一种电路板通用测试夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种电路板通用测试夹具，其包括有机架、测试夹，其设计要点是在机架的两侧设有相互平行的横梁，两个横梁之间设有与之相垂直的滑杆；滑杆的下面设有测试夹；本发明专利技术不受电子元器件高度及绝缘保护漆的限制，能够对任何高度或表面涂有绝缘防护漆的表贴式电子元器件进行测试。其结构简单、操作方便、通用性好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路测试夹具，具体地说是一种电路板测试夹具。
技术介绍
电路测试夹因具有无需电路原理图、测试速度快、操作简单、对使用人员要求较低等优点，而在电子设备测试及故障诊断中受到青睐。电路测试夹在使用过程中需要夹住被测元器件，然后对其焊接在电路板上的电子元器件逐个进行测试。现有的普通测试夹，一般只适于测试双列直插式及部分较高的表帖式电子元器件，而对于设有高低不等元器件，或边缘部位设有高度较高的元器件的电路板，以及表面涂有一层绝缘防护漆的电路板，因其探测针无法与元器件管脚进行有效接触，故而无法使用。如CN101576575A公开的一种对 DDR内存进行测试的夹具，该夹具包括有夹持件、探测件。其中的夹持件由两夹持侧壁及一具弹性的连接部件构成。两个夹持侧壁其一端通过所述连接部件连接，另一端相互靠近以具夹持功能。所述探测件，包括有两个测试探针。探测件设于夹持侧壁上。在测试时，一测试探针与待测电路板上的测试点电性接触，另一测试探针与测试仪电性连接。这种形式的电路板测试夹，不便于随测试位置变化进行灵活调整，其测试探针也不能与被测电子元器件的管脚进行牢固连接，而且该测试夹具仅适用于测试单排或两排管脚的元器件。
技术实现思路
本专利技术的目的就是要提供一种结构合理、适用范围广、使用方便的电路板通用测试夹具。本专利技术的目的是这样实现的本专利技术所提供的电路板通用测试夹具，包括有机架、测试夹，其设计要点是在机架的两侧设有相互平行的横梁，两个横梁之间设有与之相垂直的滑杆；滑杆的下面设有测试夹；本专利技术在使用时，测试夹通过电缆线与测试仪器连接。当测试夹中的测试探测针对准被测电路板中的电子元器件后，滑杆压着测试夹的顶部，从而可使测试夹中的测试针能够与被测电子元器件的管脚进行牢固连接。测试夹可沿滑杆方向移动，也可随着滑杆沿横梁方向移动。由此测试夹可方便地固定在被测电路板上的任意位置上。本专利技术不受电子元器件高度及绝缘保护漆的限制，能够对任何高度或表面涂有绝缘防护漆的表贴式电子元器件进行测试。其结构简单、操作方便、通用性好。附图说明图1是本专利技术的整体结构示意图。图2是本专利技术中的测试夹的结构示意图。图3是本专利技术中测试夹的一种使用状态示意图。具体实施方式如图1所示，本专利技术包括有机架1、测试夹5。机架1为框架式结构，由一个矩形边框和设置于其四角的四个支腿组成。机架1利用矩形边框向内伸出的支撑架与螺钉将被测电路板6压紧固定于机架1上。机架1的两侧设有相互平行的横梁2，两个横梁2之间设有与之相垂直的滑杆3 ；测试夹5的顶部与滑杆3相连接，；测试夹5可在滑杆3中自由滑动。 在测试时，可将滑杆3沿横梁2进行移动，同时调整测试夹5在滑杆3上的位置，直至测试夹5中的弹性测试针506对准被测电路板6上的被测电子元器件，然后拧紧螺栓4，将滑杆 3固定于横梁3上。滑杆3与被测电路板6之间的距离应略高于测试夹5的高度，以便于测试夹5可自由移动。测试夹5如图2、图3所示，包括卡座508、顶柱501 ；顶柱501上设有转动的手柄514，该手柄514通过转轴502固定在顶柱501的柱体上。顶柱501与卡座 508之间设有电路板512、弹簧定位杆509、测试针定位板507。顶柱501的上端与滑杆3相连接，其底端固接有套杆510 ；套杆510的下端穿过电路板512与弹簧定位杆509相连接， 弹簧定位杆509上缠绕有弹簧505，弹簧定位杆509的下端固定在测试针定位板507上；套杆510外套接有带压板503的套筒513，压板503与套筒513同轴固定，其可随手柄514的松开与压下沿套杆510上下滑动。