本发明专利技术公开了一种撑胎装置及使用该撑胎装置的坯胎夹持检测装置，包括撑胎本体和半径调节机构，所述半径调节机构安装在撑胎本体上。本发明专利技术可以很方便地将待检测的轮胎坯胎夹持，便于轮胎胎坯的X射线检测，且保证了检测精度。该装置夹持效率高，经济实用，适合大范围推广。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及的是ー种轮胎检测夹持用的撑胎装置及其检测装置，尤其涉及的是ー种撑胎装置及使用该撑胎装置的坯胎夹持检测装置。
技术介绍
目前，在轮胎生产过程中，国内外主要是利用X射线检测设备对成品轮胎进行检测，即采用X射线检测设备对硫化后的轮胎进行断层、气泡、钢丝断裂、钢丝分布不均等缺陷检測。由于坯胎经硫化处理后，如果检测出缺陷，则该轮胎只能作废品处理，轮胎上的橡胶材料也不能回收利用，这不仅影响了生产效率，占用了后续生产资源，而且造成了大量浪费。因此，在硫化エ艺前对轮胎进行X射线检测，让缺陷发现在硫化前，具有重要的意义。这样，有缺陷的坯胎上的橡胶就可以回收利用，且节省了硫化工艺的费用。如图I所示为待检测的轮胎坯胎2自由状态结构示意图，图2为轮胎坯胎2处于检测理想状态结构示意图。坯胎与成品轮胎相比，在进行X射线检测时，因为坯胎的子ロ如图I所示向内弯曲，无法达到图2所示的理想状态，这就导致坯胎的X射线成像图存在重叠，进而造成缺陷判别困难，甚至无法判別。另外坯胎2的子ロ检测时易损坏，检测时尽量避免对子ロ的损伤。为解决这ー问题，有的轮胎检测设备生产商采用“利用内胎将坯胎撑开，然后再进行检测的方法”对坯胎进行检测，但是，这种方法存在内胎充气、放气时间长，生产效率低下的严重缺点。因为“利用内胎将坯胎撑开，然后再进行检测的方法”存在生产效率低下的严重缺点，而又没有其他更好的坯胎检测方法，所以，多数轮胎生产厂家仅进行成品轮胎X射线检测，而没有进行坯胎X射线检测，这也就造成了如前所述的浪费后续生产能力、浪费能源与原材料的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种撑胎装置及使用该撑胎装置的坯胎夹持检测装置，通过对撑胎装置的半径和转动进行调节，实现了对坯胎的有效支撑和检测。本专利技术是通过以下技术方案实现的，本专利技术包括撑胎本体和半径调节机构，所述半径调节机构安装在撑胎本体上。所述撑胎装置还包括曲轴转动机构，曲轴转动机构安装在撑胎本体上，所述半径调节机构和曲轴转动机构相连。所述撑胎本体包括回转支承外圈和回转支承内圈，所述回转支承外圈通过滚珠设 置在回转支承内圈的外国。所述半径调节机构包括内齿轮、第一齿轮、连接套、第三齿轮、第四齿轮、第一电机、同步带、同步带轮、转轴、曲轴；内齿轮位于回转支承内圈之下，第一齿轮和第四齿轮分别与内齿轮啮合，第四齿轮和转轴相连，转轴穿过回转支承内圈和同步带轮相连，第一电机固定在第三齿轮上，同步带分别连接第一电机和同步带轮，第三齿轮设置于回转支承内圈之上，曲轴有多个，多个曲轴分别通过连接套设置于回转支承内圈之下，第一齿轮的数目和曲轴匹配，第一齿轮连接在曲轴的顶端。所述连接套为中空结构，连接套内设有螺栓，通过螺栓分别连接第三齿轮、回转支承内圈和曲轴。所述曲轴的底端设有撑爪，所述撑爪为T型。T型结构可以实现对坯胎的支撑。第一电机通过同步带轮、同步带、转轴使第四齿轮转动，第四齿轮通过内齿轮带动第一齿轮转动，从而带动与第一齿轮相连接的曲轴转动，使多个曲轴下端设置的撑爪同步运动，进而使撑爪组成的圆形的直径大小作相应的改变。利用第一电机可以调整撑爪所在的圆形直径，使之适配坯胎子ロ直径。所述撑爪为中空结构，所述撑爪由尼龙制成。选用对X射线穿透率影响小的材料如尼龙制成撑爪，以减少对成像效果的影响，为进一歩降低撑爪对X射线穿透率的影响，撑爪采用中空设计。·所述曲轴转动机构包括第二齿轮和第二电机；第二电机固定在回转支承外圈上，第二齿轮和第三齿轮啮合，第二齿轮和第二电机相连。第二电机与第二齿轮连接，第二电机带动第三齿轮旋转，以带动回转支承内圈转动，从而带动坯胎做回转运动。