【技术实现步骤摘要】
本技术涉及是一种基于相位测量的物体三维形貌测量系统。 技术背景现在许多工业领域需要检测物体三维形貌，其中包括产品质量控制、检测及逆向工程领域。目前大多数系统都采用双目光栅测量法进行测量，其工作原理为基于光学三角形原理，利用白色可见光透过物理光栅将一组光栅条纹投影到物体表面，因为光栅条纹在曲面上发生光学干涉，再利用两个数码相机将其拍摄下来，经过图像分析、计算，最后就可求出物体的3D点云数据，华中科技大学申请的专利“一种基于二维编码的三维形貌测量方法，申请号200710052728. 9”中利用不同图像的灰度值来对经过结构光照射下的物体投影进行编码，将图像划分成多个大小互不重叠的字块，经过译码和相位计算获得每个空间点的编码信息和相位信息，获得测量空间点的坐标。虽然该方法精度较高，但是制作物理光栅比较复杂，而且测量速度慢。该方法即为使用物理光栅，对投影装置内控制系统的精度和光栅制造工艺要求很高，要求能精确控制投影图像的相移步距一致，这三点就决定了整个系统的造价非常昂贵，而且在后续维护费用非常高。随着技术的发展有些研究机构提出利用数字光学投影设备来代替物理光栅，数字...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：任峰，黄延平，蒋正英，张观欣，轩洋，孙成富，时伟，
申请(专利权)人：长春东瑞科技发展有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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