二维样板测量机上超长实样的测量方法技术

本发明专利技术涉及一种二维样板测量机上超长实样的测量方法，其特征在于包括以下步骤：1）在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2）在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3）将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4）分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5）提取两次扫描的数据，并进行处理。该方法通过对超长二维实样实行正向和逆向的扫描，同时通过软件进行对接，从而完成二维实样的完整二维数据，使二维样板测量机不受实样长度的限制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，属于二维测量的

技术介绍
对于钣金件成型，通常都会有下料样板，而此样板一般是由钣金厂手工校正二维下料实样后，交给样板车间手工复制成下料样板，最后，钣金厂再按下料样板进行手工下料生产。由于都是手工加工，很显然既费时有费力，同时精度又不高，为此，我们引进二维样板测量机，把二维下料实样外形逆向扫描生成数据，然后钣金厂按此数据进行数控加工，从而实现了数字化生产，提高了加工质量和效率。但在扫描时，由于设备工作区域有限，一些超过2米长的二维实样则无法扫描生产数据。使购买的二维样板测量机使用产生局限性。
技术实现思路
本专利技术涉及一种，该方法通过对超长二维实样实行正向和逆向的扫描，同时通过软件进行对接，从而完成二维实样的完整二维数据， 使二维样板测量机不受实样长度的限制。为解决以上问题，本专利技术的具体技术方案如下一种，其特征在于包括以下步骤1)在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2)在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3)将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4)分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5)提取两次扫描的数据，并进行处理 5. 1)自动识别标签A和B的基准；5. 2)将两次扫描数据以标签A、B的基准进行旋合；5. 3)删除标签A、B的所有特征；5. 4)删除图形的所有重复线条；5. 5)检查线条并使图形线条连贯；5. 6)调整整个图形至水平位置；5. 7)超长实样测量完成。该采用识别标签，并通过软件的识别和整理，使实样的二维数据完整无误的拼接，不仅扩大了原二维样板测量机的应用范围，而且提高了工作效率。附图说明图1是识别标签A的外形图。图2是识别标签B的外形图。图3实样扫描示意图。图中，1、区域I ；2、区域II ;3、公共区域；4、识别标签A ;5、识别标签B。 具体实施例方式一种，其特征在于包括以下步骤1)在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域，即图3 中的区域I 1和区域II 2，它们的重叠部分在两条线之间即为公共区域3 ；2)在实样公共区域3的侧面，分别粘贴透明的识别标签A4和标签B5，如图1和2所示， 并且标签A和B分别设有不同的基准，本实施例中标签A、B的基准为小实心圆和同心圆圈， 并且其数量和分别不同；3)将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4)分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域3；5)提取两次扫描的数据，并进行处理 5. 1)自动识别标签A和B的基准；5. 2)将两次扫描数据以标签A、B的基准进行旋合；5. 3)删除标签A、B的所有特征；5. 4)删除图形的所有重复线条；5. 5)检查线条并使图形线条连贯；5. 6)调整整个图形至水平位置；5. 7)超长实样测量完成。权利要求1. 一种，其特征在于包括以下步骤1)在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2)在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3)将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4)分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5)提取两次扫描的数据，并进行处理 5. 1)自动识别标签A和B的基准；·5. 2)将两次扫描数据以标签A、B的基准进行旋合；·5. 3)删除标签A、B的所有特征；·5. 4)删除图形的所有重复线条；·5. 5)检查线条并使图形线条连贯；·5. 6)调整整个图形至水平位置；·5. 7)超长实样测量完成。全文摘要本专利技术涉及一种，其特征在于包括以下步骤1)在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2)在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3)将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4)分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5)提取两次扫描的数据，并进行处理。该方法通过对超长二维实样实行正向和逆向的扫描，同时通过软件进行对接，从而完成二维实样的完整二维数据，使二维样板测量机不受实样长度的限制。文档编号G01B21/00GK102322831SQ20111016043公开日2012年1月18日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日专利技术者张云鹏, 白杨, 薛影 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种二维样板测量机上超长实样的测量方法，其特征在于包括以下步骤：１）在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；２）在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签Ａ和Ｂ，并且标签Ａ和Ｂ分别设有不同的基准；３）将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；４）分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；５）提取两次扫描的数据，并进行处理：５．１）自动识别标签Ａ和Ｂ的基准；５．２）将两次扫描数据以标签Ａ、Ｂ的基准进行旋合；５．３）删除标签Ａ、Ｂ的所有特征；５．４）删除图形的所有重复线条；５．５）检查线条并使图形线条连贯；５．６）调整整个图形至水平位置；５．７）超长实样测量完成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张云鹏，白杨，薛影，
申请(专利权)人：沈阳飞机工业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：89