微弱光探测器制造技术

一种应用于弱光精密测量分析领域的微弱光探测器，包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖，探测器外筒的外侧有一平面，所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。本实用新型专利技术可将制冷系统和微弱光探测器各自模块化，根据需要自行选择是否加装制冷系统，进而提高了灵活性。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量微弱光的探测组件，应用于弱光精密测量分析领域，同 时在生物、医学、化学等各个领域的发光分析技术中也得到普遍应用。
技术介绍
微弱光检测技术最近在科学
中变得越来越重要，特别是在检测微弱散射 光的拉曼、瑞利散射、生物发光、化学发光、天文、荧光分析等方面，对微弱光检测技术的要 求越来越强烈，比如要求探测器具有计数稳定性高、抗干扰能力强、低噪声、高探测效率等 特点。低噪声微弱光探测器组件是微弱光检测设备中的关键部件，为了提高检测精度和 稳定性，减少外部环境对探测器件的影响，探测器的温漂是一个必须考虑和需要解决的问 题。对探测器件进行制冷是解决这一问题的有效办法，这种处理能够让探测器件保持在一 个相对恒定的、并且较低的温度下工作，减少周围环境的温度变化导致探测器件热噪声的 变化，影响测试的准确度和稳定性。目前该领域广为采用的方法是将制冷系统结合到光电倍增管上、共同内置于微弱 光探测器内对光电倍增管制冷，虽然这种方法能有效的解决探测器的温漂问题，但是，由于 其一体化的结构，使得那些对温度环境不敏感的探测器也必须强制制冷，进而增加了功耗 成本。
技术实现思路
本技术为解决现有技术中微弱光探测器不能灵活运用制冷结构的问题，提供 了另一种微弱光探测器结构，微弱光探测器，包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测 器外筒后盖，探测器外筒的外侧有一平面，所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。由于本技术将制冷系统和微弱光探测器各自模块化，所以可根据需要自行选 择是否加装制冷系统，进而提高了灵活性。另外，本技术结构简单，制作工艺简单，在对 光电倍增管有效制冷的同时，具有较好的系统稳定性。附图说明图1是本技术结构示意图。具体实施方式以下结合附图，具体说明本技术的实施方式。如图1所示，微弱光探测器，包括制冷系统、探测器外筒4和光电倍增管5，制冷系 统包括散热器1和制冷片2，探测器外筒4具有一定厚度，其内侧能紧密包裹住光电倍增管 5 ；外筒4的外侧加工出一平面，平面的面积至少能全部放下制冷片2，即外筒4与制冷系统的冷面保证良好的全面接触。 为了保证良好的制冷效果，探测器外筒4可以使用导热良好的金属材料制成，比 如铝、铜、铁、钢等材料。在工作时，制冷片2通过探测器外筒4向光电倍增管5制冷，通过 散热器1进行散热。当然，为了更好的散热，制冷系统可以包括散热器1、制冷片2和在散热 器1上另加的风扇10，风扇10可以对散热器1良好散热，从而达到更佳的制冷目的。另外，现有技术中，探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖均使用同一种 金属材料制成，这样在制冷片制冷时比较耗费功率，因为有效的制冷部分仅仅在于光电倍 增管，并不需要对整个探测器外筒的内部进行制冷，而且，由于制冷系统内置于微弱光探测 器内，从而使探测器外筒的内部温度有所升高，光电倍增管5不能被更有效的制冷。本实用 新型可以进一步节省制冷功率、加强对光电倍增管的制冷效果，采取的方案是将探测器外 筒前盖8和探测器外筒后盖9换成不良导热的非金属材料，以确保制冷片2的冷面只将冷 气传给光电倍增管5，而不用对其他不必要的部位进行制冷。而且，由于制冷系统和微弱光 探测器各自模块化，所以探测器外筒不需要对制冷结构预留空间，减少了微弱光探测器的 体积，节省了空间。权利要求一种微弱光探测器，包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖，其特征在于探测器外筒的外侧有一平面，所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。2.根据权利要求1所述的微弱光探测器，其特征在于所述探测器外筒使用导热良好 的金属材料制成。3.根据权利要求2所述的微弱光探测器，其特征在于所述探测器外筒使用的金属材 料为铝。4.根据权利要求1或2所述的微弱光探测器，其特征在于所述探测器外筒前盖和所 述探测器外筒后盖由不良导热的非金属材料制成。5.根据权利要求1或2所述的微弱光探测器，其特征在于所述制冷系统包括制冷片 和散热器。6.根据权利要求1或2所述的微弱光探测器，其特征在于所述制冷系统包括制冷片、 散热器和置于散热器上的风扇。专利摘要一种应用于弱光精密测量分析领域的微弱光探测器，包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖，探测器外筒的外侧有一平面，所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。本技术可将制冷系统和微弱光探测器各自模块化，根据需要自行选择是否加装制冷系统，进而提高了灵活性。文档编号G01J1/04GK201611278SQ20102004678公开日2010年10月20日 申请日期2010年1月14日 优先权日2010年1月14日专利技术者申玲, 谭永红 申请人:北京滨松光子技术股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微弱光探测器，包括制冷系统、光电倍增管、探测器外筒、探测器外筒前盖和探测器外筒后盖，其特征在于：探测器外筒的外侧有一平面，所述平面与所述制冷系统的冷面全面接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭永红，申玲，
申请(专利权)人：北京滨松光子技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：11