电荷平板监视器制造技术

一种电荷平板监视器，即使是在因液晶显示器基板等的除电对象物的大型化而离子产生器成为长尺寸的情况下，也能够通过一台电荷平板监视器来评价离子产生器的性能。在通过测定平板来检测由离子产生器生成的正负的离子，并评价离子产生器的除电性能和正负的离子的离子平衡性能的电荷平板监视器中，并且也是将用于测定预先施加了规定电压的测定平板的电位通过所述离子而衰减至规定值为止的衰减时间的功能以及基于测定平板的电位来测定离子平衡的功能包含在一台测定器主体(100)中而构成的电荷平板监视器中，包括与作为评价对象的离子产生器(300)的长度对应的台数的测定平板(201、202、203)，将这些测定平板并联或者串联连接到测定器主体。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于测定离子产生器的除电性能和离子平衡性能(正负离子的平衡的维持性能)来评价离子产生器的性能的电荷平板监视器。
技术介绍
图14表示以往的电荷平板监视器的概略性的结构。在同图中，CPM’是电荷平板监视器，100A是测定器主体，IOlA是由液晶显示器等构成的显示部，200A是连接到测定器主体100A的测定平板，300是作为评价对象的杆结构的离子产生器(4才t 4廿)，301是向离子产生器300的长度方向配置了多个的射极(放电电极)。在测定器主体100A中，内置了高电压源、表面电位计、电场计、定时器等。此外，测定平板200A成为例如将一边为150的导电性平板隔着10 15的间隔对准了两张的结构，整体具有大约20 的静电电容。测定器主体100A主要具有测定测定平板200A的表面电位的功能，通过以下叙述的方法，测定离子产生器的除电性能和离子平衡性能。为了通过该电荷平板监视器来测定离子产生器300的除电性能，从测定器主体100A的高压电源对测定平板200A例如施加+1000或_1000的高电压，从而使其带电，并将由离子产生器300的射极301生成的离子击中测定平板200A。在这个状态下，由测定器主体100A测定测定平板200A的电位由负离子中和而从+1000 衰减至+100 所需的时间或者由正离子中和而从-1000衰减至-100所需的时间。这些时间越短，则离子产生器300的离子产生量或者产生率越高，能够评价为除电性能越高。另外，对于测定平板200A的施加电压存在士 1000 士5000的范围内的各种类型。这里，将进行上述测定动作的模式称为衰减测定模式。此外，为了测定离子平衡性能，通过将测定平板200A接地而将其电位设为0，并将由离子产生器300生成的正负的离子击中测定平板200A。此时，若离子产生器300生成的正离子量和负离子量相等，则测定平板200A的电位在0附近稳定，所以通过测定器主体100A来测定该电位的大小和极性，从而能够评价离子产生器的离子平衡性能。这里，将进行上述测定动作的模式称为离子平衡测定模式。此外，近年来，作为离子产生器的除电对象物的液晶显示器用基板或等离子显示器用基板逐渐成为大型化，伴随于此，杆结构的离子产生器的长度也逐渐加长。在通过电荷平板监视器来对这样长尺寸的离子产生器的性能进行试验的情况下，从图14也可知，需要根据沿着离子产生器300的全长而配置的多个射极301，将一台电荷平板监视器CPM’的位置在离子产生器300的长度方向上相对移动而依次测定。因此，存在为了评价一台离子产生器的性能而花费较多工夫和时间的问题。相对于此，为了一次就能完成长尺寸的离子产生器300的测定，排列多台电荷平板监视器CPM’进行测定即可，但由于一般电荷平板监视器CPM’是高价的，所以花费较多成本。另外，在专利文献1中，公开了如下的离子平衡监视器，将测定平板分割为多个段，在对这些各个段的隔一个段分别施加正、负的偏置电压的状态下，测定离子产生器的生成离子的离子平衡和正负的离子产生率。专利文献专利文献1日本特表2008-519260号公报(段 段、图1 图3等)在专利文献1记载的以往技术中，通过将测定平板分割为多个段而施加规定的偏置电压，从而能够同时测定离子平衡和离子产生率，但并不能解决如上所述那样伴随着离子产生器的长度化所引起的操作的繁杂和测定时间的长期化。