【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电子测试装置，尤其是涉及一种可用于对电子产品或电子零部件进行交替测试的电子测试装置。
技术介绍
现有的PCBA、C0B、马达、电池等各类电子产品成品或半成品制造完成后，通常通过测试装置进行测试以检测产品的功能或性能。现有的测试装置均采用单组测试模式，即一个操作员操作一台手动或半自动的测试装置，由操作员将待测部件摆放入所述测试装置的测试位之后，压下测试探针，再触发测试装置上的各个开关或感应器。然后，等待测试系统测试产品，测试完成后，将检测反馈的灯光信号或数显资料跟标准值(设计的测试要求)进行比较，以检测产品的功能或性能，所有测试项目完成后拉起测试探针板，取出测试部件摆放好并记录测试结果，完成后再进入下一组部件的测试。由于从测试探针下压接触待测部件开始测试，到测试完成需要一定的时间，现有的测试技术是用手动触发测试装置上的开关或感应器后，操作员工即等待测试的完成，有一段的等待时间；自动测试设备同样也有这样一段的等待时间。虽然不同的产品等待时间会有长短的不同，但同样都浪费等待时间，因而上述现有的测试装置测试效率低，不能满足需要。
技术实现思路
本技术是针对上述...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
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