质量分析装置制造方法及图纸

技术编号:10833343 阅读:124 留言:0更新日期:2014-12-27 17:55
在基准CV值计算数据存储部(44)中存储预先实验性地求出的表示离子数与CV值的关系的公式。当在循环时间Tp、滞留时间Td等测量条件下对目标试样执行质量分析时,色谱制作部(41)基于分析结果制作色谱并求出峰面积值A。CV值关联信息计算部(43)通过X=A·(Td/Tp)来计算离子数X,基于存储部(44)中存储的公式来计算与离子数对应的CV值。这是仅包含数据的统计上的误差因素的基准CV值,因此通过将实测CV值与基准CV值以能够进行比较的方式进行显示,分析者能够判断实测数据是否优良等,该实测CV值是基于与多次测量对应的实际的峰面积值的误差而计算出的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】质量分析装置
本专利技术涉及一种利用脉冲计数型检测器来作为离子检测器的质量分析装置,更为详细地说,例如涉及一种如液相色谱质量分析装置(LC/MS)那样能够通过反复执行的质量分析来制作色谱的质量分析装置。
技术介绍
作为评价分析装置的性能的一个重要因素,存在数据的再现性。作为定量地表示再现性的指标,经常利用将标准偏差STDEV除以平均值Average再乘以100而得到的CV (Coefficient of Variat1n)值(有时也被称为变动系数、相对标准偏差等)。例如在使用了液相色谱质量分析装置(LC/MS)的定量分析的情况下,基于测量已知浓度的试样而得到的结果来预先制作校准曲线,但在决定校准点时CV值也非常重要。例如在美国食品药品监督管理局(FDA)的基准中,作为定量下限(LOQ = Limit of Quantitat1n)的校准点处的CV值被定为20%以下,除此以外的校准点处的CV值被定为15%以下。 一般情况下,根据多个色谱峰的面积值来计算LC/MS等色谱装置的CV值(参照专利文献I等)。然而,通常在基于某个通过测量而得到的色谱来计算出的CV值中除了包含统计值的误差因素以外,还包含依赖于测量条件等的不稳定因素。去除这种由测量条件等导致的不稳定因素、如何能够求出稳定的再现性良好的数据,不仅在定量分析的精度上,而且在评价装置上也是重要的。 通过能够普遍获取的解析软件就能够容易地进行根据色谱峰的面积值计算CV值。然而,即使利用这样的方法求出CV值,也不能分离或者识别出由测量条件等导致的不稳定因素,因此分析者难以判断是否能够基于所得到的该实测CV值的结果来充分地发挥该装置的性能或者测量条件是否恰当等。 专利文献1:日本特开平7-83901号公报
技术实现思路
_6] 专利技术要解决的问题 本专利技术是为了解决上述问题而完成的,其主要目的在于提供如下一种质量分析装置:能够将仅包含数据的统计上的误差因素的CV值呈现为基准值,由此能够通过与实测CV值相比较来进行实测数据的评价等。另外,本专利技术的另一目的在于提供如下一种质量分析装置:能够根据作为目标的CV值来反向地导出适于实现该CV值的测量条件。 用于解决问题的方案 作为用于质量分析装置的离子检测器,大致利用测量离子电流的平均值、积分值的直流型检测器和将已到达的离子的个数作为脉冲信号来进行计数的脉冲计数型检测器。一般情况下大多利用前者的直流型检测器,但在信号强度低且化学噪声比较小的情况下,经常利用有利于测量微小离子量的后者的脉冲计数型检测器。例如,在对利用液相色谱仪进行成分分离而得到的试样液中的成分进行MS/MS分析(也叫作串联分析)的LC/MS/MS中,利用脉冲计数型检测器的情况比较多。 在使用了脉冲计数型检测器的质量分析装置中,信号强度用离子数来表示,因此与某种成分对应的色谱峰中包含的离子数能够根据该色谱峰面积值、滞留时间(DwellTime)以及循环时间(有时也称为周期时间)来计算,该滞留时间是用于检测源自该成分的离子的离子取入时间,该循环时间是对源自一个至多个测量对象成分的离子分别进行一次测量所需的测量周期。另一方面,本申请专利技术人发现了以下情况:与某种成分对应的色谱峰中包含的离子数与CV值的关系能够利用规定的公式来近似,而且该关系不依赖于装置、试样成分等的测量条件。因此,本申请专利技术人为了计算作为基准的CV值,想到要利用使用了脉冲计数型检测器的质量分析装置所特有的如上所述的关系。 即,为了解决上述问题而完成的本专利技术的质量分析装置以使一个或者多个试样成分的浓度的时间变化呈现峰的方式将试样导入到离子源,将该试样中的成分离子化并与质量电荷比相应地进行分离,利用脉冲计数型检测器进行检测,该质量分析装置的特征在于,具备: a)存储单元,其事先存储基于预备的实验的结果而得到的表示一个色谱峰中包含的离子数与CV值的关系式的信息,其中,该CV值是测量再现性的指标;以及 b)运算处理单元,其在被提供循环时间和滞留时间作为测量条件、并且被提供目标成分的色谱峰面积值作为实际的或者虚拟的测量结果时,根据所述循环时间、滞留时间以及色谱峰面积值来计算离子数,将求出的离子数代入基于上述存储单元中存储的信息的关系式来计算基准CV值,其中,该循环时间是反复进行每次检测源自所指定的一个或者多个成分的离子的测量时的一个测量周期,该滞留时间是用于在该循环时间内检测源自目标成分的尚子的时间。 