用于建筑密封件的密封性检测的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:7140356 阅读:259 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种用于确定损坏或缺陷位置的方法,特别用于确定在隔膜式、不导电或仅轻微导电的建筑密封件(3)上的材料强度降低的薄弱位置,建筑密封件相对于空气具有强绝缘强度并设有导电层(6),该导电层设在建筑密封件(3)的内部或外部并基本上覆盖整个平面地延伸经过建筑密封件,在导电层上施加检测电压。为确定所述损坏、缺陷和/或薄弱位置采用另一个导电层(7),该另一个导电层通过建筑密封件与前述导电层(6)形成电隔离,并且另一个导电层基本上覆盖整个平面地延伸经过建筑密封件。在受到电压冲击的导电层(6、7)之间的检测电压的强度这样选择:在建筑密封件(3)中存在至少一个不导电或仅轻微导电的损坏、缺陷和/或薄弱位置时,产生绝缘强度的超值,并且在损坏、缺陷和/或薄弱位置的所在处形成电火花或电弧,其中,选择的检测电压小于破坏性检测电压,在破坏性检测电压作用下,在与待检测的建筑密封件(3)相对应的未受损的和/或未变薄弱的建筑密封件上产生电火花或电弧形式的电击穿。此外还要求保护一种对应构成的建筑密封件(3)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于确定损坏或缺陷位置的方法,特别用于确定在隔膜式、不导电或仅轻微导电的建筑密封件(3)上的材料强度降低的薄弱位置,所述建筑密封件相对于空气具有强绝缘强度并设有导电层(6),所述导电层设置在所述建筑密封件(3)的内部或外部,所述导电层基本上覆盖整个平面地延伸经过所述建筑密封件,并且在所述导电层上施加检测电压,其特征在于,采用另一个导电层(7)用以确定所述损坏、缺陷和/或薄弱位置,所述另一个导电层通过所述建筑密封件(3)与前述导电层(6)形成电隔离,并且所述另一个导电层基本上覆盖整个平面地延伸经过所述建筑密封件(3),其中,在受到电压冲击的导电层(6、7)之间的检测电压的强度这样选择,即,在所述建筑密封件(3)中存在至少一个不导电的或仅轻微导电的损坏、缺陷和/或薄弱位置时,产生绝缘强度的超值,并且在损坏、缺陷和/或薄弱位置的所在处形成电火花或电弧,其中,选择的所述检测电压小于破坏性检测电压,在所述破坏性检测电压作用下,在与待检测的建筑密封件(3)相对应的未受损的和/或未变薄弱的建筑密封件上产生电火花或电弧形式的电击穿。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:安德烈亚斯·勒德尔
申请(专利权)人:普罗吉欧监控技术有限公司
类型:发明
国别省市:DE

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