一种O型橡胶圈内径检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种O型橡胶圈内径检测装置，包括测量芯轴、调平套筒、托盘和百分表，其中调平套筒套于测量芯轴外侧，位于砝码托盘下，百分表位于托盘上，测量芯轴的外侧上部为锥面，下部为圆柱面，锥面与圆柱面同轴。通过调平套筒调节，托盘对待测O型橡胶圈的压紧，该装置结构原理简单，操作方便，检测稳定可靠，解决了原O型橡胶圈内径测量操作不便和检测精度不高的问题，能满足精密级O型橡胶圈内径检测要求。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置，尤其是一种O型橡胶圈内径检测装置。
技术介绍
在现有
中，O型橡胶圈内径的检测方法很多，其中包括“卡尺检测，塞规检测，锥体检测，光学仪器检测”等。由于O型橡胶圈的硫化变形和受外力作用易变形，所以用卡尺和塞规检测O型橡胶圈内径，误差较大，只能满足低精度等级的O型橡胶圈的内径检测要求。若O型橡胶圈内径的变形较小(一般以内径圆度不大于内径公差的0.1倍)，则用光学仪器检测能满足精密级O型橡胶圈的内径检测要求，但是光学仪器的价格昂贵，并且受O型橡胶圈变形的影响很大。对于现有的锥体检测方法，从专利文献资料和O型橡胶圈专业生产厂家获悉，现有的锥体检测装置存在一些不足，应用较少。如专利号为ZL200520043554. 6的锥体检测装置，该装置工作原理是将O型橡胶圈装在锥体上，在锥体小端用螺纹连接一个导流罩，导流罩与锥体小端之间有均匀缝隙，压力气流从缝隙中流出，气流施加压力于O型橡胶圈上，使O型橡胶圈紧贴锥体，用量具测出O型橡胶圈位于锥体高度方向的位置，根据相关几何关系计算出O型橡胶圈的内径尺寸。该装置存在的不足1、操作不方便，每测一个O型橡胶圈都必须将小端的导流罩卸下和装上，若O型圈较大时，操作更不方便。2、施加在O型橡胶圈上的气压不可控，主要反应在O型橡胶圈离导流罩的距离和缝隙流出的气压。3、O型橡胶圈与锥体的垂直度不可控，会造成检测误差。4、检测O型橡胶圈位于锥体高度方向的位置误差较大，主要反映在O型橡胶圈与锥体的垂直度问题以及高度测量工具本身的误差。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术在于提供一种结构原理简单，操作方便，检测稳定可靠，能满足精密级O型橡胶圈内径检测要求的内径检测装置。本专利技术所说的O型橡胶圈内径检测装置，包括测量芯轴、调平套筒、托盘和百分表，其中调平套筒套于测量芯轴外侧，位于托盘，百分表位于托盘上，测量芯轴的外侧上部为锥面，下部为圆柱面，锥面与圆柱面同轴。托盘具有放置砝码的法兰盘，顶部具有凸台，百分表位于凸台上。调平套筒的内孔与测量芯轴的圆柱面间隙配合，调平套筒的两端面与其自身的内孔轴线垂直。本专利技术通过调平套筒对待检测O型橡胶圈调整其对于锥面的相对位置，通过托盘加砝码的方法对O型橡胶圈施加铅垂压力，使其紧贴于锥面。用百分表测量此时凸台顶面至测量芯轴底面的距离，则可以通过几何关系计算出O型橡胶圈的内径。本专利技术的有益效果为(I)采用锥体，可以消除O型橡胶圈的变形，将O型橡胶圈的内径检测转化为O型橡胶圈所在锥面的位置检测，由锥度来放大公差范围。(2)利用调平套筒调平O型橡胶圈，减小检测误差。(3)用砝码给O型橡胶圈施加压力，消除O型橡胶圈、与测量芯轴锥面间的间隙，并且保证压力可控。(4)采用百分表检测O型橡胶圈位于侧脸芯轴锥面的位置，精度较高，使用方便。解决了现有检测方法操作不便，精度不高的问题。附图说明图I为本专利技术的装置组成结构图；其中，I为测量芯轴、2为调平套筒、3为托盘、4为百分表、5为砝码、6为O型橡胶圈。具体实施方式以下通过实例形式，对本方案的内容作进一步详细说明，但不应就此理解为本方案所述主题的范围仅限于以下的实施例，在不脱离本方案上述技术思想情况下，凡根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种修改、替换和变更，均包括在本方案的范围内。图I是本专利技术的装置组成结构图，其中，调平套筒2套于测量芯轴I外侧，位于托盘3下，百分表4位于托盘3上，测量芯轴的外侧上部为锥面，下部为圆柱面，锥面与圆柱面同轴。托盘3具有放置砝码5的法兰盘，顶部具有凸台，百分表4位于凸台上。调平套筒2的内孔与测量芯轴I的圆柱面间隙配合，调平套筒2的两端面与其自身的内孔轴线垂直。测量时，将O型橡胶圈6装在测量芯轴I的圆锥面上，将托盘3装在O型橡胶圈6 上，将砝码5装在托盘3上，向上移动调平套筒2，推动O型橡胶圈6离开锥面一定距离，再缓缓下移调平套筒2，直至O型橡胶圈6贴上测量芯轴I的锥面，将百分表4的表头置于托盘3的凸台上，测出托盘3的凸台顶面到测量芯轴I底面的距离，根据相关几何关系计算出O型橡胶圈6的内径值。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种O型橡胶圈内径检测装置，包括测量芯轴(I)、调平套筒(2)、托盘(3)和百分表(4)，其中调平套筒(2)套于测量芯轴(I)外侧，位于托盘(3)下，百分表(4)位于托盘(3)上，其特征在于测量芯轴(I)的外侧上部为锥面，下部为圆柱面，锥面与圆柱面同轴。2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪义周，王远，潘秀，
申请(专利权)人：贵州航天控制技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：