RFID设备测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种RFID设备测试方法及系统，其中，该系统包括：信号生成装置，用于根据预定规则生成测试信号；数模转换装置，用于将测试信号转换为中频模拟信号；信号收发装置，用于将中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自射频标签的响应信号；模数转换装置，用于将响应信号转换为中频数字信号；性能检测装置，用于根据中频数字信号检测射频标签的性能。通过本发明专利技术，可以提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频识别
，具体地，涉及一种RFID设备测试方法及系统。技术背景射频识别(RFID)是一种低功耗的短程无线通信技术，RFID系统的组成至少包括电子标签和读写器两个部分。其中，电子标签中存储了已定义格式的数据，在实际应用中， 电子标签附着在待识别物体的表面；读写器可以无接触的读取并识别电子标签中所保存的数据，通过计算机及网络实现对物体识别信息的采集、处理及远程传送等管理功能。RFID系统是实现自动识别与数据采集功能的有机整体，对RFID系统的检测包括对电子标签和读写器的测试。具体测试内容包括射频参数、调制参数、时序参数以及命令参数的测量。RFID检测技术是RFID应用关键技术之一，对RFID系统快速、高效率的测试是很有必要的。现有技术中的射频识别检测系统包括读写器模拟器和电子标签模拟器。读写器模拟器用于检测待测的电子标签，现有的射频识别测试系统将不同频率、不同协议的读写器分别进行模拟，形成多种不同性能的读写器模拟器，然后用来检测待测的电子标签，由于受到受测试接口容量和测试软件运行模式的限制，只能采用串行测试工作模式，不能同时对多台设备进行测试，造成了系统硬件资源的浪费，同时现有的测试系统仅可以进行射频标签及读写器的性能测试。也就是说，现有的RFID测试系统存在效率较低的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例的主要目的在于提供一种RFID设备测试方法及系统，以解决现有技术中的RFID测试系统测试效率较低的问题。为了实现上述目的，本专利技术实施例提供一种RFID设备测试系统，该系统包括信号生成装置，用于根据预定规则生成测试信号；数模转换装置，用于将所述测试信号转换为中频模拟信号；信号收发装置，用于将所述中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自所述射频标签的响应信号；模数转换装置，用于将所述响应信号转换为中频数字信号；性能检测装置，用于根据所述中频数字信号检测所述射频标签的性能。上述的信号生成装置具体用于生成RFID基带IQ信号。上述数模转换装置包括板载数字上变频和A/D转换器。上述信号收发装置包括上变频器，用于将所述中频数字信号发送给射频标签； 下变频器，用于接收来自所述射频标签的响应信号。上述信号收发装置还包括天线，分别与所述上变频器和下变频器连接，用于接收和发送信号。上述模数转换装置包括板载数字下变频和D/A转换器。上述信号生成装置为FPGA芯片。本专利技术实施例还提供一种RFID设备测试方法，所述方法包括根据预定规则生成测试信号；将所述测试信号转换为中频模拟信号；将所述中频模拟信号发送给射频标签、 并接收来自所述射频标签的响应信号；将所述响应信号转换为中频数字信号；根据所述中频数字信号检测所述射频标签的性能。上述的测试信号为RFID基带IQ信号。上述测试信号由FPGA芯片生成。借助于上述技术方案至少之一，通过根据预定规则生成的测试信号转换为中频模拟信号后发送给被测射频标签，并根据该射频标签的反馈信号检测射频标签的性能，相比于现有技术中的RFID测试系统测试效率较低的问题，本专利技术可以提高测试效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I是根据本专利技术实施例的RFID设备测试系统的结构框图；图2是根据本专利技术实施例的信号收发装置的结构框图；图3是根据本专利技术实施例的测试系统的硬件部分架构示意图；图4是基于图3的实际硬件架构示意图；图5是根据本专利技术实施例的测试软件架构示意图；图6是根据本专利技术实施例的测试系统的具体结构示意图；图7是根据本专利技术实施例的RFID读写器测试的软件架构示意图；图8是根据本专利技术实施例的RFID设备测试方法的流程图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。由于现有的RFID测试系统的测试效率不高，基于此，本专利技术实施例提供一种RFID 设备测试方法及系统，以解决上述问题。以下结合附图对本专利技术进行详细说明。实施例一本专利技术实施例提供一种RFID设备测试系统，图I是该系统的结构框图，如图I所示，该系统包括信号生成装置11，用于根据预定规则生成测试信号；数模转换装置12，用于将测试信号转换为中频模拟信号；信号收发装置13，用于将中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自射频标签的响应信号；模数转换装置14，用于将响应信号转换为中频数字信号；性能检测装置15，用于根据中频数字信号检测射频标签的性能。其中，预定规则可以根据实际测试项目而定。由以上描述可以看出，通过将信号生成装置根据预定规则生成的测试信号转换为中频模拟信号后发送给被测射频标签，并由性能检测装置根据该射频标签的反馈信号检测射频标签的性能，同时由于预定规则可以根据实际测试项目而定，相比于现有技术中的 RFID测试系统测试效率较低的问题，本专利技术实施例可以提高测试效率。上述的信号生成装置具体生成的是RFID基带IQ信号。数模转换装置具体包括板载数字上变频和A/D转换器。相应的，模数转换装置具体包括板载数字下变频和D/A转换器。如图2所示，信号收发装置13包括上变频器131，用于将中频模拟信号发送给射频标签；下变频器132，用于接收来自射频标签的响应信号。在具题实施时，可以分别为上变频器和下变频器设置天线，用于接收和发送信号。上述的信号生成装置为FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)芯片，采用FPGA可以提高系统的测试效率。为了更好地理解本专利技术实施例，以下分别以硬件部分和软件部分来详细描述本专利技术实施例。图3是本专利技术实施例的测试系统的硬件部分架构示意图，如图3所示，该系统包括嵌入式主控制器、FPGA基带处理器、信号接收设备和射频发射设备，这四个部分通过 PXI/PXI Express开放高速总线传输信号命令，信号发射设备向RFID被测单元发送测试信号，信号接收设备接收来自RFID被测单元的响应信号。图4是基于图3的实际硬件架构示意图，以下结合图3、图4来描述该测试系统的测试过程。PC主控制器(或者嵌入式主控制器)发送指令给各功能模块，FPGA基带处理器由 FPGA实时生成RFID基带IQ信号，再通过板载DUC以及D/A转换器转化为中频信号，传送给射频上变频器调制，在射频载波上经电缆或天线发送给RFID被测单元。从被测单元返回的信号经射频下变频器转化为中频信号后传送给FPGA基带处理器，通过板载A/D以及DDC转化为数字基带IQ信号，最后通过总线送至PC主控制器进行物理层和协议侧各项参数的分析。图5是测试软件架构示意图，如图5所示，测试软件架构总体分为三层，从下至上依次为硬件驱动层、FPGA开发层和主机(HOST)开发层。其中硬件驱动层主要完成测试仪器和主机之间的通信功能；FPGA开发层主要实现RFID协议仿真功能，包括循环冗余校验， 数字信本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：袁瑞铭，李顺昕，宋伟，王思彤，田海亭，张威，钟侃，秦红磊，
申请(专利权)人：华北电网有限公司计量中心，
类型：发明
国别省市：