【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
1.一种用于在相对于被设置在检查区域(106)中的对象(108)的多个角位置处采集断层摄影投影数据的装置,所述装置包括:辐射源(102);辐射敏感探测器(104),其探测由所述源(102)发射的已经贯穿所述检查区域(106)的辐射;以及重建器(304);其中,所述装置适于执行对象(108)的至少两个扫描程序;其中,所述至少两个扫描程序中的至少一个是偏移几何结构扫描程序(404);其中,在所述至少两个扫描程序期间采集投影数据,包括在所述偏移几何结构扫描程序(404)期间的偏移几何结构投影数据(408);并且其中,所述重建器(304)将在所述至少两个扫描程序期间采集的所述投影数据重建在一起以生成指示所述对象(108)的体积数据。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:C·施雷特,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:NL
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