在重复进行对整个规定质量范围进行的质量扫描的扫描测量中，由于在使电压从一次扫描的结束电压恢复到下一次扫描的开始电压时发生下冲等而导致电压值变得不稳定，因此需要合适的等待时间。以往，该等待时间与分析条件无关而设为固定的值。与此相对地，在本发明专利技术所涉及的四极型质量分析装置中，根据所指定的质量范围计算扫描结束质量与扫描开始质量的质量差ΔM，根据该质量差设定不同的调节时间。在质量差ΔM较小而稳压时间较短即可的情况下，设定相对较小的调节时间。由此，质量扫描的重复周期变短，时间分辨率提高。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种使用了四极型质量过滤器作为根据质量(严格地说是根据m/z) 来分离离子的质量分析器的四极型质量分析装置。
技术介绍
作为质量分析装置之一，已知一种在根据质量来分离离子的质量分析器中使用了四极质量过滤器的四极型质量分析装置。图6是普通的四极型质量分析装置的概要结构图。在离子源1中将试样分子离子化，所产生的离子被离子透镜等离子输送光学系统 2聚集(有时也被加速)，并导入到四极质量过滤器3的长轴方向的空间中。四极质量过滤器3由围绕离子光轴C平行配置的4个(图6中仅描绘了 2个)杆电极构成。对各杆电极分别施加将直流电压士U与高频电压士V*COSon相加得到的电压士(U+V*COSon)，根据该施加电压仅选择性地使具有特定质量的离子穿过长轴方向的空间，除此以外的离子在中途发散。检测器4输出与穿过了四极质量过滤器3的离子的量相应的电信号。如上所述，由于通过四极质量过滤器3的离子的质量与对杆电极施加的施加电压相应地改变，因此通过扫描该施加电压，能够扫描整个规定质量范围内的要到达检测器4 的离子的质量。这就是四极型质量分析装置中的扫描测量。例如气相色谱质量分析装置 (GC/MS)、液相色谱质量分析装置(LC/MS)等那样，在导入到质量分析装置中的试样成分随着时间的经过而发生变化的情况下，通过重复进行上述扫描测量，能够大致连续地检测依次出现的各种成分。图7是概要性地表示在重复进行扫描测量时到达检测器4的离子的质量变化的图。在这样的扫描测量中，使对杆电极施加的施加电压从与最小质量Ml相对应的电压开始慢慢地增加，当达到与最大质量M2相对应的电压时，使电压迅速返回到与最小质量 M 1相对应的电压。当这样急剧地改变电压时，无法避免过冲(overshoot) (undershoot 下冲)的产生，因此在改变电压之后直到电压稳定为止需要等待时间(setting time:调节时间)。例如，在专利文献1中记载了在选择离子监控(SIM)测量中设置调节时间是不可避免的，这在扫描测量中也是相同的。由此，如图7所示，按每一次的质量扫描设置调节时间。在该调节时间的期间内，不对导入到离子源1的成分实施质量分析。因而，调节时间越长质量扫描的时间间隔越长，也就是说，质量扫描的周期变长，从而时间分辨率下降。另外，通常，在质量分析装置中，当用户指定想要观察的质量范围(图7的例子中是Ml M2)时，制作该范围的质谱，但是作为装置的内部动作，对与所指定的质量范围相比上下扩展了规定宽度后的质量范围执行质量扫描。即，即使在指定了 Ml M2的质量范围的情况下，也是以Ml Δ Ml为质量扫描的起点、以Μ2+ΔΜ2为质量扫描的终点来执行质量扫描。这是因为最初的目标离子从入射到四极质量过滤器起直到射出为止要花费时间，因此导致在目标离子出射之前残留在四极质量过滤器3内部的不期望的离子到达检测器4， 从而无法获得正确的信号强度。列举一例，在想要观察的质量范围是m/z为100 1000的情况下，对在该质量范围的上下分别确保了 m/z为10的扫描余量的、m/z为90 1010的质量范围执行扫描。这样，设置在制作质谱所需要的质量范围的外侧的用于稳定地进行测量的扫描余量的期间也与上述调节时间同样地，对于实质的质量分析来说是无用的期间。因而，为了提高分析的时间分辨率，最好也尽可能地缩小该扫描余量宽度。专利文献1 日本特开2000-195464号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题本专利技术是鉴于上述问题而完成的，其主要目的在于提供如下一种四极型质量分析装置在重复进行规定质量范围内的质量扫描的情况下或者在重复进行依次设定规定的多个质量的情况下，通过尽可能地缩短对于实质的质量分析来说无用的时间，来缩短重复周期，从而提高时间分辨率。