微弱光探测器制造技术

技术编号:7003005 阅读:295 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种应用于弱光精密测量分析领域的微弱光探测器,包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖,探测器外筒的外侧有一平面,所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。本实用新型专利技术可将制冷系统和微弱光探测器各自模块化,根据需要自行选择是否加装制冷系统,进而提高了灵活性。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量微弱光的探测组件,应用于弱光精密测量分析领域,同 时在生物、医学、化学等各个领域的发光分析技术中也得到普遍应用。
技术介绍
微弱光检测技术最近在科学
中变得越来越重要,特别是在检测微弱散射 光的拉曼、瑞利散射、生物发光、化学发光、天文、荧光分析等方面,对微弱光检测技术的要 求越来越强烈,比如要求探测器具有计数稳定性高、抗干扰能力强、低噪声、高探测效率等 特点。低噪声微弱光探测器组件是微弱光检测设备中的关键部件,为了提高检测精度和 稳定性,减少外部环境对探测器件的影响,探测器的温漂是一个必须考虑和需要解决的问 题。对探测器件进行制冷是解决这一问题的有效办法,这种处理能够让探测器件保持在一 个相对恒定的、并且较低的温度下工作,减少周围环境的温度变化导致探测器件热噪声的 变化,影响测试的准确度和稳定性。目前该领域广为采用的方法是将制冷系统结合到光电倍增管上、共同内置于微弱 光探测器内对光电倍增管制冷,虽然这种方法能有效的解决探测器的温漂问题,但是,由于 其一体化的结构,使得那些对温度环境不敏感的探测器也必须强制制冷,进而增加了功耗 成本。技术内容本技术为解决现有技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微弱光探测器,包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖,其特征在于:探测器外筒的外侧有一平面,所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:谭永红申玲
申请(专利权)人:北京滨松光子技术股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1