通过相步进进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统技术方案

本发明专利技术涉及一种用于通过相步进对检查对象（6）进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统，该X射线拍摄系统带有：至少一个用于产生准相干X射线辐射的X射线辐射器（3），带有布置在矩阵内的像素的X射线图像检测器（4），布置在检查对象（6）和X射线图像检测器（4）之间的衍射光栅或相位光栅（17），和为相位光栅（17）对应配设的分析器光栅（18），其中X射线辐射器（3）、X射线图像检测器（4）、相位光栅（17）和分析器光栅（18）形成预先给定的设备内的对于相位对比成像关键的部件（32，K1至Kn）。根据本发明专利技术，提供至少一个用于确定部件（32，K1至Kn）相对于额定几何形状的几何关系的偏差的测量设备（34），用于评估所测量的偏差的分析单元（35、40），用于确定修正值的计算单元（36、41），和用于调节部件（32，K1至Kn），的几何关系的修正装置（37、38、42、46）。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于通过相步进对检查对象（6）进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统，所述X射线拍摄系统带有：至少一个用于产生准相干X射线辐射的X射线辐射器（3），带有布置在矩阵内的像素的X射线图像检测器（4），布置在检查对象（6）和X射线图像检测器（4）之间的衍射光栅或相位光栅（17），和为相位光栅（17）对应配设的分析器光栅（18），其中，X射线辐射器（3）、X射线图像检测器（4）、相位光栅（17）和分析器光栅（18）形成预先给定的设备内的对于相位对比成像关键的部件（32，K1至Kn），其特征在于，提供至少一个用于确定部件（32，K1至Kn）相对于额定几何形状的几何关系的偏差的测量设备（34），用于评估所测量的偏差的分析单元（35、40），用于确定修正值的计算单元（36、41），和用于调节部件（32，K1至Kn），的几何关系的修正装置（37、38、42、46）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：M斯帕恩，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE