一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法技术

本发明专利技术提供一种可用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板及其检测方法。该母基板包括一由m行和n列液晶面板所构成的液晶面板阵列和一测试区。其中在该液晶面板中的栅极驱动区与源极驱动区之间存在有一阵列绕线组，该测试区还进一步包括一测试垫组和一测试线组，且彼此电性连接。又该测试线组贯穿于液晶面板阵列和测试垫区所在的区域。为检测液晶面板中阵列绕线组，则通过一引出线组将该阵列绕线组和该测试线组电性连接，其一端电性连接至该液晶面板的阵列绕线组，另一端电性连接至该测试线组。检测方法更是借助该引出线组，再透过一观测性强的检测系统来检测该阵列绕线组的状况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种母基板及检测其上液晶面板中阵列绕线组(Wire On Array，TOA) 的方法，特别是一种将液晶面板中阵列绕线组引出至周边布置的测试线组(shorting bar) 的母基板及其利用一种观测性强的检测系统对阵列绕线组做检测的方法。
技术介绍
在液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)技术日益成熟的大环境下，全球各地的液晶面板厂商为提升自身在该领域里的竞争力，在研发出更多更新的显示技术的同时，无疑要保证最基本的面板良率。在液晶面板的制程中，一般是在一块大的玻璃基板，亦称母基板(mother substrate)，上制作出多个液晶面板(Unit Cell)，该些液晶面板呈阵列分布。之后通过后期的切裂制程(Cutting Process)进行分割，得到多个独立的液晶面板。从一块母基板上所得到的液晶面板数目通常与母基板的尺寸有关，随着现代液晶面板生产代数的提升，母基板的尺寸已越做越大，一次性所做的液晶面板数目也就增多了。从而，液晶面板的成本相对降低，使得液晶显示技术更多地走进人们的日常生活。另外液晶面板的应用也多元化，目前的液晶显示器、手机显示屏上的运用已是家喻户晓。请参照图1，图1是现有技术的母基板的俯视图。母基板10上设置有一液晶面板阵列11、一测试区12。该液晶面板阵列11中设置有多个液晶面板110，且该些显示面板110 按m行和η列分布，故数目为mXn个。该测试区12中设置有多个测试垫组120，且每个测试垫组120进一步包括测试垫120a、测试垫120b、测试垫120c、测试垫120d和测试垫120e。 多个测试线组13贯穿于液晶面板阵列11与测试区12和液晶面板阵列110内的多个液晶面板之间，并且分别与测试垫组120电性连接。具体请参照图Ia所示。在图Ia中，图Ia是图1中单个液晶面板的放大图。在液晶面板110中设置有显示区111、栅极驱动区121、源极驱动区131和阵列绕线组141。在液晶面板110的外围，测试线组130包括有测试线130a、测试线130b、测试线130c、测试线130d和测试线130e。为使整个母基板10通过多个测试垫组130外接上电压，于是有测试线130a电性连接于测试垫120a、测试线130b电性连接于测试垫120b、测试线130c电性连接于测试垫120c、测试线 130c电性连接于测试垫120d，以及测试线130e电性连接于测试垫120e。在常见的液晶面板中，主要分布有三类工作区，即周边线路区、驱动电路区和显示区。其中，周边线路区包括多个位置的线路，如驱动电路区与像素区之间的走线、多个驱动电路之间的走线以及一些软性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)。该些工作区存在必然的联系首先FPC连接外接端口，并将外接信号电压传输至驱动电路，然后驱动电路再通过其与显示区之间的走线控制显示区进行所需图像的显示。因此，此三类工作区在液晶面板的正常工作中，相互依赖，缺一不可，因此对其进行严格线路检测是必要的。在一个液晶面板的整个制程中，依现在的检测手段，对显示区的检测相对周边线路更成熟。周边线路中的FPC是在模组阶段才被贴附到相应的驱动电路区，所以在切裂制程(Cutting Process)之前，更多的是对直接做在基板上的线路做检测。然而在这方面线路的检测中，更多的是在模组制程(Module Process)中，将相关的芯片安置在对应驱动区后， 才进行检测。这样的检测存在难以预料的后果，就是若此时才检测到周边线路存在问题，则会使得之前安置上的驱动芯片报废，造成了成本浪费。如果想通过后期对问题周边线路进行相应的镭射修补，同样会增加制造成本。所以若果能在面板制作的前期对周边线路进行检测，会达到更好的效果。