在本专利技术所涉及的质量分析装置中,典型的是,通过流动注射(FIA)法被注入到流动相中的试样所含有的各种成分被导入到离子源,或者通过柱而发生成分分离的试样所含有的各种成分被导入到离子源。由此,被导入到离子源的试样成分的浓度以表示山形的峰的方式随时间变化,因此在对伴随时间推移的所有离子量作标记而得到的总离子色谱或者对伴随时间推移的特定的质量电荷比下的离子量作标记而得到的质量色谱中出现大致山形的峰。 在本专利技术所涉及的质量分析装置中,关于存储单元中存储的表示离子数与CV值的关系式的信息,例如能够基于由该装置的制造商实施预备实验而得到的结果来事先确定并存储。 在本专利技术所涉及的质量分析装置中,当在循环时间、滞留时间等测量条件下对目标试样执行质量分析时,基于其分析结果来制作色谱(总离子色谱或者质量色谱)。如上所述,在这样制作出的色谱中出现与目标成分对应的山形的峰。在此,运算处理单元例如针对所指定的色谱峰求出该峰面积值,将该峰面积值A以及作为测量条件的循环时间Tp和滞留时间Td的值应用于下面的(I)式,来计算所检测出的离子数X。 X = A* (Td/Tp)...(I) 另外,在LC/MS、GC/MS的定量分析中,预先基于对成分浓度不同的多个标准试样进行分析而得到的结果来制作表示成分浓度与色谱峰面积值的关系的校准曲线。在此,当指定了某种成分浓度时,运算处理单元可以对照校准曲线来求出色谱峰面积值,根据该峰面积值A、循环时间Tp以及滞留时间Td,通过上述(I)式来计算离子数X。 无论如何,当求出离子数X时,运算处理单元通过将所得到的离子数X应用于基于存储单元中存储的信息的关系式,来计算CV值。该CV值是不依赖于测量条件而相对于离子数唯一地确定的值,因此例如当对根据由多次测量得到的色谱峰面积的平均值、标准偏差而计算出的实测CV值进行显示输出时,如果将如上述那样得到的CV值作为基准值或者参照值同时显示,则易于评价实测CV值。另外,如上所述,色谱峰面积值依赖于其成分浓度,因此如果成分浓度不同,则基准CV值不同。在此,作为本专利技术所涉及的质量分析装置的一个方式,可以按多个成分浓度中的每个成分浓度(或者按每个不同的校准点),如上述那样将求出的基准CV值与实测CV值以能够进行比较的方式进行显示。 另外,在本专利技术所涉及的质量分析装置中,也可以设为以下结构:上述运算处理单元在被提供了 CV值时,将该CV值代入基于上述存储单元中存储的信息的关系式来计算离子数。即,也可以具有以下功能:与根据离子数求出CV值相反地,根据CV值逆运算离子数。 并且,也可以设为以下结构:上述运算处理单元在根据CV值计算出离子数之后,在确定了色谱峰面积值、滞留时间以及循环时间中的两个的条件下求出另一个。本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种质量分析装置,以使一个或者多个试样成分的浓度的时间变化呈现峰的方式将试样导入到离子源,将该试样中的成分离子化并与质量电荷比相应地进行分离,利用脉冲计数型检测器进行检测,该质量分析装置的特征在于,具备:a)存储单元,其事先存储基于预备的实验的结果而得到的表示一个色谱峰中包含的离子数与CV值的关系式的信息,其中,该CV值是测量再现性的指标;以及b)运算处理单元,其在被提供循环时间和滞留时间作为测量条件、并且被提供目标成分的色谱峰面积值作为实际的或者虚拟的测量结果时,根据所述循环时间、滞留时间以及色谱峰面积值来计算离子数,将求出的离子数代入基于上述存储单元中存储的信息的关系式来计算基准CV值,其中,该循环时间是反复进行每次检测源自所指定的一个或者多个成分的离子的测量时的一个测量周期,该滞留时间是用于在该循环时间内检测源自目标成分的离子的时间。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质量分析装置,以使一个或者多个试样成分的浓度的时间变化呈现峰的方式将试样导入到离子源,将该试样中的成分离子化并与质量电荷比相应地进行分离,利用脉冲计数型检测器进行检测,该质量分析装置的特征在于,具备: a)存储单元,其事先存储基于预备的实验的结果而得到的表示一个色谱峰中包含的离子数与CV值的关系式的信息,其中,该CV值是测量再现性的指标;以及 b)运算处理单元,其在被提供循环时间和滞留时间作为测量条件、并且被提供目标成分的色谱峰面积值作为实际的或者虚拟的测量结果时,根据所述循环时间、滞留时间以及色谱峰面积值来计算离子数,将求出的离子数代入基于上述存储单元中存储的信息的关系式来计算基准CV值,其中,该循环时间是反复进行每次检测源自所指定的一个或者多个成分的离子的测量时的一个测量周期,该滞留时间是用于在该循环时间内检测源自目标成分的离子的时间。...

【专利技术属性】
技术研发人员:朝野夏世
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:日本;JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1