【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及相衬成像。具体地，本专利技术涉及用于检查感兴趣的对象的相衬成像设备、相衬成像方法、计算机可读介质和程序元件。
技术介绍
为了利用电磁辐射检查感兴趣的对象，可以使用可见或不可见光或X射线。 Pfeiffer ^ 的“Phase retrieval and differential phase-contrast imaging with low-brilliance X-ray sources”，Nature Physics 2006，X 射线差分相衬成像(DPC)领域中公开的方法基于Talbot干涉法的扩展。该扩展包括增加容许使用多色X射线光谱的第三光栅。用于此技术中的光栅由线性沟槽布置形成，如图1和2中描绘的。经由相位偏移 (phase stepping)对强度变化的探测容许测量垂直于光栅的沟槽的X射线波前的相位梯度。然而，为了提供具有合理地好的质量的图像，可能必须执行在偏移时的合适的定位精度和非琐碎的相位修正。
技术实现思路
期望提供对相位复原(phase retrieval)具有更鲁棒的可能性的成像系统和方法。本专利技术涉及根据独立权利要求的特征的...
【技术保护点】
１．一种用于检查感兴趣的对象的相衬成像设备，所述设备（１００）包括：源（１０１），用于发射辐射束；探测器（１０２）；相位光栅（１０４），设置于所述源（１０１）和所述探测器（１０２）之间；其中，所述探测器（１０２）配置为在所述辐射通过所述感兴趣的对象（１０３）和所述相位光栅（１０４）之后对所述辐射进行探测；并且其中，所述相位光栅（１０４）具有弯曲的几何结构。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：E·勒斯尔，T·克勒，G·马滕斯，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL
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