一种电路板总成测试装置，用以测试具有连接器的电路板总成。测试装置包括机座、至少一推进器与至少一测试头。电路板总成固定于机座上，而推进器位于机座旁。测试头连接推进器，并受推进器的驱动而作第一移动或第二移动。第一移动使测试头连接连接器，而第二移动使测试头远离电路板总成。第一移动的方向与第二移动的方向相反。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
电路板总成测试装置
本技术是有关于一种电性测试的设备，且特别是关于一种用来测试电路板总成的装置。
技术介绍
按电路板总成实质上是一种已装设(mounted)芯片(chip)或被动组件(例如电容、电阻与电感)等电子组件的电路板，而通常这些电路板总成皆具有连接器(connector) 与外界信号或数据进行传输，特别是计算机内的主机板，其具有多种连接器，用以与不同规格协议的接口进行传输，例如通用序列总线(Universal Serial Bus，USB)插槽或序列先进技术附接(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)插槽。为了确保出厂后传输质量的稳定性，一般电路板总成于制造端完成后，皆会由测试机台通过连接这些连接器进行性能测试。在传统的测试过程中，工作人员会先用手将测试机台的接头与待测试的电路板总成的连接器连接后，再启动测试机台会进行测试工作。 然而，上述纯粹由人工操作的电路板总成测试方法往往需要花费相当的时间与人力，而且容易发生错误操作的情形。例如，接头不是插在电路板总成上的正确位置，或是因施力不当而造成连接器损伤。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种电路板总成测试装置，其能减少人力成本以及缩短电路板总成的测试时间，并且减少发生错误操作的情形。本技术提出一种电路板总成测试装置，其用以测试一电路板总成。电路板总成具有至少一连接器，而测试装置包括一机座、至少一推进器以及至少一测试头。机座具有一承载面，而电路板总成固定于承载面上。推进器位于机座旁，而测试头连接推进器，并受推进器的驱动而移动。测试头相对推进器所作之一第一移动使测试头连接连接器，而测试头相对推进器所作之一第二移动使测试头远离电路板总成，其中第一移动的方向与第二移动的方向相反。在本技术一实施例中，上述推进器包括一动力产生器以及一推杆。动力产生器固定于机座旁，而推杆连接于测试头与动力产生器之间，其中推杆受到动力产生器的驱动而相对于动力产生器移动。在本技术一实施例中，上述动力产生器选自一气压驱动器、一液压驱动器以及一马达所组成的群组其中之一。在本技术一实施例中，上述机座包括一对定位器与一底座。底座具有承载面， 而这些定位器装设于底座，并用于夹住电路板总成。在本技术一实施例中，上述电路板总成测试装置更包括一平台与至少一开关，其中机座、推进器与开关配置于平台上，而开关电性连接推进器。在本技术一实施例中，上述开关与推进器皆位于机座的一侧。在本技术一实施例中，上述推进器的数量、测试头的数量与开关的数量皆为多个。这些测试头分别连接这些推进器，而机座位在这些测试头之间。在本技术一实施例中，上述测试头选自一电源接头、一总线线接头以及一串行端接头所组成的群组其中之一。在本技术一实施例中，上述电路板总成测试装置更包括一辨识器，辨识器位于机座旁，其中电路板总成位于辨识器所发出的一电磁波信号的行进路径上。在本技术一实施例中，上述辨识器为一条形码扫描机或一射频辨识读取器。在本技术一实施例中，上述电路板总成测试装置更包括一计算机主机，计算机主机电性连接辨识器与测试头。在本技术一实施例中，上述计算机主机系电性连接推进器，而于辨识器检测电路板总成位于辨识器所发出的一电磁波信号的行进路径上时，由计算机主机驱动推进器而移动测试头。在本技术一实施例中，上述电路板总成测试装置更包括一显示器，显示器电性连接计算机主机。综上所述，本技术的电路板总成测试装置利用推进器来使测试头连接电路板总成。相较于习知用手连接测试机台的接头与电路板总成的方式，本技术可以减少测试电路板总成时所需要的人力成本，并且缩短测试电路板总成的时间。此外，本技术还能减少发生错误操作的情形。为让本技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本技术的较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。附图说明图IA为根据本技术一实施例的电路板总成测试装置的俯视示意图。图IB为图IA中电路板总成测试装置的侧视示意图。图IC是图IA中推进器与测试头的侧视示意图。图ID是图IA中电路板总成测试装置的立体示意图。图2是图IA中电路板总成测试装置在测试头连接连接器之后的俯视示意图。图3为根据本技术另一实施例的电路板总成测试装置的俯视示意图。主要组件符号说明1、2 电路板总成测试装置8、9:电路板总成10,20 平台12 计算机主机14:显示器100 机座102 承载面104 定位器106 底座110 辨识器120 推进器122 动力产生器126 测试头128 推杆130:开关D1、D2:方向Fl 第一移动Bl 第二移动具体实施方式为了充分了解本技术，于下文将例举较佳实施例并配合附图作详细说明，然以下实施例并非用以限定本技术。图IA为根据本技术一实施例的电路板总成测试装置的俯视示意图，而图ID 是图IA中电路板总成测试装置的立体示意图。请参阅图IA与图1D，电路板总成测试装置 1能测试一电路板总成9，而电路板总成9具有一连接器91，并可以是应用于电路接口设备的电路板总成或计算机主机板，其中电路接口设备例如是光驱或外接式硬盘，而连接器91 可为总线线插槽(bus socket)、电源插槽或串行端插槽(series port socket)。电路板总成测试装置1包括一平台10、一机座100、一辨识器110、一测试头126以及一推进器120，其中机座100、辨识器110与推进器120皆配置于平台10上，而辨识器110 与推进器120皆位于机座100旁。测试头1 可以连接连接器91，因而可以是选自电源接头、总线线接头(bus plug)以及串行端接头所组成的群组其中之一，其中此总线线接头例如是通用序列总线接头(Universal Serial Bus Plug, USB Plug)或序列先进技术附件接头(Serial Advanced Technology Attachment Plug, SATA Plug)。图IB为图IA中电路板总成测试装置的侧视示意图，其中图IB是从图IA中的方向Dl观看电路板总成测试装置1所绘制而成。请参阅图1A、图IB与图1D，机座100具有一用于承载电路板总成9的承载面102，并能固定电路板总成9。详细而言，机座100包括一对定位器104与底座106，而底座106具有承载面102，所以电路板总成9可置放在底座 106上。定位器104装设于底座106，并且能夹住电路板总成9，以使电路板总成9固定在承载面102上。图IC是图IA中推进器与测试头的侧视示意图，而图2是图IA中电路板总成测试装置在测试头连接连接器之后的俯视示意图，其中图IC是从图IA中的方向D2观看所绘制而成。请参阅图1A、图1C、图ID与图2，推进器120连接测试头126，而测试头126能受推进器120的驱动而相对于推进器120作第一移动Fl或第二移动Bi，其中第一移动Fl的方向与第二移动Bl的方向相反，如图IA与图IC所示。当测试电路板总成9时，定位器104会先固定电路板总成9在底座106上。接着， 测试头1 会对准连接器91。之后，测试头1 受推进器120的驱动而作第一移动F1，以使本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：何长柱，
申请(专利权)人：泰金宝电子苏州有限公司，泰金宝电通股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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