用于解决问题的方案为了解决上述问题而完成的第一专利技术是一种四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量或者执行使依次设定多个质量的周期重复的测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，具备a)四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及b)控制单元，在进行扫描测量或者进行使依次设定多个质量的周期重复的测量时，该控制单元在控制上述四极驱动单元以与质量相应地扫描或者改变对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压的情况下，根据周期的开始质量与结束质量之间的质量差来改变从一个周期的结束起到下一周期的开始为止的等待时间。在此，作为使依次设定多个质量的周期重复的测量，例如列举选择离子监控(SIM) 测量、选择性更高的利用MS/MS分析的MRM测量等。在以往的四极型质量分析装置中，与扫描测量时的质量范围等分析条件无关地， 从一次质量扫描的结束时刻起到下一次质量扫描的开始时刻为止的等待时间是固定的。与此相对地，在第一专利技术所涉及的四极型质量分析装置中，控制单元进行控制使得在扫描测量中，扫描开始质量与扫描结束质量之差越小，等待时间(调节时间)越短。如果扫描开始质量与扫描结束质量之差较小，则对构成四极质量过滤器的电极施加的施加电压恢复到与扫描开始质量相对应的电压时的过冲(下冲)相对较小，直到电压稳定为止的时间较短。因而，即使缩短上述等待时间，也能够从电压足够稳定的状态开始下一次的质量扫描。由此，对收集质量分析数据不作贡献的无用的等待时间变短，能够缩短扫描测量中的质量扫描的重复周期。这不仅适用于广泛地扫描规定的质量范围的扫描测量， 也同样适用于在一个周期中设定的质量数量非常少的SIM测量、MRM测量。为了解决上述问题而完成的第二专利技术是四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，具备a)四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及b)控制单元，在进行扫描测量时，该控制单元设定针对所指定的质量范围的位于该范围之上和之下的至少一方的扫描余量，控制上述四极驱动单元以扫描对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压来对增加了与该扫描余量相应的量的质量范围进行扫描，并且该控制单元根据扫描速度改变上述扫描余量的质量宽度。在以往的四极型质量分析装置中，与上述等待时间(调节时间)同样地，与扫描速度等条件无关地，扫描余量的质量宽度(以下称为扫描余量宽度)也是固定的。与此相对地，在第二专利技术所涉及的四极型质量分析装置中，控制单元进行设定使得所指定的扫描速度越小(慢)，扫描余量宽度越短。扫描速度越小，对于同一扫描余量宽度的扫描时间越长。 换言之，在扫描速度较小的情况下，即使减小扫描余量宽度，也能够确保与扫描速度较大且扫描余量宽度较大的情况相同程度的时间余裕。在该时间余裕的期间，能够排除残留在四极质量过滤器内部的不需要的离子而使最初的目标离子通过四极本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种四极型质量分析装置，具备四极质量过滤器和检测器，上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过，上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测，该四极型质量分析装置执行扫描测量或者执行使依次设定多个质量的周期重复的测量，在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复，该四极型质量分析装置的特征在于，还具备：ａ）四极驱动单元，其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压；以及ｂ）控制单元，在进行扫描测量或者进行使依次设定多个质量的周期重复的测量时，该控制单元在控制上述四极驱动单元以与质量相应地扫描或者改变对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压的情况下，根据周期的开始质量与结束质量之间的质量差来改变从一个周期的结束起到下一周期的开始为止的等待时间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：向畑和男，中野茂畅，藤本穰，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：JP
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