【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种EEPROM器件测试电路及其测试方法。
技术介绍
EEPROM存储器在人们的生产、生活中具有广泛的应用和前景。随着存储器容量的 不断提高、存储器产品开发速度的不断提升，快速、高效的产品测试能力逐渐成为整个产品 开发过程中至关重要的环节。存储器产品开发中如何找到一种快速、低成本的测试方法，即 能满足产品开发需要又可以灵活支持各种不同测试需求，以完成更复杂和更高批量的测试 是摆在存储器产品开发者面前必须解决的重要问题。传统的EEPROM测试中为了实现批量测试都是利用在一条IO 口线上并联芯片或者 在一条IO线上连接一颗芯片的方法，传统的EEPROM存储器功能测试电路如图1所示，电路 包括一控制器1，和连接在该控制器1，的IO 口线上的η个被测器件2，，且控制器1，的每 根IO 口线上最多可并联8个被测器件2’，即8个被测器件2’的IO 口共用一条数据线与控 制器1’连接。然而因为控制器1’驱动能力的限制，不可能同时测试更多的被测器件2’ ； 另外，因为被测器件2’并不一定具有片选地址线，因此，控制器1’将不能时时监控每个被 测器件2’的状态；而现...
【技术保护点】
一种ＥＥＰＲＯＭ器件测试电路，其特征在于，所述的测试电路包括一主控制器、一与该主控制器的第一ＩＯ口的数据线连接的测试单元和一与所述主控制器的第二ＩＯ口的控制线连接的译码电路，所述的主控制器一方面向所述的测试单元输出测试启动信号，另一方面接收该测试单元输出的测试数据，生成并存储相应的统计分析信息；所述的译码电路从所述主控制器接收到译码信号，将该主控制器第二ＩＯ口的控制线的地址译码成行控制线和列控制线的地址，并将所述行控制线和列控制线的地址设置为高电平或低电平；所述的测试单元通过所述行控制线和列控制线与译码电路连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘新东，向中文，
申请(专利权)人：上海贝岭股份有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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