用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制方法技术

一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构，其特征在于包括：一主集成电路；以及至少一副集成电路，耦接一触控面板与所述主集成电路，用以扫瞄所述触控面板；其中，所述至少一副集成电路扫瞄所述触控面板的扫瞄参数由所述主集成电路提供。本发明专利技术的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制方法具有大幅增加副IC的应用弹性及使用效能，不须更改硬件，不会增加制造成本，有效地改善取像速度和解决鬼点现象的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控面板，具体地说，是一种扫瞄触控面板的被动式集成电路架 构及其控制方法。
技术介绍
利用主动式集成电路(Integrated Circuit ；IC)架构扫瞄触控面板是一种已 知技术，所述主动式IC架构是预先在副(Slave)IC中配置扫瞄参数，例如扫瞄的线迹 (Trace)、模式、时机及模拟参数等，所述副IC根据所述扫瞄参数扫瞄所述触控面板，将扫 瞄数据传送给一主(Master)IC以进行判断。当触控面板的尺寸增加时，为了减少扫瞄时 间，会使用两颗以上的副IC对触控面板的不同区域同时进行扫瞄。由于每颗副IC的扫瞄 参数是事先定义的，且因为扫瞄的线迹不同而分别撰写不同的韧体及设定不同的模拟参 数，因此每颗副IC均为制式化规格，仅能扫瞄固定的线迹，无法与其它副IC交换使用，亦无 法根据其扫瞄结果重新配置新的扫瞄参数对特定区域再次进行扫瞄，除了缺少应用的弹性 外，更无法解决鬼点现象(Ghost phenomenon)。因此已知的主动式集成电路(Integrated Circuit ；IC)架构扫瞄触控面板存在 着上述种种不便和问题。
技术实现思路
本专利技术的目的，在于提出一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制 方法。本专利技术的另一目的，在于提出一种增加应用弹性的被动式集成电路架构及其控制 方法。本专利技术的又一目的，在于提出一种解决鬼点现象的被动式集成电路架构及其控制 方法以。为实现上述目的，本专利技术的技术解决方案是一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构，其特征在于包括一主集成电路；以及至少一副集成电路，耦接一触控面板与所述主集成电路，用以扫瞄所述触控面 板；其中，所述至少一副集成电路扫瞄所述触控面板的扫瞄参数由所述主集成电路提{共。本专利技术的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构还可以采用以下的技术措施 来进一步实现。前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄参数包括扫瞄的线迹、扫瞄模式及扫 瞄模拟参数。前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄模式包括循序扫瞄或指定扫瞄。前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄模拟参数包括增益、扫瞄时间及位移 准位。前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路在未接获所述扫瞄参数 期间为闲置待命状态。前述的被动式集成电路架构，其中所述主集成电路接收来自所述至少一副集成电 路的扫瞄数据并进行判断，以决定是否重新设定所述至少一副集成电路的扫瞄参数，使所 述至少一副集成电路再次扫瞄所述触控面板。前述的被动式集成电路架构，其中所述重新设定的扫瞄参数包括扫瞄所述触控面 板的部分区域。前述的被动式集成电路架构，其中所述部分区域包括可能发生鬼点现象的区域。前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路包括数组电容式触控集 成电路。前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路具有相同的韧体。前述的被动式集成电路架构，其中更包括一通用传输接口连接在所述主集成电路 及所述至少一副集成电路之间。前述的被动式集成电路架构，其中所述通用传输接口包括I2C或SPI。一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构的控制方法，其特征在于包括下列 步骤藉一主集成电路产生一指令；根据所述指令设定至少一副集成电路扫瞄一触控面板的扫瞄参数；以及所述至少一副集成电路因应所述指令以所述扫瞄参数扫瞄所述触控面板。