一种直插式两脚半导体极性判断装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种直插式两脚半导体极性判断装置，包括：电源模块；频率控制模块；测试信号发生模块，所述测试信号发生模块与频率控制模块连接，用于输出一对极性相反的交替方波测试信号；测试模块，通过交替方波测试信号的电流经过测试点，输出测试方波脉冲信号；光耦模块，将测试方波脉冲信号转换成反向信号；用于放大反向信号的放大模块；逻辑处理模块，将放大后的反向信号逻辑处理成数字信号；非门电路模块，将数字信号反向放大输出驱动电流；以及控制模块，根据半导体的测试状态实现对半导体的控制。本发明专利技术在线高速测试中，能够准确识别半导体散料的状态，实现散料方向准确进入送料轨道，避免方向错误、短路以及开路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种半导体极性判断领域，尤其涉及一种直插式两脚半导体极性判断>J-U装直。
技术介绍
由于半导体散料的状态有正方向、反方向、短路以及开路，在线高速测试时，其状态难以判别，因此，传统插件机只能将各种不同卧式的半导体电子元器件编带料按编定的顺序程序插入PCB (电路板)，进而实现弯脚和切脚，而不能自动将散装的半导体电子元件插APCB ;即现有技术中，必须将散料用编带机编成52mm、间距5mm以及平行垂直度±0. 5mm 的编带料才能使用，从而导致生产效率低，人工成本高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是需要提供一种在线高速测试中，可以准确识别半导体散料的状态，实现散料方向准确进入送料轨道，避免方向错误、短路以及开路的直插式两脚半导体极性判断装置。对此，本专利技术提供一种直插式两脚半导体极性判断装置，包括 用于提供电量的电源模块； 频率控制模块，所述频率控制模块与电源模块连接； 测试信号发生模块，所述测试信号发生模块与频率控制模块连接，用于输出一对极性相反的交替方波测试信号； 测试模块，所述测试模块与测试信号发生模块连接，通过所述测试信号发生模块输出的交替方波测试信号的电流经过测试点，输出测试方波脉冲信号； 光耦模块，所述光耦模块与测试模块连接，将所述测试模块输出的测试方波脉冲信号转换成反向信号； 放大模块，所述放大模块与光耦模块连接，用于放大反向信号； 逻辑处理模块，所述逻辑处理模块与放大模块，将放大后的反向信号逻辑处理成数字信号; 非门电路模块，所述非门电路模块与逻辑处理模块连接，将数字信号反向放大输出驱动电流；以及 控制模块，所述控制模块与非门电路模块连接，根据半导体的测试状态实现对半导体的控制。其中，所述电源模块用于提供电源电量；所述频率控制模块采用频率控制器，用于控制所述测试信号发生模块的交替方波测试信号的频率；所述测试信号发生模块包括数字方波发生器，用于输出一对极性相反的交替方波测试信号，所述交替方波测试信号为交替输出的极性相反的方波测试信号；所述测试点为测试模块中对半导体进行测试的测试信号接入点；所述光耦模块优选为线性光耦，接收测试模块输出的测试方波脉冲信号，但是该测试方波脉冲信号较弱，因此需要经过放大模块进行反向放大，随后经过逻辑处理模块逻辑输出数字信号给非门电路模块；所述非门电路模块采用非门电路，优选为采用达林顿晶体管整列的非门电路实现电流驱动输出，进而输出电流信号并驱动控制模块；所述控制模块包括工控电脑或PLC，控制模块根据半导体的测试状态实现对半导体的控制，所述半导体的测试状态包括正方向、反方向、短路以及开路。所述控制模块根据半导体的测试状态实现对半导体的控制，即将正方向的半导体送入送料轨道；将反方向的半导体摆正方向后送入送料轨道，将反方向的半导体摆正方向可以采用逻辑控制换向装置；可以采用弃料装置将短路或开路的半导体输送至另外的通道进行丢弃或处理，所述弃料装置用于收集短路或开路半导体的装置。本专利技术在线高速测试中，可以准确识别半导体散料的状态，实现散料方向准确进入送料轨道，避免方向错误、短路以及开路。本专利技术的工作原理为半导体具有单向截止和单向导通的特性，基于其内部二极管的正向导通和反向截止，本专利技术所述测试信号发生模块输出一对极性相反的交替方波测试信号，该一对极性相反的交替方波测试信号包括正方向的方波测试信号和负方向的方波测试信号，即相当于通过2个不同的方向对测试模块的测试点分别输入方波测试信号，当正方向的方波测试信号导通，反方向的方波测试信号截止时，则说明该被测试的半导体为正方向；当正方向的方波测试信号截止，反方向的方波测试信号导通时，则说明该被测试的半导体为反方向；当正方向的方波测试信号导通，反方向的方波测试信号也导通时，则说明该被测试的半导体为短路；当正方向的方波测试信号截止，反方向的方波测试信号也截止时，则说明该被测试的半导体为正方向。