一种光学参数测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种光学参数测量装置，包括沿光路依次设置的激光器、起偏器、扩束镜、工装、缩束镜、检偏器、光电传感器件、根据第一控制信号控制起偏器、待测光学元件在垂直于光路的平面内移动的第一、第二驱动机构、根据第三控制信号控制起偏器沿其光轴转动的第一转动机构、根据第四控制信号控制待测光学元件沿其光轴转动的第二转动机构、根据第五控制信号控制检偏器沿其光轴转动的第三转动机构、感测检偏器沿其光轴的转动角度，输出根据该转动角度产生角度信号的角度感测机构、有选择的输出第一至五控制信号、接收光强度信号和角度信号、得出光强度最小、最大值、以及最小值时检偏器所对应的角度的控制单元。本发明专利技术光学参数测量装置自动化程度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可用于测量磁光隔离器旋光角度或消光比的光学参数测量装置。
技术介绍
消光比是衡量光学元件光学性能的重要参数，反映了其内部可能存在的缺陷，如内应力、光学不均勻性等。其消光比就是衡量光学不均勻性的一个重要参数。规定采用=Pmax表示在垂直光轴的平面内椭圆型高斯光束长轴方向的最高光功率，Rnin表示在垂直光轴的平面内椭圆型高斯光束长轴方向的最低光功率。则消光比定义为EX = 101g(Pmax/Pmin)(1)消光比的单位为dB。在实际应用中消光比的测试有着很重要的实用价值。晶体消光比测量的准确性直接影响晶体的研制、生产和应用。测量器件的偏振有比较成熟的设备，如ThorlabS公司PAX5700系列偏振测量仪， 其利用琼斯(Jones)和米勒(Mueller)矩阵测量，但我们使用其测量大口径磁光隔离器的旋光角度及消光比测试并不方便，原因是光束大小不可变，不能全口径测试，且受环境光照影响，使得测试精度低下。
技术实现思路
为了解决现有技术设备测量磁光隔离器的旋光角度或消光比精度较低的问题，本专利技术提供一种操作方便且效率较高的光学参数测量装置。本专利技术的技术方案是一种光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：樊仲维，王家赞，
申请(专利权)人：北京国科世纪激光技术有限公司，
类型：发明
国别省市：