特大型齿轮的姿态调整方法及设备技术

本发明专利技术涉及一种特大型齿轮的姿态调整方法及设备，其中方法包括：获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；获取第一空间位置坐标对和第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；根据第一投影坐标对和第二投影坐标对获取姿态调整平台待调整的旋转信息；在根据旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；根据姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整姿态调整平台的支撑轴。本发明专利技术实施例使得整个特大型齿轮在位测量系统根据特大型齿轮的位置实现小角度、快速的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及三维测量
，特别涉及ー种特大型齿轮的姿态调整方法及设备。
技术介绍
在现代制造、高精度測量、军用以及民用生产制造等各个
，都需要对测量设备或测量仪器(例如三维测量平台)进行姿态调整，从而将测量设备或测量仪器调整到指定的角度和位置，以提高对被测对象测量精度，从而满足特定测试的指标。现有技术中的姿态调整方式有基于三点或多点支承式调整、多联杆式调整、多轴·并联式调整、链条链轮式调整等多种方式。对于特大型齿轮，由于重量大、体积大，现有技术通过采用调整三维测量平台的測量基准面来适应特大型齿轮的測量位置，而三维測量平台的重量大，若频繁移动三维測量平台，则会降低三维测量平台对特大型齿轮的測量精度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供ー种特大型齿轮的姿态调整方法及设备，通过调整三维测量平台提高特大型齿轮在位测量的測量精度。本专利技术实施例提供ー种特大型齿轮的姿态调整方法，包括获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；获取所述第一空间位置坐标对和所述第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；根据所述第一投影坐标对和第二投影坐标对获取所述姿态调整平台待调整的旋转信息；在根据所述旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取所述姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；根据所述姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整所述姿态调整平台的支撑轴，使得所述姿态调整平台的上端面与所述特大型齿轮的上端面平行。本专利技术实施例还提供ー种特大型齿轮的姿态调整设备，包括第一获取模块，用于获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；第二获取模块，用于获取所述第一空间位置坐标对和所述第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；第三获取模块，用于根据所述第一投影坐标对和第二投影坐标对获取所述姿态调整平台待调整的旋转信息；第四获取模块，用于在根据所述旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取所述姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；第一调整模块，用于根据所述姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整所述姿态调整平台的支撑轴，使得所述姿态调整平台的上端面与所述特大型齿轮的上端面平行。本专利技术提供的特大型齿轮的姿态调整方法及设备，通过姿态调整平台根据三维测量平台对特大型齿轮进行测量的位置，在三维测量平台的旋转轴旋转之后，通过控制设备根据姿态调整平台旋转后的空间位置和旋转角度控制驱动设备调整姿态调整平台的空间位置，姿态调整平台进ー步调整三维测量平台的测量臂和测头方向，从而使得整个特大型齿轮在位測量系统根据特大型齿轮的位置实现小角度、快速的測量，提高特大型齿轮在位测量的測量精度和测量效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。·图I为本专利技术实施例所适用的特大型齿轮的姿态调整系统的结构示意图；图2为本专利技术特大型齿轮的姿态调整方法一个实施例的流程示意图；图3为本专利技术特大型齿轮的姿态调整方法又一个实施例的流程示意图；图4为本专利技术特大型齿轮的姿态调整设备ー个实施例的结构示意图；图5为本专利技术特大型齿轮的姿态调整设备又一个实施例的结构示意图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例中所述的特大型齿轮是指ー些參数、尺寸、重量超出常规情况下的齿轮，主要是取决于齿轮的直径，其中，直径大于3000毫米(mm)的齿轮通常称为特大型齿轮。图I为本专利技术实施例所适用的特大型齿轮的姿态调整系统的结构示意图，如图I所示，本专利技术实施例所适用的特大型齿轮的姿态调整系统包括激光跟踪仪10、三维测量平台11、姿态调整平台12、姿态调整设备13、驱动设备14、特大型齿轮15。其中，激光跟踪仪10将跟踪得到的特大型齿轮15上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台11上的第ニ设定特征位置的第二空间位置坐标对发送给姿态调整设备13 ;姿态调整设备13根据下述图2和图3所示实施例的方法对第一空间位置坐标对和第二空间位置坐标进行一系列的处理之后，得到姿态调整平台12的待调整的旋转信息和姿态调整平台12的支撑轴各自对应的平移距离，并控制驱动设备14驱动姿态调整平台12进行姿态调整，姿态调整平台12进ー步调整三维测量平台11的测量臂和测头方向，从而使得提高三维测量平台12对特大型齿轮进行小角度、快速的測量，提高特大型齿轮的測量精度和测量效率。图2为本专利技术姿态调整方法一个实施例的流程示意图；如图2所示，本专利技术实施例具体包括如下步骤步骤201、获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维測量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；步骤202、获取第一空间位置坐标对和第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；步骤203、根据第一投影坐标对和第二投影坐标对获取姿态调整平台待调整的旋转信息；步骤204、在根据旋转信息调整姿态调整平台后，获取姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；步骤205、根据姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整姿态调整平台的支撑轴，使得姿态调整平台的上端面与特大型齿轮的上端面平行。·本专利技术实施例提供的特大型齿轮的姿态调整方法，通过特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对得到姿态调整平台待调整的旋转信息和姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离，使得姿态调整平台根据旋转信息和平移距离调整三维测量平台的测量臂和测头方向，从而根据特大齿轮的位置实现小角度、快速的測量，提高特大型齿轮在位测量的測量精度和测量效率。图3为本专利技术姿态调整方法又一个实施例的流程示意图，如图3所示，本专利技术实施例具体可以包括如下步骤步骤301、获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维測量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；步骤302、获取第一空间位置坐标对和第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；步骤303、获取第一投影坐标对对应的第一向量以及获取第二投影坐标对对应的第二向量；步骤304、计算第一向量和第二向量之间的夹角，该夹角为姿态调整平台旋转的角度；步骤305、计算第一向量与第二向量的叉积，根据叉积的正负确定姿态调整平台的旋转方向；步骤306、在根据旋转信息调整姿态调整平台后，获取姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；步骤307、根据姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整姿态调整平台的支撑轴，使得姿态调整平台的上端面与特大型齿轮的上端面平行。在上述步骤301中，特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种特大型齿轮的姿态调整方法，其特征在于，所述方法包括：获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对；获取所述第一空间位置坐标对和所述第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对；根据所述第一投影坐标对和第二投影坐标对获取所述姿态调整平台待调整的旋转信息；在根据所述旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取所述姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离；根据所述姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整所述姿态调整平台的支撑轴，使得所述姿态调整平台的上端面与所述特大型齿轮的上端面平行。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：祝连庆，郭阳宽，董明利，潘志康，娄小平，张荫民，
申请(专利权)人：北京信息科技大学，
类型：发明
国别省市：