本专利技术的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构的控制方法还可以采用以下 的技术措施来进一步实现。前述的方法，其中所述根据所述指令设定所述扫瞄参数的步骤包括设定扫瞄的线 迹、扫瞄模式及扫瞄模拟参数。前述的方法，其中更包括下列步骤所述至少一副集成电路将扫瞄数据传送至所述主集成电路；以及所述主集成电路对所述扫瞄数据进行判断，决定是否产生一第二指令以重新设定 所述至少一副集成电路的扫瞄参数，使所述至少一副集成电路根据所述第二指令再次扫瞄 所述触控面板。前述的方法，其中所述再次扫瞄所述触控面板的步骤包括扫瞄所述触控面板中可 能发生鬼点现象的区域。前述的方法，其中更包括经一通用传输接口传送所述指令至所述至少一副集成电路。前述的方法，其中更包括经一通用传输接口传送所述扫瞄数据至所述主集成电路。采用上述技术方案后，本专利技术的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控 制方法具有以下优点1.大幅增加副IC的应用弹性及使用效能。2.不须更改硬件，不会增加制造成本。3.有效地改善取像速度。4.解决鬼点现象。附图说明图1为本专利技术的第一实施例的示意图；图2为主IC设定副IC扫瞄线迹及扫瞄模拟参数的示意图；图3为主IC设定副IC扫瞄线迹的组合的示意图；图4为线迹组合的示意图；图5为主IC设定副IC扫瞄模式的示意图；图6为主IC设定副IC扫瞄模式的示意图；图7为本专利技术的第二实施例的示意图；以及图8为本专利技术的第三实施例的示意图。图中，10、被动式IC架构12、主IC 13、通用传输接口 14、副IC 16、触控面板18、可 能的鬼点位置20、可能的鬼点位置22、被动式IC架构24、副IC 26、副IC 30、副IC 32、副 IC 34、副IC 36、副IC 38、区域40、区域42、区域44、区域。具体实施例方式以下结合实施例及其附图对本专利技术作更进一步说明。现请参阅图1，图1为本专利技术的第一实施例的示意图。如图所示，所述被动式 (Passive) IC架构10用以扫瞄触控面板16。所述触控面板16具有做为感应线的线迹TRO 至TRm，被动式IC架构10包括一主IC 12及一副IC 14连接触控面板16，例如，连接线迹 TRO至TRm。主IC 12通过通用传输接口 13控制副IC 14扫瞄触控面板16的动作及提供 所需的扫瞄参数。在一实施例中，主IC 12产生指令通过通用传输接口 13传送给副IC 14 以设定其扫瞄触控面板16的扫瞄参数，副IC 14因应所述指令以所述扫瞄参数扫瞄触控面 板16。例如，主IC12经由所述指令设定副IC 14扫瞄线迹TRO至TRm，副IC 14因应所述 指令对线迹TRO至TRm进行扫瞄。副IC 14将扫瞄后得到的扫瞄数据通过通用传输接口 13 传送给主IC 12，主IC 12对来自副IC 14的扫瞄数据进行判断，以决定是否重新设定副IC 14的扫瞄参数，令副IC 14再次扫瞄触控面板16。例如，当来自副IC 14的扫瞄资料经主 IC 12判断，认为有鬼点现象时，主IC 12产生新的指令设定副IC 14扫瞄触控面板16的部 分区域，例如可能发生鬼点现象的区域，因此副IC 14因应所述新的指令扫瞄可能的鬼点 位置18及20上的线迹TRk、TRi、TRh及TRj，再由主IC 12根据扫瞄数据判断对象在触控 面板16上的真实位置，解决鬼点现象。在一实施例中，当主IC 12认为来自副IC 14的扫 瞄数据出现异常时，例如模拟数字转换(Analogy DigitalConvert ；ADC)值过高或过低时， 主IC 12将重新设定副IC 14的扫瞄参数，令副IC 14再次扫瞄触控面板16。在本实施例中，副IC 14采用现有的触控(TouchPad) IC,例如数组电容式 (Projected Capacitance)触控IC，因此不须更改硬件，不会增加制造成本。通用传 输接口 13包括内部整合电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构，其特征在于包括：一主集成电路；以及至少一副集成电路，耦接一触控面板与所述主集成电路，用以扫瞄所述触控面板；其中，所述至少一副集成电路扫瞄所述触控面板的扫瞄参数由所述主集成电路提供。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林旻致，吴珈穆，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71