【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像数据的多部分对准本专利技术一般地涉及成像领域并且更具体地涉及对准成像数据的多个体积部分以消除伪影且同时维持几何形状准确性。本申请的主题具体应用于基于X射线的成像系统,特别是计算机断层摄影(CT)成像系统,并将具体參考该系统进行描述。然而,它也可以结合其他成像系统使用,例如结合单光子发射计算机断层摄影(SPECT)或正电子发射断层摄影(PET)成像系统。根据本专利技术的ー个方面,提供了一种对准成像数据的多个体积部分的方法。该方 法包括选择主体积部分和与主体积成像部分相邻的次体积部分,以便将次体积部分移动到与主体积部分对准。然后确定ー个或多个z轴对准參数及x、y轴參数,以便使次体积部分的位置移位以使次体积部分与主体积部分对准。还提供了一种用于执行该方法的相关装置。存在许多可用的体积数据对准算法,每种算法适用于特定的应用。在一种应用中,本专利技术的方法可以结合组合式SPECT/CT或PET/CT成像系统的CT部件使用,从而使得最终的CT图像坐标系与用于SPECT/CT或PET/CT配准的CT坐标相一致。然后最終的CT图像可以容易地与SPECT或PET成像数据配准,以生成定位和衰减校正系数。在本专利技术的另ー个有益应用中,成像数据的体积部分的对准可以与成像数据采集同时期进行,从而減少生成最终图像所选的总体时间量并且有效地使用计算和存储资源。此外,本专利技术是稳健的并且即使被成像的人或对象在成像采集过程中在成像台上移动位置,也能够给出准确的結果。本领域普通技术人员在阅读优选实施例的以下详细描述后将容易想到许多额外的优点和益处。本专利技术可以体现为各种部件和部件的布 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2009.12.18 US 61/287,9221.一种对准成像数据的多个体积部分(304)的方法(300),其包括以下步骤 选择主体积部分和与所述主体积成像部分相邻的次体积部分,以便将所述次体积部分移动到与所述主体积部分对准; 确定ー个或多个z轴对准參数(310),以便在z轴方向使所述次体积部分的位置移位以沿所述z轴方向使所述次体积部分与所述主体积部分对准; 确定ー个或多个x、y轴对准參数(314),以便沿X轴方向和y轴方向使所述次体积部分的位置移位以沿所述X轴方向和所述y轴方向使所述次体积部分与所述主体积部分对准; 应用(316)所述ー个或多个z轴參数(310)和所述ー个或多个X、y轴參数(314)来使所述次体积部分的位置移位以使其与所述第一体积部分对准。2.如权利要求I所述的方法,其中,所述主体积部分和所述次体积部分两者的位置均 能够在对准过程中移动。3.如权利要求I所述的方法,其中,所述次体积部分的位置能够在对准过程中移动,而所述主体积部分的位置在对准过程中固定。4.如权利要求I所述的方法,其中,存在从所述z轴的第一端处的第一体积部分S1到所述z轴的与所述第一端相反的第二端处的最后体积部分Ss以连续顺序沿所述z轴方向对准的S个体积部分(304),且S等于或大于3,所述方法还包括 首先使所述第一体积部分S1与第二体积部分S2对准,然后使所述第二体积部分S2与第三体积部分S3对准,并且在沿所述z轴方向的单方向传播中继续将相邻的部分对准在一起,直到每个成像部分S都已经被与其相邻的成像部分对准。5.如权利要求I所述的方法,其中,存在从所述z轴的第一端处的第一体积部分S1到所述z轴的与所述第一端相反的第二端处的最后体积部分Ss以连续顺序沿所述z轴方向对准的S个体积部分(304),且S等于或大于3,所述方法还包括 选择在所述第一体积部分S1与所述最后体积部分Ss之间的初始体积部分,并且在沿所述z轴朝向所述第一端的第一方向上使所述初始体积部分和与所述初始体积部分相邻的另一体积部分对准,并且继续相继地对准在所述第一方向上行进的相邻的体积部分,直到所述第一体积部分S1被对准; 然后在沿所述z轴朝向所述第二端的第二方向上使所述初始体积部分和与所述初始体积部分相邻的另一体积部分对准,并且继续相继地对准在所述第二方向上行进的相邻的体积部分,直到所述最后体积部分Ss被对准。6.如权利要求4或5所述的方法,还包括使用双线性内插方法。7.如权利要求I所述的方法,其中,确定ー个或多个z轴对准參数包括在所述主体积部分中选择主成像切片,使得所述主成像切片垂直于z轴,并且其中,所述次体积部分包括垂直于所述Z轴的多个次成像切片,所述方法还包括 将所述多个次成像切片中的每ー个与所述主成像切片相比较,以估计所述多个次成像切片中的哪ー个与所述主成像切片最佳匹配。8.如权利要求I所述的方法,其中,确定ー个或多个x、y轴对准參数(314)包括定义位移矢量,该位移矢量具有对应于沿所述X轴方向的线性平移位移的第一值、对应于沿所述I轴方向的线性平移位移的第二值以及对应于绕所述z轴的旋转位移的第三值。9.如权利要求8所述的方法,其中,确定ー个或多个x、y轴对准參数(314)还包括定义取决于所述位移矢量的误差函数,并且基于所述位移矢量的变化估计所述误差函数的最大值或最小值,以确定被用于使所述次体积部分的位置移位以使其与所述主体积部分对准的所述第一值、所述第二值和所述第三值。10.如权利要求9所述的方法,其中,所述误差函数还取决于圆形掩模函数。11.如权利要求9所述的方法,其中,利用最小二乗法或单纯形法或者最小二乗法与单纯形法的组合来确定所述最大值或最小值。12.一种用于对准成像数据的多个体积部分(304)的成像、处理和显示系统(120),所述系统包括逻辑以便 选择主体...
【专利技术属性】
技术研发人员:S·X·旺,T·劳伦斯,D·索厄德斯埃梅德,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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