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本发明涉及一种基于最小二乘优化的全物理偏振参数的测量装置和方法。测试装置由激光器、起偏器、两级级联相位调制器、被测器件和偏振分析仪构成。由激光器产生的光经过起偏器输出线偏振光后进入两级级联相位调制器，调制器输出直接或经过被测器件后进入偏振分...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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