本发明专利技术所提供的等离子显示器用玻璃基板检测系统包括：发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。由于所述玻璃基板有锡面和无锡面对检测信号的反射率不同，所以可以根据采集的检测信号的强度区分有锡面和无锡面，从而区分出所述玻璃基板的有锡面和无锡面。因此，所述检测系统可以简单快速的检测所述玻璃基板，区分其有锡面和无锡面，避免了由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的电极红化现象，从而提高了PDP进行电极烧制时的成品率，降低了生产成本。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉等离子显示器制作エ艺
，更具体地说，涉及。
技术介绍
等离子显示器F1DP (Plasma Display Panel)以视角广、薄型、图像无畸变、响应速度快、寿命长、高发光效率、高亮度、存储功能、不易受电磁干扰、易制作大尺寸屏幕等优点成为继显像管 CRT (Cathod Ray Tube)、液晶显示器 IXD (Liquid Crystal Display)之后的新一代显示器，且属于主动发光器件，其可以与CRT —祥色彩丰富，却比CRT更适用于大屏幕显示，同时在显示效果方面又大大优于LCD，成为实现高清晰度大屏幕显示的佼佼者。PDP的主要载体是特制的玻璃基板，所述玻璃基板的反面通过浮法制备有ー层锡膜。其有锡面和无锡面在外观上没有区别，所以很难直观通过观察判断来区分两个表面。所述玻璃基板在进行电极烧制エ艺时如果有锡面和无锡面放置错误将会发生电极红化现象，造成制作的失败。当前在进行PDP生产时并没有有效的方法或装置用于检测玻璃基板的有锡面和无锡面，所以开发研制一种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供，该检测装置能够快速检测区分等离子显示器用玻璃基板的有锡面和无锡面，从而提高了成品率、降低了生产成本。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射后检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。优选的，上述系统中，所述发射装置为紫外线发射器。优选的，上述系统中，所述接收装置为紫外线接收器。优选的，上述系统中，所述处理装置为可数字显示的光电转换器，用以将采集的反射后的检测信号转换为与之对应的电信号以表征所述反射后的检测信号的強度。优选的，上述系统中，所述系统还包括与所述光电转换器连接的处理器，所述处理器通过将所述光电转换器将表征所述反射后的检测信号的强度电信号与其存储的标准值比较自动区分所述玻璃基板的有锡面、和无锡面。本专利技术还提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测方法，该方法包括向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；采集经过所述待检测面反射后的检测信号；根据采集的反射信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。优选的，上述方法中，所述检测信号为紫外信号。从上述技术方案可以看出，本专利技术所提供的等离子显示器用玻璃基板检测系统包 括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。本专利技术所述检测系统在对待测玻璃基板进行检测时，由发射装置发射一定強度的检测信号，经过所述待检测面反射后被所述接收装置采集，由于所述玻璃基板有锡面和无锡面对检测信号的反射率不同，即反射后检测信号的強度不同，所以处理装置可以根据所述接收装置采集的检测信号的强度判断所述待检测面为有锡面还是无锡面，从而区分出所述玻璃基板的有锡面和无锡面。因此，所述检测系统可以简单快速的检测所述玻璃基板，区分其有锡面和无锡面，避免了由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的电极红化现象，从而提高了 PDP进行电极烧制时的成品率，降低了生产成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本专利技术实施例所述等离子显示器用玻璃基板检测系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例所述等离子显示器用玻璃基板检测方法的方法流程示意图。具体实施例方式正如
技术介绍
部分所述，等离子显示器用玻璃基板的有锡面和无锡面在外观上没有区别，所以很难直观通过观察判断来区分两个表面。当前在进行PDP生产时并没有有效的方法或装置用于检测玻璃基板的有锡面和无锡面，所以开发研制一种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。而通过在所述玻璃基板上做标记虽然可便于分辨所述基板有锡面和无锡面，但是要保证所述基板生产成本、表面的整洁等，该方法的实现增加玻璃基板生产エ艺，降低生产效率，从而增加玻璃基板的使用成本。所以，现有PDP技术在进行PDP生产时一般不采用上述做标记的方法，而只通过简单的生产管理，即将浮法制造后的玻璃基板进行统ー的摆放，如将有锡面统一朝上放置或统一朝下放置。但是，一方面，由于操作问题，并不能保证所有基板都按照管理方法正确摆放；另ー方面，浮法生产的玻璃基板客户使用阶段的品质检验后也不能保证检验后的玻璃基板的按照管理方法正确摆放。在对玻璃基板进行电极烧制吋，如果所述玻璃基板的有锡面和无锡面摆放不正确将会导致电极红化现象，从而导致制作失败，且此时的玻璃基板已经不能在进行返修处理，只能报废，导致成品率不高，且浪费了玻璃基板，造成生产成本过高。所以，开发研制ー种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产中提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。专利技术人研究发现，等离子显示器用玻璃基板其有锡面和无锡面两个表面对光线的反射率是不同的。即当一定強度的光线入射后，由于有锡面和无锡面的反射率不同，接收到的反射后的光线的强度值不同。所以，利用一定強度的光检测线号入射其中ー个表面(待检测面)，然后根据反射后的光检测信号的強度判断所述待检测面是有锡面还是无锡面。基于上述研究，本专利技术提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。本专利技术所述等离子显示器用玻璃基板检测系统通过一个发射装置发射检测信号，然后通过接收装置采集经过所述待检测玻璃基板表面反射后的检测信号，处理装置根据采集的反射后的检测信号強度判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。如上述所述玻璃基板的有锡面和无锡面的反射率是不同的，一定強度的检测信号入射后，两个表面反射的检测信号的強度是两个不同的定值，对于一定型号的玻璃基板，根据反射后的检测信号的强度便可区分待检测玻璃基板的有锡面和无锡面，即如所述待检测面反射后的信号的強度与该待检测玻璃基板理论反射強度相符，则所述待检测面为有锡面，否则，则所述待检测面为无锡面。可见，所述检测系统实现简单，能够快速区分待检测玻璃基板的有锡面和无锡面，避免了 PDP生产时由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的生产失败，提高了成品率；同时降低了玻璃基板由于制作失败的消耗，降低了生产成本；且所述系统实现简单，检测成本较低。本专利技术还提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测方法，该方法包括向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；采集经过所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵之明，
申请(专利权)人：安徽鑫昊等离子显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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