本实用新型专利技术公开了一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架和测试构件，该支架由底座、立柱和夹具组成，该立柱安装在底座上，该测试构件通过夹具设置在立柱上，测试构件上设置有两个以上的凹槽，该凹槽的槽底设置有至少两个的插引孔，本实用新型专利技术提高了测试部分的强度，保证了测试结果的准确性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，特指一种电器元件弓I线的抗拉测试装置。
技术介绍
目前，对电器元件的引线进行的抗拉强度测试，一般是在PCB板上将电器元件的引线插入孔中，分别在引线上挂规定的砝码，从而确定是否满足标准要求；然而，使用的 PCB板的厚度仅为1. 2mm 1. 5mm，板体容易变形折损，且通过此类PCB板测试电器元件时， 插置在PCB板上的电器元件本体容易转动，当砝码挂设在引线上后的作用力和砝码本身的反作用力不在同一直线上时，电器元件的本体容易发生折弯，从而影响测试效果。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中的不足之处而提供一种电器元件引线的抗拉测试装置，该测试装置增加了测试部分的强度，保证了测试结果的准确性。为实现上述目的，本技术采用如下的技术方案一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架和测试构件，该支架由底座、立柱和夹具组成，该立柱安装在底座上，该测试构件通过夹具设置在立柱上，所述的测试构件上设置有两个以上的凹槽，该凹槽的槽底设置有至少两个的插引孔。所述的插引孔为一由凹槽的槽底与测试构件的底面垂直贯穿的通孔，该插引孔每两个成一孔组，该两引线孔的间距与待测电器元件的引线间距相配合。所述的插引孔的孔径1. 2 1. 5mm，每孔组中的两插引孔的间距为5 10mm。所述的凹槽的槽宽为4 8mm，该凹槽的槽深为8 10mm。所述的测试构件的厚度为12 15mm。所述的测试构件上设置有三个凹槽，各该凹槽的槽底中部设置有两个插引孔，该测试构件的厚度为12mm，各该凹槽的槽宽为4mm，各该凹槽的槽深为8mm，在第一凹槽中的两插引孔的间距为5mm，在第二凹槽中的两插引孔的间距为7. 5mm，在第三凹槽中的两插引孔的间距为10mm，各该插引孔的孔径为1. 2mm。本技术的有益效果在于测试构件厚度的增加，提高了测试部分的强度，在测试构件上的凹槽设计，通过凹槽两侧对被测电器元件的状态加以限制，保证了其不会因测试砝码的作用力与元件引线的反作用力不在同一直线上而使得本体折弯，保证了测试结果的准确性。附图说明图1是本技术的立体结构图。图2是本技术的侧视图。图3是本技术测试构件的俯视图。附图标号说明1.支架；11.底座； 12.立柱； 13.夹具；2.测试构件；21.凹槽； 22.插引孔。具体实施方式以下结合说明书附图对本技术作进一步说明具体实施例1 如图1-3所示，本技术关于一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架1 和测试构件2，该支架1由底座11、立柱12和夹具13组成，该立柱12安装在底座11上，该测试构件2通过夹具13设置在立柱12上，测试构件2上设置有两个以上的凹槽21，该凹槽 21的槽底设置有至少两个的插引孔22。如图2所示，插引孔22为一由凹槽21的槽底与测试构件2的底面垂直贯穿的通孔，该插引孔22每两个成一孔组，该两引线孔的间距与待测电器元件的引线间距相配合。如图3所示，插引孔22的孔径1. 2 1. 5mm,每孔组中的两插引孔22的间距为5 IOmm0如图2-3所示，凹槽21的槽宽为4 8mm，该凹槽21的槽深为8 10mm。如图2所示，测试构件2的厚度为12 15mm。具体实施例2 如图2-3所示，本技术所揭示的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其测试构件2上设置有三个凹槽21，各该凹槽21的槽底中部设置有两个插引孔22，该测试构件2 的厚度为12mm，各该凹槽21的槽宽为4mm，各该凹槽21的槽深为8mm，在第一凹槽21中的两插引孔22的间距为5mm，在第二凹槽21中的两插引孔22的间距为7. 5mm，在第三凹槽21 中的两插引孔22的间距为10mm，各该插引孔22的孔径为1. 2mm，本实施例中未解释的技术特征，采用具体实施例1中的解释，在此不再进行赘述。以上所述仅是对本技术的较佳实施例，并非对本技术的范围进行限定， 故在不脱离本技术设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本技术所述的构造、特征及原理所做的等效变化或装饰，均应落入本技术申请专利的保护范围内。权利要求1.一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架和测试构件，该支架由底座、立柱和夹具组成，该立柱安装在底座上，该测试构件通过夹具设置在立柱上，其特征在于所述的测试构件上设置有两个以上的凹槽，该凹槽的槽底设置有至少两个的插引孔。2.根据权利要求1所述的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其特征在于所述的插引孔为一由凹槽的槽底与测试构件的底面垂直贯穿的通孔，该插引孔每两个成一孔组，该两引线孔的间距与待测电器元件的引线间距相配合。3.根据权利要求2所述的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其特征在于所述的插引孔的孔径1. 2 1. 5mm，每孔组中的两插引孔的间距为5 10mm。4.根据权利要求1所述的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其特征在于所述的凹槽的槽宽为4 8mm，该凹槽的槽深为8 10mm。5.根据权利要求1所述的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其特征在于所述的测试构件的厚度为12 15mm。6.根据权利要求1所述的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其特征在于所述的测试构件上设置有三个凹槽，各该凹槽的槽底中部设置有两个插引孔，该测试构件的厚度为 12mm，各该凹槽的槽宽为4mm，各该凹槽的槽深为8mm，在第一凹槽中的两插引孔的间距为 5mm，在第二凹槽中的两插引孔的间距为7. 5mm，在第三凹槽中的两插引孔的间距为10mm， 各该插引孔的孔径为1.2mm。专利摘要本技术公开了一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架和测试构件，该支架由底座、立柱和夹具组成，该立柱安装在底座上，该测试构件通过夹具设置在立柱上，测试构件上设置有两个以上的凹槽，该凹槽的槽底设置有至少两个的插引孔，本技术提高了测试部分的强度，保证了测试结果的准确性。文档编号G01N3/14GK202305343SQ20112041642公开日2012年7月4日 申请日期2011年10月27日 优先权日2011年10月27日专利技术者朱沛隽, 郭海根 申请人:广东南方宏明电子科技股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郭海根，朱沛隽，
申请(专利权)人：广东南方宏明电子科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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