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激光照射装置及微粒测量装置制造方法及图纸

技术编号:7808520 阅读:159 留言:0更新日期:2012-09-27 06:52
本发明专利技术公开了激光照射装置及微粒测量装置,该激光照射装置包括:激光光源;反射镜,用于将从激光光源输出的光的一部分反射并使剩余光穿过;光学检测器,用于检测被反射镜反射的反射光;以及反馈控制电路,用于接收从光学检测器输出的信号并将激光光源的输出控制为保持信号强度为恒定,其中,反射镜的厚度被设定为使得检测器上被反射镜前表面反射的反射光的束斑与检测器上被反射镜的后表面反射的反射光的束斑之间的距离等于或大于预定值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光照射装置以及微粒測量装置,更具体地,涉及从激光光源发出稳定强度的光的激光照射装置。
技术介绍
在现有技术中,使用这样的微粒测量装置,即,其中用光(激光光束)照射在细胞流量计中或形成于微芯片上的流路中流动的微粒;对从微粒散射的光、微粒本身发出的光或从标记在微粒上的荧光物质产生的荧光进行检测以测量微粒的光学特性。在微粒测量装置中,作为测量光学特性的结果,执行从微粒中分离回收被确定为满足预定条件的群体(群)。具体地,測量作为微粒的细胞的光学特性或执行满足预定条件的细胞群的分离回收 的装置被称为流式细胞仪或细胞分选仪。例如,在日本未审查专利申请公开第2007-46947号中,记载了“设置有发射波长彼此不同并且在预定周期内相位彼此不同的多种激发光的多个光源的流式细胞仪以及将多种激发光引导至相同入射路径以在染色的颗粒收集光的导光件”。该流式细胞仪包括多个光源,该多个光源发射波长彼此不同的多种激发光;导光件,用于将多种激发光导向至相同的入射路径并在染色的颗粒收集光;以及多个荧光检测器,用于检测通过用多种激发光激发颗粒所产生的荧光并输出荧光信号(在日本未审查专利申请公开第2007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
2011.03.22 JP 2011-0621291.ー种激光照射装置,包括 激光光源; 反射镜,用于将从所述激光光源输出的光的一部分反射并使剩余光穿过; 光学检测器,用于检测被所述反射镜反射的反射光;以及 反馈控制电路,用于接收从所述光学检测器输出的信号并控制所述激光光源的输出以保持信号強度恒定, 其中,所述反射镜的厚度被设定为使得所述检测器上被所述反射镜的前表面反射的反射光的束斑与所述检测器上被所述反射镜的后表面反射的反射光的束斑之间的距离等...

【专利技术属性】
技术研发人员:濑尾胜弘中钵秀弥
申请(专利权)人:索尼公司
类型:发明
国别省市:

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