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的课题在于，提供一种电荷平板监视器(charge platemonitor)，其即使是在因除电对象物的大型化而离子产生器成为长尺寸，也能够通过一台电荷平板监视器来高效地评价离子产生器的性能。为了解决上述课题，技术方案1的专利技术是一种电荷平板监视器，是在通过测定平板来检测由离子产生器生成的正负的离子，并评价所述离子产生器的除电性能和正负的离子的离子平衡性能的电荷平板监视器，并且也是将用于测定预先施加了规定电压的所述测定平板的电位通过所述离子而衰减至规定值为止的衰减时间的功能以及基于所述测定平板的电位来测定离子平衡的功能包含在一台测定器主体中而构成的电荷平板监视器，与作为评价对象的所述离子产生器的长度对应而包括多台所述测定平板，将这些测定平板并联或者串联连接到所述测定器主体。技术方案2的专利技术在技术方案1中记载的电荷平板监视器中，所述测定器主体包括显示部，分别显示多台所述测定平板中的所述衰减时间和离子平衡的测定结果。技术方案3的专利技术在技术方案1或2中记载的电荷平板监视器中，对多台所述测定平板分别设定地址，所述测定器主体根据所述地址来处理各个测定平板的测定数据。根据本专利技术，通过对一台测定器主体并联或者串联必要台数的测定平板，从而能够使用一台电荷平板监视器来评价长尺寸的离子产生器的除电性能和离子平衡性能，能够在短时间且低成本地实现离子产生器的性能评价。此外，若与离子产生器的长度对应地变更连接到测定器主体的测定平板的台数，则还能够应用于长度不同的各种离子产生器中。附图说明图1是本专利技术的第1实施方式的概略性的结构图。图2是本专利技术的第2实施方式的概略性的结构图。图3是本专利技术的第3实施方式的概略性的结构图。图4是本专利技术的第4实施方式的概略性的结构图。图5(a) (b)是第1实施方式的详细的结构图。图6(a) (b)是第2实施方式的详细的结构图。图7(a) (b)是第4实施方式的详细的结构图。图8是本专利技术的实施方式的使用状态的说明图。图9是本专利技术的实施方式的使用状态的说明图。图10是表示本专利技术的实施方式的测定结果的显示例的图。图11是表示本专利技术的实施方式的测定结果的显示例的图。图12是表示本专利技术的实施方式的测定结果的显示例的图。图13是表示本专利技术的实施方式的测定结果的显示例的图。图14是表示以往的电荷平板监视器的概略性的结构的图。标号说明100、150 测定器主体101 显示部102a :CPU102b:平板控制电路102c:A/D 变换电路102d 红外线单元102e 输入部102f:显示电路102g 传感器部102h 无线处理电路102 天线201、202、203 测定平板201A、201C 平板控制部20IB 平板主体201a:控制电路201b:正电压产生电路201c:负电压产生电路201d:传感器驱动电路20 Ie 静电传感器20 If 存储器20 Ig:无线处理电路201h 天线300:离子产生器301 射极G 基板具体实施例方式以下，沿着附图说明本专利技术的实施方式。首先，本专利技术的电荷平板监视器由一台测定器主体和多台测定平板构成。图1 图3是通过有线连接了测定器主体和多台测定平板的实施方式的概略性的结构图。图1的第1实施方式是对一台测定器主体100并联连接了多台(例如3台)测定平板201、202、203的例子，图2的第2实施方式是对一台测定器主体100串联连接了多台测定平板201、202、203的例子，图3的第3实施方式是对一台测定器主体100并联连接了例如3个将多台测定平板201、202、203串联连接的电路的例子。此外，图4的第4实施方式是对一台测定器主体100并联连接例如3个将多台测定平板201、202、203串联连接的电路后接地，并在与测定器主体100之间通过无线连接了各个串联电路的例子。另外，在图1和图2所示的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：德永哲也，
申请(专利权)人：修谷鲁电子机器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：