电路板512上设有两排平行的弹性测试针506和接插件 504，弹性测试针506与接插件504的插针依顺序分别连接。电路板512与套筒513固定连接并可沿套杆510上下滑动。接插件504通过电缆线与测试仪器连接。弹性测试针506头部与被测电子元器件管脚相接。测试针定位板507的底部固定在卡座508上；测试针定位板507用于对弹性测试针506进行水平定位，以使其只能上下运动。卡座508置于两排平行的弹性测试针506之间，其卡住电子元器件壳体两端，对测试夹5的底部进行定位。在手柄514松开的状态下，弹性测试针506没有被压紧，测试夹5可进行横向或纵向移动。当卡座508卡住被测元器件壳体且弹性测试针506对准被测电子元器件管脚后，向下转动手柄 514，此时压板503、套筒513、电路板512在手柄514的推压作用下，沿套杆510向下滑动， 从而带动弹性测试针506向下运动。由此实现了测试夹5与被测电子元器件之间的可靠连接，同时保证弹性测试针506能够刺透被测电子元器件管脚之上的绝缘保护漆。在具体制造时，顶柱501为一圆柱体，套杆510为一直径较小的圆柱体，其顶部与顶柱501的底部相连，其底部与弹簧定位杆509的顶部相连；弹簧定位杆509为一直径较大且与顶柱501、套杆510同轴的圆柱体，弹簧定位杆509底部与一个矩形的测试针定位板 507相连；测试针定位板507的中心与弹簧定位杆509的圆心重合，在测试针定位板507上分布有两排等间距的圆孔，这些圆孔直径与弹性测试针506的直径相同，保证了弹性测试针506只能沿圆孔运动，而不能在水平方向上偏离圆孔，从而实现弹性测试针506的定位； 测试针定位板507底部与卡座508相连。卡座两边距与两排弹性测试针506的距离相等， 卡座508在与两排弹性测试针506垂直方向的两端设置有两个突出的凸块，两个凸块之间的间距与被测电子元器件壳体两端的距离相等，从而保证卡座508能够牢固卡在被测元器件上；压板503置于套筒513的上部与之连接，套筒513下部与电路板512连接，压板503 与套筒513为圆筒结构，其内径与套杆510的直径相同，电路板512上设置有与压板503、套筒513内径相同的且同轴的圆孔，压板503、套筒513和电路板512组成的结构体可沿套杆 510上下滑动。两排弹性测试针506的顶端与电路板512固定连接，可随电路板512上下运动，在电路板512上设置有一个标准接插件504，标准接插件504包含两排数量与弹性测试针506数量相同的插针，每根插针都分别通过电路板512上所布的导线与每根弹性测试针506连接；在电路板512和测试针定位板507之间设置有弹簧505，绕于弹簧定位杆509 周围且其内径与弹簧定位杆509的直径相同，保证了弹簧505在水平方向上的固定；在顶柱 501上设置有手柄514，通过横穿顶柱的转轴502将顶柱501和手柄514连接，手柄514可沿转轴502转动，在手柄514松开即抬上的状态下，弹簧505支撑电路板512带动弹性测试针506位于套杆510的顶部，在手柄514压下的状态下，其突出部分将按压压板503、套筒 513和电路板512，从而带动弹性测试针506向下运动，手柄按下后其位置可保持固定。 在使用时，当手柄514松开(如图2所示)，此时弹簧505处于伸展状态，弹簧505支撑压板503、套筒513、电路板512和弹性测试针506位于套杆510的顶部，弹性测试针506 没有与被测元器件管脚连接，因此整个测试夹5可自由移动；将卡座508置于被测电子元器件壳体之上并将两个凸块卡住元器件壳体两端后，将两排平行的弹性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘耀周，王振生，刘焕照，邓大权，刘彦宏，陈燕，王春友，
申请(专利权)人：中国人民解放军总装备部军械技术研究所，
类型：发明
国别省市：