外圈斜面滚道相对基准端面夹角偏差的检测方法技术

技术编号:7618218 阅读:224 留言:0更新日期:2012-07-28 19:11
本发明专利技术提供了一种外圈斜面滚道相对基准端面夹角偏差的检测方法,该检测方法主要用于内径<300㎜的外圈,外圈的内端面上具有45°斜面滚道,通过正弦规(4)和块规(5)的设置能形成一个辅助支撑端面,辅助支撑端面使外圈(3)斜面滚道相对水平检测台形成平行关系,此时水平检测台就作为基准端面,在基准端面上配置千分表(2)和磁力表架(1),通过移动磁力表架检测出外圈斜面滚道相对基准端面的夹角偏差,所测出的偏差再与Δα′进行比较,可以判断该外圈的斜面滚道是否符合CSBTSTC98-13-1997标准要求,解决了肉眼比对检测时的不准确问题,提高了检测效率,节约了检测成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于轴承测量
,特别涉及到一种。
技术介绍
有些交叉圆柱滚子轴承外圈如图I所示,该交叉圆柱滚子轴承外圈呈对称两半状,在每半外圈的内端面上具有45°斜面滚道,两半外圈紧固后形成V形滚道,V形滚道上配置一圈交叉圆柱滚子。每半外圈斜面滚道的角度偏差要求很高,因此它直接影响到交叉圆柱滚子轴承的制造精度和使用寿命。根据CSBTS TC98-13-1997标准规定,需要检测外圈滚道与基准端面夹角的偏差, 该偏差由符号Λ α '表示,基准端面是人为设定的,基准端面必须与外圈滚道相平行,通常的检测方式如下I、用万能角度尺或角度样板通过肉眼比对来检测外圈斜面滚道与基准端面夹角的偏差。由于肉眼比对检测很不准确,很容易因人为因素而影响检测结果的准确性,且检测效率很低。2、用轮廓仪等高精度仪器来检测外圈斜面滚道与基准端面夹角的偏差。通常情况下轮廓仪等高精度仪器是不存放在加工现场的,而且轮廓仪比较贵重、 搬动起来很不方便,需要将加工好的外圈搬至轮廓仪存放处来检测其斜面滚道与基准端面夹角的偏差,但由于外圈是整批加工的,整批搬动比较麻烦,增加了检测成本。截至目前还没有检测外圈斜面滚道与基准端面夹角的偏差的人工方法。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供了一种,该检测方法通过正弦规和块规的设置能形成一个辅助支撑端面,辅助支撑端面使外圈斜面滚道相对水平检测台形成平行关系,此时水平检测台就作为基准端面,在基准端面上配置千分表和磁力表架,通过移动磁力表架检测出外圈斜面滚道相对基准端面的夹角偏差,所测出的偏差再与Λ α,进行比较,可以判断该外圈的斜面滚道是否符合CSBTS TC98-13-1997标准要求,本专利技术的检测方法主要用于内径< 300 mm的外圈,解决了肉眼比对检测时的不准确问题,提高了检测效率,节约了检测成本。为实现上述专利技术目的,本专利技术采用如下技术方案一种,该外圈为交叉圆柱滚子轴承外圈中对称的一半外圈,该外圈的内端面上具有45°斜面滚道,该外圈的内径< 300IM1,通过正弦规和块规的设置能形成一个辅助支撑端面,辅助支撑端面使外圈斜面滚道相对水平检测台形成平行关系,此时水平检测台就作为基准端面,在基准端面上配置千分表和磁力表架,通过千分表和磁力表架测出该外圈斜面滚道相对所述基准端面夹角偏差的检测值,再将该检测值与CSBTS TC98-13-1997标准中的Λ α丨进行比较,所述Λ α丨是外圈滚道与基准端面夹角的偏差,依此判断该外圈的斜面滚道是否符合CSBTS TC98-13-1997标准要求。本专利技术的检测方法如下设定正弦规两支点间的长度为L,则块规的支撑高度X= L sin45°,将块规支撑在正弦规其中一个支点的下方,使正弦规的上平面与水平检测台呈45°夹角,此时正弦规的上平面就构成了辅助支撑端面,将加工完毕的外圈放在所述辅助支撑端面并使其得到固定,外圈的一斜面滚道相对所述水平检测台产生了相互平行,将所述水平检测台作为基准端面, 在所述一斜面滚道旁的所述基准端面上放置一磁力表架并在磁力表架的伸出端固定好千分表,将千分表的测头对准所述一斜面滚道的内端或是外端,并将千分表的偏转表针调整到O位,然后轻轻拉动磁力表架沿所述基准端面从右至左或是从左至右,到达所述一斜面滚道的外端或是内端为止,拉动过程中千分表的所述偏转表针始终指向所述一斜面滚道, 并记录出数个所述偏转表针的偏转值,从数个所述偏转值中挑出最大值和最小值,该最大值与最小值之差就是所述一斜面滚道的检测值,将所述检测值与外圈对应的Λα'进行比较,就能判断出所述一斜面滚道的角度偏差是否符合CSBTS TC98-13-1997标准要求, 对符合CSBTS TC98-13-1997标准要求的外圈做出标记,当两个对称的外圈均符合CSBTS TC98-13-1997标准要求才能进行配对使用。