一种重力冲击可靠性测试方法技术

本发明专利技术提供了一种适用于电子产品的重力冲击可靠性测试方法，该方法包括首先对被测产品设置一个初始冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度，然后逐次增大加速度量并进行重力冲击测试，每次测试结束后判断当前被测产品的功能是否出现异常，通过测试结果来获得被测产品的实时操作极限、可操作极限、操作破坏界限、非包装破坏界限和包装产品破坏界限。本发明专利技术提供的重力冲击可靠性测试方法，可以使设计人员在各种重力冲击测试条件下获得电子产品在各种重力冲击条件下被测产品可靠性的缺陷，从而可以进行优化设计，提高电子产品的可靠性。本发明专利技术提供的重力冲击可靠性测试方法，还具有测试周期短，测试效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子产品的可靠性测试方法，特别涉及ー种重力冲击可靠性测试方法。
技术介绍
随着科学技术的发展和电子产品的广泛应用，可靠性已经成为衡量电子产品质量的主要指标之一，所谓可靠性是指产品在规定的条件和时间内，完成规定功能的能力。根据业界的分析，60%以上的生产故障是由于器件失效引起的，70%以上的市场返修也是因为器件失效引起的。大多数公司对此却没有采用相应的可靠性测试方法来进行异常检测，导致流入市场的产品质量可靠性不高。因此，在电子产品的研制阶段，电子产品的 生产企业需要非常重视电子产品的可靠性，在最短的时间内了解电子产品在不同条件下的性能缺陷，找出薄弱环节，以便采取相应措施以提高电子产品的可靠性水平。但是电子产品的性能缺陷在较短的时间不易呈现，通常需要较长时间的验证才能得出失效結果。现有技术中，虽然也有相关的可靠性测试的方法，如温度可靠性测试，但是温度测试的一个测试周期一般需要以天计，所以需要的测试时间太长，而且只能模拟在不同温度下的使用场景，因此具有局限性。因此，寻找一种在极短时间内验证产品可靠性的方法，便成了当务之急。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术公开了ー种重力本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤 Al.设置冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度； A2.将上述冲击响应脉冲宽度作为当前冲击响应脉冲宽度，初始冲击加速度作为当前冲击加速度对电子产品进行重力冲击测试； A3.在完成所述重力冲击测试后，判断所述电子产品的功能是否出现异常；如果是，则进入步骤A5，如果否，则进入步骤A4 ； A4.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A3 ； A5.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的极限条件。2.如权利要求I所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，当所述电子产品为已开机产品时，进一歩包括如下步骤 A6.对功能出现异常的电子产品不进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A7，如果否，则进入步骤AS ； A7.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A6 ； AS.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的可操作测试的极限。3.如权利要求2所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在干，进ー步包括如下步骤 A9.对功能出现异常的电子产品进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A10，如果否，则进入步骤Al I ； AlO...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭俊华，邢小兵，刘超锋，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：