓的实质上平行涵盖因公差所产生的些许不平行，而判断转轴R与顶面IOla之间是否实质上平行，则是在不借助量测设备的条件下，仅根据人类肉眼所观察的结果来判断，即一般人从肉眼直接观看电性测试机台I的话，会认为转轴R与顶面IOla平行。驱动开关13与控制钮17皆装设于基座10，其中驱动开关13电性耦接驱动器101，而承载架控制钮I电性连接控制单元16，并凸出于顶面101a。在本实施例中，驱动开关13可以是按钮开关，并具有驱动按钮131，其中驱动按钮131凸出于顶面101a。当驱动开关13被触发时，驱动开关13会启动驱动器101，以使驱动器101驱动这些探针11做上下移动，让探针11接触电路板15。此外，驱动器12可以是液压缸或气压缸。以上主要说明电性测试机台I的结构特征。接下来,说明本实施例的电性测试机台I如何对电路板15进行电性测试。 图2A与图2B为图I中的电性测试机台在运作时的侧视示意图。请参阅图2A与图2B，当电路板15置放于测试区103时，作业员可以用手将盖子14盖上，以启动测试程序。具体而言，作业员可以枢转盖子14，以使盖子14相对于基座10承载架作第一枢转R1，让盖子14遮盖测试区103。当盖子13遮盖测试区103时，盖子14压触驱动按钮131，以使驱动开关13被触发并驱动驱动器101，其中驱动按钮131是被盖子13的末端141所压触。此时，盖子14的位置刚好完全覆盖电路板15与承载架16。当驱动开关13被触发并驱动驱动器101时，这些探针11会沿着方向Ml而向上移动，以接触电路板15，从而进行测试程序，藉此以使电性测试机台I透过多根探针11来对电路板15进行电性测试，其中这些探针11可接触电路板15的测试点(未绘示)来进行电性测试。值得一提的是，驱动器12驱动探针11的方式可以是同时驱动所有探针11，即同时让所有探针11作上下移动。然而，在其他实施例中，驱动器12也可以分批驱动探针11作上下移动，以满足多样化的电性测试需求。因此，本技术并不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电性测试机台，用于电性测试至少一电路板，其特征在于，所述的电性测试机台包括：基座，包括驱动器以及承载架，其中所述承载架配置在该驱动器上，并具有测试区，而所述电路板放置在所述测试区内；多根探针，配置在该测试区内，并位于所述电路板的下方，其中所述驱动器用以驱动所述探针做上下移动，以使所述探针接触所述电路板；至少一驱动开关，装设于所述基座，并且电性耦接所述驱动器；以及盖子，枢接所述基座，并用于遮盖所述测试区及触发所述驱动开关，当所述盖子遮盖该测试区时，所述驱动开关被触发并驱动所述驱动器，以使所述探针接触所述电路板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈忠贤，唐于斌，
申请(专利权)人：金宝电子中国有限公司，金宝电子工业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：