电流源建立时间检测电路制造技术

本实用新型专利技术揭示了一种电流源建立时间检测电路，其主体为由PMOS的电流源P1、P2和NMOS的电流镜N1、N2组成的电流比较器，其中电流源和电流镜对应的共漏端相连，电流镜N1、N2共源接地，电流源P1、P2共栅极接偏置电压，且电流源P2的漏极为感应电位端。为保证感应电位端跳转至高电平，调节电流支路设有可动态调节IPad的PMOS管Pad。本实用新型专利技术技术方案的应用，通过检测感应电位端的低、高电平跳转，可以测量得到电流源在电源上电阶段的建立时间，为芯片安全运行的提供了参考依据及行之有效的保障。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电流源应用电路，尤其涉及一种用于电源上电至电流源稳定的建立时间检测电路。
技术介绍
电流源是普遍应用于各类功能电路中的一种具稳定输出的供源形式，在电源上电阶段电流源需要一段建立时间才能达到稳定。对于严苛应用的芯片而言，这段建立时间的电流不稳定可能导致芯片处于错误工作状态，影响芯片功能。因此，需要检测电路判断电流源的建立时间，避免芯片在这段时间因非正常工作而影响功能的风险。
技术实现思路
鉴于上述现有技术存在的缺陷，本技术的目的是提出一种电流源建立时间检 测电路，使芯片实现对其电流源建立过程的监视，保护芯片免处于错误工作状态。本技术目的的技术解决方案为电流源建立时间检测电路，其特征在于所述检测电路主体为由PMOS的电流源Pl、P2和NMOS的电流镜NI、N2组成的电流比较器，其中电流源和电流镜对应的共漏端相连，电流镜NI、N2共源接地，电流源P1、P2共栅极接偏置电压，且电流源P2的漏极为感应电位端。进一步地，所述检测电路在电流源P2并联一路用于提供调节电流Ipad、调节感应电位端跳转的电流源Pad，作为调节电流支路。更进一步地，所述调节电流支路设有动态调节Ipad的PMO本文档来自技高网...

【技术保护点】
电流源建立时间检测电路，其特征在于：所述检测电路主体为由PMOS的电流源P1、P2和NMOS的电流镜N1、N2组成的电流比较器，其中电流源和电流镜对应的共漏端相连，电流镜N1、N2共源接地，电流源P1、P2共栅极接偏置电压，且电流源P2的漏极为感应电位端。

【技术特征摘要】
1.电流源建立时间检测电路,其特征在于所述检测电路主体为由PMOS的电流源P1、P2和NMOS的电流镜N1、N2组成的电流比较器，其中电流源和电流镜对应的共漏端相连，电流镜N1、N2共源接地，电流源P1、P2共栅极接偏置电压，且电流源P2的漏极为感应电位端。2.如权利要求I所述的电流源建立时间检测电路，其特征在于所述检测电路在电流源P2并联一路用于提供调节电流Ipad、调节感应电位端...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘扬，牟陟，应峰，何德军，周之栩，
申请(专利权)人：苏州思瑞浦微电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：