等离子切割系统用割炬高度测试系统技术方案

技术编号:7688540 阅读:224 留言:0更新日期:2012-08-16 23:25
本实用新型专利技术公开了一种等离子切割系统用割炬高度测试系统,该割炬高度测试系统装配在调高系统、等离子系统与数控系统之间。数控系统与调高系统之间的连接状态通过相应继电器来控制,调高系统与等离子系统之间的连接状态通过相应继电器来控制,在非切割时段,通过对继电器的转换触点动作的控制,使得调高系统完成等离子启动、割炬升降定位、回位等过程,从而确定出割炬的最佳切割高度,完成对待切割的工件最佳切割高度的测试,使割炬可按照最佳切割高度对待切割的工件进行后续的切割作业,提高了切割质量,延长了工件寿命,减少了割炬损坏程度,提高了系统的切割效率。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应用于等离子切割系统中的割炬高度测试系统,属于等离子数控切割控制领域。技术背景目前,等离子切割系统一般包括数控系统、调高系统和等离子系统。当待切割的工件置于切割平台上后,调高系统根据该工件的引弧高度等参数自动调整割炬到一个设定切割高度,然后由数控系统控制等离子系统中的等离子割炬进行切割作业。但是,工件在实际切割过程中会发生变形或其他情况,因此,在整个切割过程中都使用预先设定的固定切割高度来对工件进行切割的话,便无法达到理想的切割效果,切割出的工件质量差,易损,使用寿命短。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种等离子切割系统用割炬高度测试系统,在非切割时段,该系统可及时确定割炬的最佳切割位置,从而实现高质量的切割,延长切割后工件的使用寿命。为了实现上述目的,本技术采用了以下技术方案一种等离子切割系统用割炬高度测试系统,其特征在于它包括自复位按钮、第一至第七继电器、等离子启动完成控制单元和割炬回位控制单元,其中该第五继电器的线圈的一端分两路,一路经由第五继电器的第一常开触点连接高压电源,另一路经由自复位按钮连接该高压电源,该第五继电器的线圈的另一端经由第七继电器的第二常闭触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴瑞云
申请(专利权)人:北京吴喜动态科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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