由于采用如上所述技术方案,本专利技术产生如下积极效果I、本专利技术的检测方法适用于内径< 300 IM的交叉圆柱滚子轴承外圈。2、本专利技术的检测方法特别适用于机加工生产现场,解决了肉眼比对检测时的不准确问题,提高了检测效率,节约了检测成本。3、本专利技术的检测方法一次调整好正弦规和块规后,就能重复快速的检测整批外圈的滚道角度偏差,减少了人为因素的影响,检测效率得到明显提高。4、本专利技术的正弦规和块规制作简单,使用方便。附图说明图I是对称的两半外圈呈V形滚道的示意简图2是本专利技术检测一半外圈的方法示意简图2中1-磁力表架;2_千分表;3-外圈;4_正弦规;5_块规。具体实施例方式本专利技术是一种,该外圈为交叉圆柱滚子轴承外圈中对称的一半外圈,为叙述方便将所述一半外圈简称为外圈,下文所称外圈均指所述一半外圈,本专利技术的检测方法适用于内径< 300 mm的交叉圆柱滚子轴承外圈,因为内径< 300 mm的交叉圆柱滚子轴承外圈能人工搬动到辅助支撑端面上,可以加快检测速度。结合图1,如型号为CRB11012的交叉圆柱滚子轴承外圈,其外形尺寸为内径X 外径X宽度=Φ 125 X Φ 135 X 12mm,该外圈的斜面滚道在CSBTS TC98-13-1997标准中对应的Λ α ' =±0. 002mm,该外圈的内端面上具有45°斜面滚道,只有当两个对称的外圈检出的夹角偏差值均符合CSBTS TC98-13-1997标准要求才能进行配对使用。本专利技术检测方法的基本原理大致如下通过正弦规和块规的设置能形成一个辅助支撑端面,辅助支撑端面使外圈斜面滚道相对水平检测台形成平行关系,此时水平检测台就作为基准端面,在基准端面上配置千分表和磁力表架,通过千分表和磁力表架测出该外圈斜面滚道相对所述基准端面夹角偏差的检测值,再将该检测值与CSBTS TC98-13-1997标准中的Λ α '进行比较,所述Λ α '是外圈滚道与基准端面夹角的偏差,依此判断该外圈的斜面滚道是否符合CSBTS TC98-13-1997标准要求。结合图2,本专利技术的检测方法如下设定正弦规4两支点间的长度为L,则块规5的支撑高度X= L sin45°,将块规5支撑在正弦规4其中一个支点的下方,使正弦规4的上平面与水平检测台呈45°夹角,此时正弦规4的上平面就构成了辅助支撑端面,将加工完毕的外圈3放在所述辅助支撑端面并使其得到固定,固定外圈3的方式有多种,考虑到外圈3自带有联接孔,通过该联接孔并通过螺栓可将外圈3固定在所述辅助支撑端面上,也可在所述辅助支撑端面上设置卡槽用于固定外圈3,这对本领域是显而易见的,不再赘述。外圈3的一斜面滚道相对所述水平检测台产生了相互平行关系,将所述水平检测台作为基准端面,在所述一斜面滚道旁的所述基准端面上放置一磁力表架I并在磁力表架I的伸出端固定好千分表2,将千分表2的测头对准所述一斜面滚道的内端或是外端,并将千分表2的偏转表针调整到O位,然后轻轻拉动磁力表架I沿所述基准端面从右至左或是从左至右,到达所述一斜面滚道的外端或是内端为止,拉动过程中千分表2的所述偏转表针始终指向所述一斜面滚道,并记录出数个所述偏转表针的偏转值,从数个所述偏转值中挑出最大值和最小值,该最大值与最小值之差就是所述一斜面滚道的检测值,所述检测值=±0. 0019mm,将所述检测值与外圈对应的Λ α丨=±O. 002mm进行比较,由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王玉国李立张亚辉宋吉祥杨俊生魏闯
申请(专利权)人:洛阳轴承研究所有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术