测试装置及块间同步方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试装置，其是测试被测试设备的测试装置，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持的主周期信号；从周期信号产生部接收控制信号，将从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持的所述从周期信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。本申请与下述日本专利申请相关、且主张下述日本专利申请的优先权。对于认可文献通过参照而被编入的指定国，下述专利申请中所记载的内容通过参照的方式而被结合到本申请中，成为本申请的一部分。1.特愿 2008-237414申请日 2008 年 9 月 17 日
技术介绍
例如，专利文献1公开了一种测试装置，其包括基准时钟生成部，其生成具 有第1 频率的基准时钟；第1测试率生成部，其生成具有第1频率的大致整数倍的频率的第1测试率时钟；第2测试率生成部，其生成第2测试率时钟，该第2测试率时钟具有是第1频率的大致整数倍的频率、且与第1测试率时钟的频率不同的频率；第1驱动部，其对应第1测试率时钟，给电子设备提供测试图案；第2驱动部，其对应第2测试率时钟，给电子设备提供测试图案。公开了该测试装置在起动时达到块间的同步。专利文献1 国际公开W02003/062843号公报专利技术要解决的技术问题测试装置可以在起动时达到块间的同步。但是，关于各块在动作过程中达到同步， 有一定的限制。即，在各块中，达到同步的定时必须是动作时钟与周期信号的相位达到一致的公倍数的定时，即使在要同步的块间，也必须估计各域的动作时钟和周期信号的相位达到一致的公倍数的定时，进而达到同步。这种要求成为创建图案程序的限制条件，成为使创建图案程序变得复杂的原因。因此，寻求对创建图案程序限制少的同步方法。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，根据本专利技术的第一方面，提供一种测试装置，是测试被测试设备的测试装置，包括主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持的主周期信号；从周期信号产生部接收控制信号，将从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持的所述从周期信号。所述从周期信号产生部可以包括相位数据计数器，其对相位数据进行计数；周期存储器，其存储表示从周期信号的周期的周期数据；第1判定处理部，其判定相位数据是否满足第1条件，在满足第1条件的情况下生成周期脉冲信号且将周期数据加到相位数据上，第1条件是指相位数据是从周期信号产生部的动作时钟周期的1倍以上且不满2倍；第 2判定处理部，其判定相位数据是否满足第2条件，在满足第2条件的情况下，从相位数据减去动作时钟周期，第2条件是相位数据不为零；余数数据输出部，其输出相位数据除以动作时钟周期而得到的余数；以及停止再继续控制部，其接收保持信号而停止周期脉冲信号的输出，接收控制信号而开始或者再继续周期脉冲信号的输出且初始化相位数据计数器。主周期信号产生部可以在接收到了控制信号时，再继续产生保持着的主周期信号而不初始化主周期信号的相位数据。主周期信号产生部和从周期信号产生部可以在主周期信号产生部和从周期信号产生部的各个动作时钟的公倍周期与主周期信号的周期的公倍数的定时，接收控制信号。可以包括多个主周期信号产生部，从周期信号产生部和多个主周期信号产生部，在从周期信号产生部的动作时钟和多个主周期信号产生部的各个动作时钟的公倍周期与主周期信号的周期的公倍数的定时，接收控制信号。 根据本专利技术的第二方面，提供一种块间同步方法，其是在测试被测试设备的测试装置中执行的块间同步方法，测试装置包括主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；块间同步方法包括给主周期信号产生部和从周期信号产生部提供控制信号的步骤；和接收控制信号，使主周期信号产生部再继续产生主周期信号，使从周期信号产生部初始化从周期信号的相位数据且再继续产生从周期信号的步马聚ο在提供控制信号的步骤之前，还可以包括给主周期信号产生部和从周期信号产生部，提供停止主周期信号和从周期信号的保持信号的步骤。还可以包括确认通过执行提供保持信号的步骤、主周期信号和从周期信号已经停止的步骤。在提供控制信号的步骤，可以在主周期信号产生部和从周期信号产生部的各动作时钟的公倍周期、与主周期信号的周期的公倍数的定时，提供控制信号。另外，上述专利技术的概要并没有列举本专利技术的必要特征的全部。另外，这些特征的子组合也可以形成本专利技术。附图说明图1与被测试设备(DUT) 200 一起示出了本实施方式的测试装置100的功能框图的一个例子。图2示出了从周期信号产生部122的功能框图的一个例子。图3示出了从周期信号产生部122及主周期信号产生部112的输出的一个例子。具体实施例方式下面，通过本专利技术的实施方式对本专利技术进行说明，但是以下的实施方式并不限定权利要求书中所涉及专利技术。另外，实施方式中所说明的特征的组合的全部不一定都是本专利技术的技术方案所必须的。图1与被测试设备(DUT) 200 —起示出本实施方式的测试装置100的功能框图的一个例子。测试装置100测试被测试设备200。测试装置100包括主块110和多个从块120。 主块110包括主周期信号产生部112和测试部114，且根据主周期信号动作。从块120包括从周期信号产生部122和测试部124，且根据从周期信号动作。主周期信号产生部112产生主周期信号。主周期信号产生部112接收可以是控制信号的一个例子的继续信号C0NT，再继续产生保持着的主周期信号。主周期信号产生部 112可以具有多个。从周期信号产生部122产生从周期信号。从周期信号产生部122接收可以是控制信号的一个例子的继续信号C0NT，初始化从周期信号的相位数据、且再继续产生保持着的从周期信号。测试部114和测试部124在各块中测试被测试设备200。另外，这里作为各块的功能， 例示性地示出了测试部114和测试部124的测试功能，但是各块的功能不限于测试功能。例如，各块可以具有给被测试设备200提供测试周期的功能，或者，也可以具有产生使各块间达到同步的同步信号的功能。测试部114和测试部124由于具有相同的结构，所以下面只说明测试部114。测试部114包括图案产生部140、波形生成部142、驱动器144、比较器146、逻辑比较部148以及结果记录部150。图案产生部140从主周期信号产生部112接收周期脉冲信号PGRATE，生成测试图案PAT及期望值图案EXP。生成的测试图案PAT及期望值图案EXP分别提供给波形生成部 142和逻辑比较部148。图案产生部140还给主周期信号产生部112提供时序设定TS。波形生成部142基于来自图案产生部140的测试图案PAT，根据来自主周期信号产生部112的周期脉冲信号ORATE及余数数据PAD生成测试波形。驱动器144将波形生成部 142生成的测试波形提供给被测试设备200。比较器146将来自被测试设备200的输出信号与规定的阈值进行比较、并转换成逻辑值电平。逻辑比较部148将比较器146输出的逻辑值信号与期望值图案EXP进行比较。 比较的结果存储于结果记录部150中。图2示出了从周期信号产生部122的功能框图的一个例子。从周期信号产生部 122包括周期存储器152、加法器154、多路复用器156、相位数据计数器158、第1判定处理部160、第2判定处理部162、余数数据输出部164、逻辑与电路166、逻辑或本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测试装置，其测试被测试设备，其特征在于，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据所述主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据所述从周期信号而动作；所述主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持着的所述主周期信号；所述从周期信号产生部接收所述控制信号，将所述从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持着的所述从周期信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：山田达也，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP