使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计制造技术

一种使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计(1)，其中测量信号包括第一频率扫描和第二频率扫描，并且混频器(25)被布置为使测量信号与回波信号混频以基于第一频率扫描形成第一IF信号，并且基于第二频率扫描形成第二IF信号。处理电路(11)采样电路适于对第一IF信号和第二IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的组合样本向量，并且基于组合样本向量确定距离。通过组合来自两次(或更多次)不同扫描的样本，样本数目和带宽均可以增加，因而维持范围L。然而，由于样本获得自两次分立的扫描，因此各次扫描的扫描时间不需要增加，并且可以维持平均功耗。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种频率调制连续波(FMCW)类型的雷达料位计，具体地，涉及使用电磁波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计和料位计量方法。
技术介绍
从在1970年代和1980年代中开发雷达料位计量作为商业产品开始，频率调制连续波(FMCW)已成为用于高精度应用的主要測量原理。FMCW測量包括将在几个GHz的频率范围上扫描的信号传送到料箱中。例如，信号范围可以是25至27GHz或者9至10. 5G Hz。传送信号被料箱中的内容物的表面(或者通过任何其他阻抗转变)反射，并且已被延迟特定时间的回波信号返回到料位计。回波信号与传送信号混频以生成混频信号，其具有等于在时间延迟期间发生的传送信号的频率改变的频率。如果使用线性扫描，则该差频(其还被称为中频(IF))与到反射表面的距离成比例。混频信号常常被称为IF信号。最近，FMCff原理已被改迸，并且现今典型地牵涉不传送连续扫描而是传送具有几乎恒定幅度的具有阶跃频率的信号。当传送信号和接收信号混频时，每个频率阶将提供分段恒定IF信号的一个恒定段，因而提供IF信号的一个“样本”。为了确定分段恒定IF信号的频率，将需要许多个频率，其数目N大于采样定理规本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计，其包括：微波源，被布置为生成包括第一频率扫描和第二频率扫描的测量信号；信号传播设备，与所述微波源连接并且适于允许将所述测量信号传播到所述料箱中，并且接收从所述表面反射的回波信号；功率存储部，用于为所述微波源供电，所述功率存储部在扫描之间充电；混频器，与所述微波源和所述信号传播设备连接，并且被布置为使所述测量信号与所述回波信号混频以基于所述第一频率扫描形成第一中频IF信号，并且基于所述第二频率扫描形成第二中频IF信号；处理电路，被连接为从所述混频器接收所述料箱信号并且适于对所述第一IF信号和所述第二IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的...

【技术特征摘要】
2011.05.24 US 13/114,4121.ー种使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计，其包括 微波源，被布置为生成包括第一频率扫描和第二频率扫描的測量信号； 信号传播设备，与所述微波源连接并且适于允许将所述测量信号传播到所述料箱中，并且接收从所述表面反射的回波信号； 功率存储部，用于为所述微波源供电，所述功率存储部在扫描之间充电； 混频器，与所述微波源和所述信号传播设备连接，并且被布置为使所述测量信号与所述回波信号混频以基于所述第一频率扫描形成第一中频IF信号，并且基于所述第二频率扫描形成第二中频IF信号； 处理电路，被连接为从所述混频器接收所述料箱信号并且适于对所述第一 IF信号和所述第二 IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的组合样本向量，并且基于所述组合样本向量确定所述距离。2.根据权利要求I所述的料位计,其中每次频率扫描包括离散频率集合，由此每个IF信号是分段恒定的。3.根据权利要求I所述的料位计，其中所述测量信号包括第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：米卡埃尔·克列曼，
申请(专利权)人：罗斯蒙特储罐雷达股份公司，
类型：实用新型
国别省市：