【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。本申请与下述日本专利申请相关、且主张下述日本专利申请的优先权。对于认可文献通过参照而被编入的指定国，下述专利申请中所记载的内容通过参照的方式而被结合到本申请中，成为本申请的一部分。1.特愿 2008-237414申请日 2008 年 9 月 17 日
技术介绍
例如，专利文献1公开了一种测试装置，其包括基准时钟生成部，其生成具 有第1 频率的基准时钟；第1测试率生成部，其生成具有第1频率的大致整数倍的频率的第1测试率时钟；第2测试率生成部，其生成第2测试率时钟，该第2测试率时钟具有是第1频率的大致整数倍的频率、且与第1测试率时钟的频率不同的频率；第1驱动部，其对应第1测试率时钟，给电子设备提供测试图案；第2驱动部，其对应第2测试率时钟，给电子设备提供测试图案。公开了该测试装置在起动时达到块间的同步。专利文献1 国际公开W02003/062843号公报专利技术要解决的技术问题测试装置可以在起动时达到块间的同步。但是，关于各块在动作过程中达到同步， 有一定的限制。即，在各块中，达到同步的定时必须是动作时钟与周期信号的相位达到一致的公倍数的定时，即使在...
【技术保护点】
１．一种测试装置，其测试被测试设备，其特征在于，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据所述主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据所述从周期信号而动作；所述主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持着的所述主周期信号；所述从周期信号产生部接收所述控制信号，将所述从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持着的所述从周期信号。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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