影像检测元件制造技术

一种影像检测元件，包括一基底、一彩色滤光层、多个微透镜以及多个抗反射单元。基底具有多个检测单元，而彩色滤光层覆盖这些检测单元。这些微透镜配置于彩色滤光层上，且这些微透镜分别对应这些检测单元。此外，这些抗反射单元分别配置于这些微透镜上。每一抗反射单元包括堆叠于对应的微透镜上的多个抗反射膜，且相邻的二抗反射膜的折射率不同。此影像检测元件具有较佳的影像检测品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种影像检测元件，且特别是有关于一种具有抗反射膜的影像检测元件。
技术介绍
影像检测元件已被广泛地应用在多种电子产品中，如数码相机、行动电话、摄影机、扫描器等。常见的影像检测元件包括电荷耦合元件(charge coupled device, (XD)与金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor, CMOS)影像检测元件。 这些影像检测元件通常包括一基底(substrate)，且基底上形成有呈阵列排列的多个检测单元，而这些检测单元用以检测光线。承上述，为了让影像检测元件所检测到的影像为彩色影像，基底上通常形成有一彩色滤光层(color filter layer)。此外，为了提高每一检测单元的检测范围，在彩色滤光层上会形成多个微透镜，而这些微透镜分别对应这些检测单元。虽然微透镜可提高每一检测单元的检测范围，但因微透镜的入光效率不佳，导致光线入射微透镜时容易产生杂散光。如此，每一检测单元容易检测到从邻近的微透镜散射而来的杂散光，导致影像检测元件所检测到的影像品质不佳。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种影像检测元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晖暄，
申请(专利权)人：原相科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：