一种快闪存储器的数据保持特性判定方法技术

本发明专利技术公开了存储器设计技术领域中的一种快闪存储器的数据保持特性判定方法。该方法包括：对快闪存储器的存储单元施加读取电压，获得读取电流；通过积分器电路对所述读取电流进行积分，从而获得与所述读取电流大小成正比的输出电压；监控所述输出电压，确定输出电压和时间的关系；根据输出电压与存储单元电荷丢失量的关系，推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。本发明专利技术能够测量快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系，提高了快闪存储器的数据保持特性的判定准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于存储器设计
，尤其涉及。
技术介绍
快闪存储器有着广泛的应用，比如照相机、MP3等便携式电子设备。衡量快闪存储器好坏的一个重要设计指标是数据保持特性(Retention)，即要求所存储的数据能够保存 10年以上。快闪存储器基于电荷存储原理实现数据的存储，所存储的电荷经过较长的时间后会逐渐丢失，从而导致数据出错，在特定情况下导致数据不能保存10年以上。测量快闪存储器的数据保持特性一般是通过高温加速试验来加速所存储电荷的丢失速度，当电荷的丢失量超过一定的范围后，所存储的数据就会发生1到0的转变，通过检测所存储的数据是否发生改变，进而推导出数据是否能够保存10年以上。判断数据是否发生改变的电路就是如图1所示的快闪存储器的常用读取电路，对存储单元MO施加一定的读取电压Vwl，通过灵敏放大器判断存储单元MO的电流和参考电流Iref大小，进而在输出端Do输出数据0或者 1。通过对整个存储阵列中的所有存储单元进行测试，就能得到整个存储器芯片的数据保持特性。这种方法能够得到经过多长时间的加速试验后所保存的数据会发生改变，但不能直观且不能精确测量电荷的丢失量和时间的关系。而在军事、银行等对可靠性要求非常高的应用中，需要严格测定快闪存储器的数据保持特性，精确测量电荷的丢失量和时间的关系。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供，用以精确测量快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系。为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案是，，在高温加速过程中检测快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系，其特征是所述方法包括步骤1 对快闪存储器的存储单元施加读取电压，获得读取电流；步骤2 通过积分器电路对所述读取电流进行积分，从而获得与所述读取电流大小成正比的输出电压；步骤3 监控所述输出电压，确定输出电压和时间的关系；步骤4:根据输出电压与存储单元电荷丢失量的关系，推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。所述积分器电路采用电容反馈互导放大器。本专利技术能够测量快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系，提高了快闪存储器的数据保持特性的判定准确性。附图说明图1是快闪存储器常用的读取电路示意图2是本专利技术提供的快闪存储器的数据保持特性判定方法流程图3是本专利技术提出的快闪存储器读取电路示意图。具体实施方式下面结合附图，对优选实施例作详细说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，而不是为了限制本专利技术的范围及其应用。图2是快闪存储器的数据保持特性判定方法流程图。本专利技术提供的快闪存储器的数据保持特性判定方法是在高温加速试验的整个过程中，通过对存储单元施加一定的读取电压，利用积分器电路对存储单元的读取电流进行积分，输出和读取电流大小成正比的电压值，实时对该电压值进行监控，进而推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。图2中， 快闪存储器的数据保持特性判定方法包括步骤1 对快闪存储器的存储单元MO施加读取电压Vwl，获得读取电流。由于各厂家研制的存储器不同，因此施加的读取电压也不尽相同。可以根据各厂家存储器的特点施加相应的读取电压。步骤2 通过积分器电路对所述读取电流进行积分，从而获得与所述读取电流大小成正比的输出电压V。。积分器电路采用电容反馈互导放大器(Capacitor feedback TransImpedance Amplifier, CTIA)结构。积分器电路是一个通用的电路模块，具备使输出电压和读取电流大小成正比的特点。读取电流和输出电压之间关系可以通过公式V。= IXt/C表示，其中 V0为输出电压，I为读取电流，C为积分电容，t为积分时间，积分时间一般是微秒或者毫秒量级的。步骤3:监控所述输出电压V。，确定输出电压V。和时间t'的关系。随着时间t'的推移，如果存储单元有电荷丢失，那么输出电压V。就会发生变化， 由此可以确定输出电压V。和时间t'的关系。步骤4 根据输出电压V。与存储单元电荷丢失量的关系，推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。由于存储单元电荷丢失会导致存储单元阈值电压降低，进一步使读取电流增大， 最终会导致输出电压增大，这就使得输出电压V。和电荷丢失量之间的存在一定的关系。根据输出电压V。与存储单元电荷丢失量之间的关系，结合上一步确定的输出电压V。和时间 t ‘的关系，可以推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。依照该方法，通过对整个存储阵列中的所有存储单元进行同样的测试，就能得到整个存储器芯片的直观的精确的数据保持特性。以上所述，仅为本专利技术较佳的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此， 任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换， 都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。权利要求1.，在高温加速过程中检测快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系，其特征是所述方法包括步骤1 对快闪存储器的存储单元施加读取电压，获得读取电流； 步骤2 通过积分器电路对所述读取电流进行积分，从而获得与所述读取电流大小成正比的输出电压；步骤3 监控所述输出电压，确定输出电压和时间的关系；步骤4:根据输出电压与存储单元电荷丢失量的关系，推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。2.根据权利要求1所述的方法，其特征是所述积分器电路采用电容反馈互导放大器。全文摘要本专利技术公开了存储器设计
中的。该方法包括对快闪存储器的存储单元施加读取电压，获得读取电流；通过积分器电路对所述读取电流进行积分，从而获得与所述读取电流大小成正比的输出电压；监控所述输出电压，确定输出电压和时间的关系；根据输出电压与存储单元电荷丢失量的关系，推算出存储单元电荷丢失量和时间的关系。本专利技术能够测量快闪存储器存储单元的电荷丢失量和时间的关系，提高了快闪存储器的数据保持特性的判定准确性。文档编号G11C29/00GK102568599SQ20121002786公开日2012年7月11日 申请日期2012年2月9日 优先权日2012年2月9日专利技术者伍冬, 潘立阳 申请人:清华大学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：伍冬，潘立阳，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：