【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光纤系统中测量光器件的全部物理偏振参数的方法。特别涉及一种，利用Mokes偏振分析仪实现光器件所有物理偏振参数的测量。
技术介绍
光通信、传感、测量系统中，各种光子器件、子系统的偏振转换特性、都直接影响系统的工作性能，因此检测各种光学系统中任意部分系统或器件的偏振转换特性是实现高性能光通信、光传感及测量系统的关键之一。此外在材料科学的研究和研制过程中，大多数的通光材料的偏振特性会伴随材料的生长周期、浓度以及外界环境条件，如温度、应力、湿度等因素的变化而变化，因此实时准确地检测材料的偏振转化特性在材料研制、生产，以及作为传感测量等领域，具有重要的作用。光器件的偏振转换特性分别包括三方面的偏振效应与散射相关的退偏效应、与偏振相关的损耗或增益效应以及双折射效应。双折射效应包括圆双折射和线双折射，表示参量有圆双折射延迟、线双折射延迟和线双折射主轴方位角，共3个自由度。偏振相关衰减反映了器件在某个矢量轴方向对偏振椭圆度的影响。表示的物理参量有衰减矢量和非偏振通光衰减，共有4个自由度。而退偏效应则包含退偏和起偏两方面；起偏表示光的能量分别向两个正交线偏方向...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王春华，李力，黄肇明，刘涛，何星剑，
申请(专利权)人：上海大学，
类型：发明
国别省市：
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