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本实用新型公开了一种等离子切割系统用割炬高度测试系统，该割炬高度测试系统装配在调高系统、等离子系统与数控系统之间。数控系统与调高系统之间的连接状态通过相应继电器来控制，调高系统与等离子系统之间的连接状态通过相应继电器来控制，在非切割时段，通...
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