盘片装置制造方法及图纸

基于光盘（1）旋转1周的过程中的每一规定的旋转相位的偏心量，确定构成光拾取器（3）的物镜在跟踪引入后的透镜位移量不超过预先设定的物镜的跟踪方向上的可动范围的旋转相位范围，并将该旋转相位范围设定作为跟踪引入范围，在光盘（1）的旋转相位处于该跟踪引入范围内时，执行光拾取器（3）的跟踪引入。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对由盘片的偏心所引起的周期性位置偏移进行补偿的盘片装置。
技术介绍
在对由盘片的偏心所引起的周期性位置偏移进行补偿的偏心跟随控制中，存在使光拾取器本身进行跟随的方法和利用跟踪致动器来仅使物镜进行跟随的方法。使光拾取器本身进行跟随的方法中，与仅使物镜进行跟随的方法相比，传送机构部的总移动量较大，因此，部件寿命变短。此外，在使光拾取器进行跟随时，容易产生振动等扰动，会担心对聚焦伺月艮、跟踪伺服的影响。因此，一般采用仅使物镜进行跟随的方法。例如，在专利文献I所公开的跟踪控制装置中，利用轨道的蜿蜒信号分量(摇摆(wobble)分量)来测定偏心量，使所获得的偏心量通过具有跟踪传递特性的相反特性的滤 波器，获得偏心修正驱动信号，从而提高对偏心的跟随性。然而，在专利文献I的装置中，由于未考虑跟踪引入装置与物镜的透镜可动幅度之间的关系，因此，存在如下问题根据跟踪引入位置，由偏心引起的透镜驱动量可能会超过透镜可动幅度，产生无法维持跟踪的状态。本专利技术是为解决上述那样的问题而完成的，其目的在于获得一种可提高对具有偏心分量的盘片的跟踪维持能力的盘片装置。现有技术文献专利文献专利文献I :日本专利特开2000 - 20965号公报
技术实现思路
本专利技术所涉及的盘片装置包括旋转相位检测部，该旋转相位检测部检测光盘的旋转相位；偏心量检测部，该偏心量检测部对每一由旋转相位检测部检测出的规定的旋转相位检测光盘的偏心量；存储部，该存储部将由偏心量检测部检测出的、光盘旋转I周的过程中的偏心量按照每一规定的旋转相位进行存储；设定部，该设定部基于从存储部读出的、光盘旋转I周的过程中的每一规定的旋转相位的偏心量，确定旋转相位范围，并将其设定作为跟踪引入范围，在该旋转相位范围中，构成光拾取器的物镜在跟踪引入后的透镜位移量不超过物镜的预先设定的跟踪方向上的可动范围；及控制部，该控制部在由旋转相位检测部检测出的光盘的旋转相位处于由设定部设定的跟踪引入范围内时，执行光拾取器的跟踪引入。根据本专利技术，基于光盘旋转I周的过程中的每一规定的旋转相位的偏心量，确定构成光拾取器的物镜在跟踪引入后的透镜位移量不超过物镜的预先设定的跟踪方向上的可动范围的旋转相位范围，并将其设定作为跟踪引入范围，在光盘的旋转相位处于该跟踪引入范围内时，执行光拾取器的跟踪引入。通过采用这种结构，具有可提高对具有偏心分量的盘片的跟踪维持能力的效果。附图说明图I是表示本专利技术的实施方式I的盘片装置的结构的框图。图2是表示跟踪引入中所需的各信号的图。图3是表示记录在光盘上的同心圆状的轨道的中心位置与光盘的旋转中心位置之间的关系的图。图4是表不使最大偏心量为A的光盘以角速度w进行旋转时的偏心量与时间之间的关系的图。图5是表示在最大偏心量A小于透镜可动幅度B的情况下、在偏心量为0的位置弓I入跟踪时的透镜位移量与时间之间的关系的图。图6是表示在最大偏心量A小于透镜可动幅度B的情况下、在偏心量最大的位置 弓I入跟踪时的透镜位移量与时间之间的关系的图。图7是表示盘片旋转I周的过程中的偏心量Al、与将盘片旋转I周的过程沿周向分割为12段时对每一旋转相位检测出的轨道横穿条数A2之间的关系的图。图8是表示盘片旋转I周的过程中的偏心量Al与图2(d)所示的轨道横穿方向信号A3之间的关系的图。图9是表示盘片旋转I周的过程中的偏心量Al、与将图2 (d)所示的轨道横穿方向信号乘以图7所示的对每一旋转相位检测出的轨道横穿条数A2而得到的值A4之间的关系的图。