频率特性测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提供一种能简化用于测定的结构并且降低测定中所耗费的劳力和时间的频率特性测定装置。频谱分析器（１０）具备：作为对两个输入信号的每一个分别测定频率特性的两组测定单元的混频器（１１０、２１０）、局部振荡器（１１２、２１２）、ＩＦ部（１２０、２２０）；产生指定这两组测定单元的每一个中的测定开始定时的触发信号的触发控制部（３５０）；以及当输入触发信号时，对两个局部振荡器（１１２、２１２）同时发送指示，并且以通过这两个局部振荡器（１１２、２１２）按相同的定时输出相同频率的局部振荡信号的方式，进行扫描控制的扫描控制部（３００）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种频率特性测定装置，该频率特性测定装置用于测定频谱分析器等中输入信号的频率特性等。
技术介绍
目前已知有通过进行频率扫描来测定输入信号的频率特性的频谱分析器(例如， 参照专利文献1。)。该频谱分析器具有两个系统的输入端子，测定从任一个输入端子输入的信号的频率特性。测定的频率特性显示于显示部。专利文献1 日本特开平8 - 233875号公报(第3 4页、图1 2)这里，虽然专利文献1等中公开的现有的频谱分析器具有两个输入端子，但是频率特性的测定是对从一个输入端子输入的信号进行的。因此，当对两种信号同时测定频率特性时，需要两台频谱分析器、或产生用于使这些测定同步的触发信号的外置触发装置，存在用于测定的结构变得复杂同时在测定中耗费劳力和时间的问题。另外，作为比较两种信号的频率特性的方法，考虑打印各自的测定结果进行比较的方法，但该方法存在难以进行正确解析的问题。或者，作为比较两种信号的频率特性的其它方法，考虑将通过测定得到的两种信号的频率特性取入到外部的解析装置(外部计算机)进行数据处理并比较的方法，但为此需要准备解析装置并进行有别于测定的解析作业，因此，进而存在用于测定的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种频率特性测定装置，具备：多个测定单元，对多个输入信号的每一个分别测定频率特性；触发控制单元，将指定所述多个测定单元的每一个中的测定开始定时的多个触发信号进行输出；以及扫描控制单元，与从所述触发控制单元输出的所述多个触发信号同步地控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：青山悟，
申请(专利权)人：株式会社艾德温特斯特，
类型：发明
国别省市：JP