ー种使用上述撑胎装置的坯胎夹持检测装置，包括夹持平台、定中机构、成像板、滑块、导轨、射线源；撑胎装置包括上下两个，上撑胎装置的撑爪支撑在被测坯胎的上子ロ内，下撑胎装置的撑爪支撑在被测坯胎的下子ロ内，滑块分别安装在上撑胎装置和下撑胎装置的回转支承外圈上，滑块活动设置于导轨内，导轨设置在夹持平台上；多个定中机构分别设置于夹持平台上，定中机构共同夹持被测坯胎；多个定中机构的中心、夹持平台、上撑胎装置和下撑胎装置的中心线重合；射线源活动设置于上撑胎装置和下撑胎装置之间，射线源的射线发射方向上设有成像板。所述定中机构包括支撑杆和底座，支撑杆夹持被测坯胎，支撑杆的底部和底座形成导轨滑块机构，底座固定在夹持平台上。本专利技术相比现有技术具有以下优点本专利技术可以很方便地将待检测的轮胎坯胎夹持，便于轮胎胎坯的X射线检测，且保证了检测精度。该装置夹持效率高，经济实用，适合大范围推广。附图说明图I是待检测的轮胎胎坯自由状态结构示意图；图2是轮胎胎坯处于检测理想状态结构示意图；图3是本专利技术所述轮胎检测夹持装置处于工作状态的结构示意图；图4是本专利技术所述轮胎检测夹持装置中的撑胎装置结构示意图；图5是图4撑胎装置中曲轴工作半径调整的原理结构示意图；图6是图4中撑胎装置转动结构示意图；图7是图4中曲轴主视图8是图7中曲轴俯视图。具体实施例方式下面对本专利技术的实施例作详细说明，本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。如图3所示，本实施例的坯胎夹持检测装置，包括撑胎装置I、夹持平台4、定中机构5、成像板6、滑块7、导轨8、射线源9 ;撑胎装置I包括上下两个，上撑胎装置的撑爪119支撑在被测坯胎2的上子ロ内，下撑胎装置的撑爪119支撑在被测坯胎2的下子ロ内，滑块 7分别安装在上撑胎装置和下撑胎装置的回转支承外圈101上，滑块7活动设置于导轨8内，导轨8固定在夹持平台4上，定中机构5设置于夹持平台4上，定中机构5夹持被测坯胎2，定中机构5、夹持平台4、上撑胎装置和下撑胎装置的中心线重合，射线源9设置于上撑胎装置和下撑胎装置之间，射线源9的射线发射方向上设有成像板6 ;射线源9在被测坯胎2内可以上下和水平移动，保证探测全面准确。定中机构5有四个，每个定中机构5包括支撑杆501和底座502，四个支撑杆501共同夹持支撑被测坯胎2，支撑杆501的底部和底座502形成导轨滑块机构，底座502固定在夹持平台4上。下撑胎装置的结构与上撑胎装置相同，但是，因为在检测过程中，X射线管需要进行水平移动，所以将上撑胎装置根据实际需要进行了尺寸放大，以加大内孔直径。下面以上撑胎装置为例，说明撑胎装置I的结构及工作原理。如图4、图5和图6所示，撑胎装置I包括撑胎本体、半径调节机构和曲轴转动机构，半径调节机构和曲轴转动机构分别安装撑胎本体上，半径调节机构和曲轴转动机构相连。所述撑胎本体包括回转支承外圈101和回转支承内圈102，所述回转支承外圈101通过滚珠103设置在回转支承内圈102的外国。所述半径调节机构包括内齿轮105、第一齿轮107、连接套106、第三齿轮104、第四齿轮108、第一电机109、第一电机座110、同步带111、同步带轮112、转轴113、曲轴座117、曲轴118 ;内齿轮105位于回转支承内圈102之下，第一齿轮107和第四齿轮108分别与内齿轮105啮合，第四齿轮108和转轴113相连，转轴113穿过回转支承内圈102和同步带轮112相连,第一电机109固定在第一电机座110内，第一电机109通过本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：田明，林茂先，江东，韩久焰，奚正山，刘全忠，
申请(专利权)人：合肥美亚光电技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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