图10是表示盘片旋转I周的过程中的偏心量Al、与将图9中的值A4的旋转相位偏移90度而得到的值A5之间的关系的图。图11是表示盘片旋转I周的过程中的偏心量Al、与以图10中的信息A5的最大值成为最大偏心量的方式进行振幅补正而得到的值A6之间的关系的图。图12是表不偏心量Al和平均偏心量A6相对于旋转相位的关系的图。图13是表示光拾取器的透镜位移量与TE信号之间的关系的图。图14是表示在跟踪引入时产生了透镜位移的情况下、偏心量A7和平均偏心量A6相对于旋转相位的关系的图。图15是表示本专利技术的实施方式3的盘片装置的结构的框图。图16是表示本专利技术的实施方式4的盘片装置的结构的框图。具体实施例方式以下，为了更详细地对本专利技术进行说明，根据附图对用于实施本专利技术的方式进行说明。实施方式I图I是表示本专利技术的实施方式I的盘片装置的结构的框图。图I中，实施方式I的盘片装置包括盘片旋转部2、光拾取器3、TE信号生成部4、跟踪环路信号产生部5、跟踪引入定时生成部6、跟踪控制部7、跟踪致动器驱动部8、旋转相位检测部9、偏心量检测部10、跟踪引入范围设定部11及存储部12。盘片旋转部2是使光盘I旋转的结构部。光拾取器3是将激光聚集到由盘片旋转部2进行旋转的光盘I的信息面上、并检测其反射光的结构部。TE信号生成部4是与光拾取器3进行连接的结构部，根据由光拾取器3获得的上述反射光所对应的信号，生成在跟踪控制中使用的跟踪误差信号a (以下称为TE信号a)。TE信号a是表示激光光斑与光盘I中的准确跟踪位置之间的偏移的信号。跟踪环路信号产生部5是与TE信号生成部4进行连接的结构部，根据由TE信号生成部4获得的TE信号a，生成跟踪环路信号b。跟踪环路信号b是对跟踪致动器驱动部8的动作进行控制的信号。跟踪引入定时生成部6是与光拾取器3进行连接的结构部，根据由光拾取器3获得的上述反射光所对应的信号，生成跟踪引入定时信号C。跟踪控制部7是与跟踪引入定时生成部6、旋转相位检测部9及跟踪引入范围设定部11进行连接的结构部，基于跟踪引入定时信号C、旋转相位信号e及盘片旋转相位范围h，闭合跟踪伺服环路，从而引入跟踪。图2是表示跟踪引入中所需的各信号的图。如图2(b)所示，跟踪引入定时信号c是表示位于轨道(on-track)和离开轨道(off-track)这2种状态的信号。基于该跟踪引入 定时信号c进行控制，使得例如在位于轨道的状态时闭合跟踪伺服环路，在离开轨道的状态时打开跟踪伺服环路，从而实现跟踪引入。在将激光光斑维持于光盘I上的凹坑列(轨道)时，跟踪环路信号b被输出到跟踪致动器驱动部8。跟踪致动器驱动部8根据跟踪环路信号b，生成跟踪驱动信号d。光拾取器3内部的跟踪致动器根据所输入的跟踪驱动信号d进行驱动，维持激光光斑与轨道对准的状态(追踪状态)。这样的信号环路被称为跟踪伺服环路。图3是表示记录在光盘上的同心圆状的轨道的中心位置与光盘的旋转中心位置之间的关系的图。之后，如图3所示，将表示记录在光盘I上的同心圆状的轨道的中心位置、与光盘I的旋转中心位置之差的量作为最大偏心量来进行说明。此外，在光盘I以某一旋转相位e进行旋转时，如图3所示，轨道以(最大偏心量Xsine)横穿激光光斑。将该量称为偏心量。此外，在跟踪伺服环路处于打开状态时，若除偏心之外无扰动，则激光光斑横穿光盘I上的轨道，其横穿的量为与偏心量相应的量。此时，若设盘片旋转I周的过程中的轨道横穿条数为a，轨道间距为P，则最大偏心量由a / (4X 0 )来表示。此处，对本专利技术要解决的技术问题进行详细说明。图4是表不使最大偏心量为A的光盘以角速度w进行旋转时的偏心量与时间之间的关系的图。如图4所示，偏心量与光盘I的旋转同步地进行变化，在时间t的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：星野洋史，北田晃，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：