压力检测装置以及压力检测方法制造方法及图纸

技术编号:8130123 阅读:167 留言:0更新日期:2012-12-27 01:37
压力检测装置以及压力检测方法。本发明专利技术提供能够利用与以往不同的结构来进行压力检测的技术。本发明专利技术的压力检测装置具有:缓冲部(340),其包含分散的多个磁铁,并根据外压而变形;以及磁传感器(331),其检测缓冲部(340)的变形所伴随的磁场变化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测压力的技术。
技术介绍
在现有的压力检测装置中,根据来自外部的压力来改变压敏元件的电阻值,由此来检测压力(例如专利文献I)。专利文献I日本特开平7-253374号公报 但是,在该技术中对压敏元件的形状有限制,从而存在无法使用所希望的形状的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种能够利用与以往不同的结构来进行压力检测的技术。本专利技术是为了解决上述课题的至少一部分而完成的,本专利技术可以作为以下方式或应用例来实现。[应用例I]一种压力检测装置,该压力检测装置具有缓冲部,其包含分散的多个磁铁,并根据外压而变形;以及磁传感器,其检测上述缓冲部的变形所伴随的磁场变化。根据该压力检测装置,当对缓冲部施加外压时缓冲部变形从而磁场发生变化,所以可以通过利用磁传感器检测该磁场变化来检测加减压。上述缓冲部可以包含分散的多个磁铁。根据该压力检测装置,将磁铁分散地配置在缓冲部中,因此能够检测施加到缓冲部的各个部位上的外压。[应用例2]上述压力检测装置可以包含多个上述磁传感器。根据该压力检测装置,通过多个磁传感器来检测磁场变化,所以可以获得空间上的压力分布。[应用例3]一种压力检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压力检测装置,该压力检测装置具有:缓冲部,其包含分散的多个磁铁,并根据外压而变形;以及磁传感器,其检测上述缓冲部的变形所伴随的磁场变化。

【技术特征摘要】
2008.02.28 JP 2008-048557;2009.01.22 JP 2009-01161.一种压力检测装置,该压力检测装置具有 缓冲部,其包含分散的多个磁铁,并根据外压而变形;以及 磁传感器,其检测上述缓冲部的变形所伴随的磁场变化。2.根据权利要求I所述的压力检测装置,其中, 上述压力检测装置包含多个上述磁传感器。3.一种压力检测装置,该压力检测装置具有 缓冲部,其包含磁铁,并根据外压而变形;以及 磁传感器,其检测上述缓冲部的变形所伴随的磁场变化, 上述缓冲部包含分散的多个磁铁, 上述磁传感器设置在挠性电路基板上。4.根据权利要求3所述的压力检测装置,其特征在于, 上述磁传感器包含多个磁传感器兀件, 多个上述磁传感器元件被均匀地配置。5.根据权利要求3所述的压力检测装置,其特征在于, 上述磁传感器包含多个磁传感器兀件, 上述磁传感器元件设置在将相同的三角形平...

【专利技术属性】
技术研发人员:竹内启佐敏冈仓要次郎
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1