一种同轴度检测装置，用于检测工件的两检测部的同轴度，该检测装置包括一底座、一固定于该底座的基准件及一可相对该基准件滑动地设置于该底座的测量件，该基准件及该测量体分别包括一可定位该工件的检测部的测量体，该两测量体的中心线位于同一直线上并平行于该测量件的滑动方向，将该工件的一检测部定位于该基准件的测量体，相对该基准件滑动该测量件，如果该工件的另一检测部能定位于该测量件的测量体，则该工件合格，如果该工件的另一检测部不能定位于该测量件的测量体，则该工件不合格。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测装置，特别涉及一种检测工件的同轴度的检测装置。
技术介绍
在桌上型电脑、便携式电子设备等电子产品的生产制造过程中，经常会采用机械加工、成型及线材折弯等工艺制造各种工件，为组装的需要，有些工件需设有同一轴线上相对的两柱体、一孔与一柱体或两孔。为确保工件合 格，需测量该两柱体、孔与柱体或两孔的同轴度是否符合规范。现有的测量方法一般使用三次元检测或在检测室中投影进行检测。但此两种检测方法检测成本高、效率低，且不能满足大批量生产检测的需求。
技术实现思路
鉴于以上，有必要提供一种成本低且检测效率高的同轴度检测装置。一种同轴度检测装置，用于检测工件的两检测部的同轴度，该检测装置包括一底座、一固定于该底座的基准件及一可相对该基准件滑动地设置于该底座的测量件，该基准件及该测量体分别包括一可定位该工件的检测部的测量体，该两测量体的中心线位于同一直线上并平行于该测量件的滑动方向，将该工件的一检测部定位于该基准件的测量体，相对该基准件滑动该测量件，如果该工件的另一检测部能定位于该测量件的测量体，则该工件合格，如果该工件的另一检测部不能定位于该测量件的测量体，则该工件不合格。该轴度检测装置通过判断工件的另一检测部是否可卡置于该测量件的测量体来检测该工件的两检测部的中心线可否位于同一直线上，操作快速准确，且该检测装置制造成本及工件的检测成本都很低。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图I是本专利技术同轴度检测装置的第一较佳实施方式与一工件的立体分解图，该同轴度检测装置包括一测量体及一基准件。图2是图I中同轴度检测装置的立体组装图。图3及图4为本专利技术同轴度检测装置的使用状态图。图5是本专利技术同轴度检测装置的第二较佳实施方式中的测量体的立体图。图6是本专利技术同轴度检测装置的第二较佳实施方式的立体组装图。主要元件符号说明面￥度检测装置I loo—工件W—蛋二检测部 _302—蛋三~检测部304—底座|20—权利要求1.一种同轴度检测装置，用于检测工件的两检测部的同轴度，该检测装置包括一底座、一固定于该底座的基准件及一可相对该基准件滑动地设置于该底座的测量件，该基准件及该测量体分别包括一可定位该工件的检测部的测量体，该两测量体的中心线位于同一直线上并平行于该测量件的滑动方向，将该工件的一检测部定位于该基准件的测量体，相对该基准件滑动该测量件，如果该工件的另一检测部能定位于该测量件的测量体，则该工件合格，如果该工件的另一检测部不能定位于该测量件的测量体，则该工件不合格。2.如权利要求I所述的同轴度检测装置，其特征在于该底座为一长方体，其顶面的中部沿该底座的长度方向开设一贯穿该底座的两端面的滑槽，该基准件固定于该滑槽的一端，该测量件沿该滑槽可相对该基准件滑动。3.如权利要求2所述的同轴度检测装置，其特征在于该基准件包括一固定于该滑槽内的固定块，该固定块沿该基准件的滑动方向开设一收容孔，该基准件的测量体可拆卸地装设于该收容孔内。4.如权利要求3所述的同轴度检测装置，其特征在于该固定块沿垂直该基准件的滑 动方向设一与该收容孔相连通的螺孔，一紧固螺丝旋入该螺孔并抵顶于该基准件的测量体。5.如权利要求2所述的同轴度检测装置，其特征在于该测量件包括一可沿该滑槽滑动的滑块，该滑块沿水平方向开设一贯穿该滑块两相对端面的收容孔，该测量件的测量体呈圆柱状并可拆卸地装设于该收容孔内。6.如权利要求5所述的同轴度检测装置，其特征在于该滑块沿竖直方向设一贯穿该滑块的顶面且与该收容孔相连通的螺孔，一紧固螺丝旋入该螺孔并抵顶于该测量体。7.如权利要求4或6所述的同轴度检测装置，其特征在于该测量体的圆周面上沿轴向开设一可与该紧固螺丝相卡抵的卡槽。8.如权利要求2所述的同轴度检测装置，其特征在于该同轴度检测装置还包括一置于该滑槽内并固定于该基准件与测量件之间的限位件。9.如权利要求8所述的同轴度检测装置，其特征在于该限位件为一长方形的板体，该限位件的中部沿该限位件的长度方向开设一条形孔，该滑槽的底部开设若干螺孔，一紧固螺丝穿过该条形孔并旋入该滑槽对应的一螺孔内。10.如权利要求I所述的同轴度检测装置，其特征在于该检测部为一圆柱体，每一测量体设有一可定位该工件的检测部的穿插孔，该穿插孔的直径等于检测部的直径加上公差值。11.如权利要求I所述的同轴度检测装置，其特征在于该检测部为一圆形孔，每一测量体设有一可定位该工件的检测部的定位柱，该定位柱的直径等于检测部的直径减去公差值。全文摘要一种同轴度检测装置，用于检测工件的两检测部的同轴度，该检测装置包括一底座、一固定于该底座的基准件及一可相对该基准件滑动地设置于该底座的测量件，该基准件及该测量体分别包括一可定位该工件的检测部的测量体，该两测量体的中心线位于同一直线上并平行于该测量件的滑动方向，将该工件的一检测部定位于该基准件的测量体，相对该基准件滑动该测量件，如果该工件的另一检测部能定位于该测量件的测量体，则该工件合格，如果该工件的另一检测部不能定位于该测量件的测量体，则该工件不合格。文档编号G01B5/252GK102749020SQ201110099768公开日2012年10月24日 申请日期2011年4月21日 优先权日2011年4月21日专利技术者张秉君 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种同轴度检测装置，用于检测工件的两检测部的同轴度，该检测装置包括一底座、一固定于该底座的基准件及一可相对该基准件滑动地设置于该底座的测量件，该基准件及该测量体分别包括一可定位该工件的检测部的测量体，该两测量体的中心线位于同一直线上并平行于该测量件的滑动方向，将该工件的一检测部定位于该基准件的测量体，相对该基准件滑动该测量件，如果该工件的另一检测部能定位于该测量件的测量体，则该工件合格，如果该工件的另一检测部不能定位于该测量件的测量体，则该工件不合格。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张秉君，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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