而这一对极性相反的交替方波测试信号经过测试模块所输出的信号已经可以辨别出半导体的测试状态，在经过光耦模块实现电流隔离，降低环境的干扰进而转换成反向信号；由于光耦模块输出的反向信号较弱，无法驱动后续的模块，因为通过放大模块放大后输入至逻辑处理模块实现逻辑输出，逻辑处理模块输出关于半导体测试状态的数字信号经过非门电路的放大作用后，以电流驱动控制模块实现对半导体的控制。与现有技术相比，本专利技术的优点在于，在线高速测试中，能够准确识别半导体散料的状态，该状态为测试状态，包括有正方向、反方向、短路和开路，并将测试状态通过逻辑处理模块实现数字信号输出，接驳数字I/o板卡既可与工控电脑或PLC实现通信，通过逻辑控制换向装置及弃料装置实现散料半导体方向准确进入送料轨道，无错方向，无短路，无开路，适用于散料LED插件机送料未端的极性识别，本专利技术能够直接使用散料，如半导体散料和IED散料等，不需要编带，减少了中间环节，降低了机器及人工成本，节能减排。优选地，所述控制模块的工作原理为若半导体的测试状态为正方向，则控制模块控制半导体直接送入送料轨道；若半导体的测试状态为反方向，则控制模块通过逻辑控制换向装置控制半导体摆正方向后送入送料轨道；若半导体的测试状态为短路或开路，则控制模块通过弃料装置将短路或开路的半导体输送至另外的通道进行丢弃或处理。所述逻辑控制换向装置为通过逻辑控制实现的换向装置，所述弃料装置用于收集短路或开路半导体的装置。本专利技术在线高速测试中，可以准确识别半导体散料的状态，实现散料方向准确进入送料轨道，避免方向错误、短路以及开路。本专利技术的进一步改进在于，所述频率控制模块控制交替方波测试信号的频率与逻辑处理模块的响应频率相匹配。其中，所述交替方波测试信号的频率取决于逻辑处理模块的响应频率，如果交替方波测试信号的频率太低，容易产生延迟；如果交替方波测试信号的频率太高，逻辑处理模块的相应速率跟不上，则会照成信号的丢失，甚至有可能使得半导体的测试状态出错，因此，通过所述频率控制模块控制交替方波测试信号的频率与逻辑处理模块的响应频率相匹配，能够使得测试信号不产生延迟，防止丢失数据，保证测试状态的准确性，并提高半导体极性测试和散料测试的效率。本专利技术的进一步改进在于，所述逻辑处理模块为单片机。采用单片机对放大后的反向信号进行逻辑处理，处理速度快，控制简单易操作。 本专利技术的进一步改进在于，所述测试信号发生模块包括单稳态触发器、多谐振荡器和数字方波发生器。所述单稳态触发器在外加脉冲的作用下，单稳态触发器可以从一个稳定状态翻转到一个暂稳态，而在暂稳态维持一段时间又回到原来的稳态；所述多谐振荡器通过阻容耦合使两个电子器件交替导通与截止，从而自激产生方波输出，所述测试信号发生模块包括单稳态触发器、多谐振荡器和数字方波发生器，保证了一对极性相反的交替方波测试信号的输出，信号稳定，促进对半导体测试状态的快速、准确判断。本专利技术的进一步改进在于，所述测试模块还包括用于显示测试状态的指示灯单元，所述交替方波测试信号的电流经过指示灯插针测试点。优选地，所述指示灯单元采用LED。本专利技术的优点在于，在线高速测试中，能够准确识别半导体散料的状态，实现散料方向准确进入送料轨道，避免方向错误、短路以及开路，在此基础上，所述交替方波测试信号的电流经过指示灯插针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直插式两脚半导体极性判断装置，其特征在于，包括 用于提供电量的电源模块； 频率控制模块，所述频率控制模块与电源模块连接； 测试信号发生模块，所述测试信号发生模块与频率控制模块连接，用于输出一对极性相反的交替方波测试信号； 测试模块，所述测试模块与测试信号发生模块连接，通过所述测试信号发生模块输出的交替方波测试信号的电流经过测试点，输出测试方波脉冲信号； 光耦模块，所述光耦模块与测试模块连接，将所述测试模块输出的测试方波脉冲信号转换成反向信号； 放大模块，所述放大模块与光耦模块连接，用于放大反向信号； 逻辑处理模块，所述逻辑处理模块与放大模块，将放大后的反向信号逻辑处理成数字信号; 非门电路模块，所述非门电路模块与逻辑处理模块连接，将数字信号反向放大输出驱动电流；以及 控制模块，所述控制模块与非门电路模块连接，并根据半导体的测试状态实现对半导体的控制。2.根据权利要求I所述的直插式两脚半导体极性判断装置，其特征在于，所述频率控制模块控制交替方波测试信号的频率与逻辑处理模块的响应频率相匹配。3.根据权利要求2所述的直插式两脚...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨娅，姜敏，刘鑫，张维伦，刘丽梅，
申请(专利权)人：深圳市连硕设备技术有限公司，
类型：发明
国别省市：