技术实现思路
本专利技术提供一种母基板，其有效利用测试线组，额外增加引出线组将液晶面板中阵列绕线组引出至周边测试线组，再透过观测性强的检测系统，比如Wiototronics，对阵列绕线组做精确的可靠性检测，避免后期采用镭射修补，减少不必要的成本浪费并相应提高生产良率。本专利技术提出一种用于检测液晶面板中阵列绕线之母基板，包括一液晶面板阵列、 一测试区和一引出线组。液晶面板阵列进一步由包括一显示区、一栅极驱动区、一源极驱动区和一阵列绕线组的液晶面板所构成。测试区设置于液晶面板阵列的周边，其进一步包括彼此电性连接的测试线组和测试垫组，并且测试线组贯穿于测试区与液晶面板阵列间的区域或液晶面板阵列之液晶面板间的区域。测试线组包括多条测试线，测试垫组包括多个测试垫。引出线组设置于液晶面板的阵列绕线组与测试线组之间，一端与阵列绕线组电性连接，另一端与测试线组电性连接。引出线组包括多条引出线。本专利技术之一的实施例中，上述液晶面板阵列中的测试线组电性连接至测试区中的测试垫组。本专利技术之一的实施例中，上述阵列绕线各自电性连接至引出线的一端，其中阵列绕线连接至不同的引出线且不重复。本专利技术之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至多条测试线且不重复。本专利技术之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至多条测试线且部分重复。本专利技术之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至同一条测试线。本专利技术之一的实施例中，上述液晶面板阵列中，一组测试线组电性连接至一组测试垫组。本专利技术之一的是实例中，上述液晶面板阵列中，多组测试线组电性连接至同一组测试垫组。本专利技术另提供一种检测母基板之液晶面板中阵列绕线组的方法，包括首先，提供上述母基板及检测系统；其次，将检测系统的探针框电性贴压于母基板上的测试垫组，并打开显示器；然后选择性开启测试垫组上的电压；又，开启调节器上的电压；再，开启检测系统的探测器的光源，搭配调节器对液晶面板进行扫描，最后透过检测系统的显示器，分析并判断液晶面板中阵列绕线组的状况。根据以上所述，检测员能直接通过检测系统观测到母基板之液晶面板中阵列绕线组的状况，更可针对阵列绕线的短路状态或是开路状态做检测。更重要的优点是，通过此检测方法，检测员可以精确找出阵列绕线存在异常的位置。 为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图1是现有技术的母基板的俯视图Ia是单个液晶面板的放大图2是本专利技术的母基板的俯视图2a是本专利技术的引出线连接结构的第--实施例的示意图图2b是本专利技术的引出线连接结构的第二二实施例的示意图图2c是本专利技术的引出线连接结构的第三Ξ实施例的示意图图3是本专利技术用所需检测系统进行检测的侧视图4是本专利技术检测方法的流程示意图5是本专利技术检测方法的第一实施例的示意图6是本专利技术检测方法的第二实施例的示意图。具体实施方式本说明书内容并不限制本专利技术范围。首先具有mXn结构的液晶面板阵列中的m、 η是可以取任意值的，因为在实际生产中，m、n在一定取值条件下是可以相互转换的；接着， 在说明书中提及的“依序” 一词，并不限制于是按本实施例中相同字母编号所做的电性连接，更可指依照一定规律的顺序所做的电性连接；其次，本说明书中涉及到的测试垫组包括的测试垫数目、测试线组包括的测试线数目、阵列绕线组包括的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，该母基板包括：一液晶面板阵列，其由多个液晶面板所构成，该液晶面板包括：一显示区、一栅极驱动区、一源极驱动区和一阵列绕线组，其中阵列绕线组由多条阵列绕线所构成；一测试区，其设置于该液晶面板阵列的周边，该测试区包括：一测试线组及一测试垫组，其中该测试线组与该测试垫组彼此电性连接，并该测试线组贯穿于该测试区与该液晶面板阵列间的区域或液晶面板阵列之液晶面板间的区域，又该测试线组由多条测试线所构成，该测试垫组由多个测试垫所构成；以及一引出线组，其设置于该液晶面板的阵列绕线组与该测试线组之间，并该引出线组一端与该阵列绕线组电性连接，另一端与该测试线组电性连接，其中该引出线组由多条引出线所构成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王明宗，
申请(专利权)人：深超光电深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94