检测面检测结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测面检测结构，该检测结构包括：检测销、检测指针、弹簧、手柄球、以及支架。本实用新型专利技术检测面检测结构中设有检测销且检测销上设有刻度，使用本检测面检测结构对被检产品检测面进行实际检测时，通过读取检测指针指向的检测销上的刻度值就可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值即可以对被检产品检测面进行量化检测。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测面检测结构，特别是涉及一种可以对检测面进行量化检测的检测面检测结构。
技术介绍
检具作为控制产品各种尺寸的简捷工具，用于工业生产企业中可以提高企业的生产效率和控制产品的质量，并且尤其适用于大批量产品的生产。在设计制造产品检具的过程中，需要同时考虑测量方法和测量工具的应用。比如在检测产品是否偏出间隙面时，需要再设计一个止通规检具对该产品进行检测，即按被检测产品间隙面允许偏差的上限做止端，按被检测产品间隙面允许偏差的下限做通端，检验时，若止端能通过，说明产品间隙面大了，不合格，且不能进行再加工；若通端不能通过，则说明产品间隙面小了，也是不合格， 但是可以通过再加工使之合格。但是，采用上述传统的检测方法，他们都存在一个共同的问题不能直接看出产品的具体偏差值即不能对被检产品的偏差值进行量化检测。综上所述，亟待解决的问题是，需要对传统的用于检测产品间隙面的检具进行改进，使其不仅可以检测出被检产品是否合格，而且可以检测出被检产品间隙面的具体偏差值即可以对被检产品进行量化检测。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是，提供一种检测面检测结构，其可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值即可以对被检产品检测面进行量化检测而不仅仅是检测出被检产品检测面是否合格两种状态。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是一种检测面检测结构，该检测结构包括检测销、检测指针、弹簧、手柄球、以及支架，其中，所述检测销穿过所述支架， 所述检测销上设有刻度；所述支架上安装有检测指针，该检测指针位于所述检测销的刻度处；所述手柄球固定于所述检测销的一端；所述弹簧一端作用于所述支架一侧，另一端作用于所述手柄球上。进一步，本技术检测面检测结构中，所述检测销的外部包裹有防转套，该防转套位于所述支架内部，该防转套一侧设有凹陷，该凹陷与防转销结合。本技术的优点是，本技术检测面检测结构中设有检测销且检测销上设有刻度，使用本检测面检测结构对被检产品检测面进行实际检测时，通过读取检测指针指向的检测销上的刻度值就可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值即可以对被检产品检测面进行量化检测。附图说明图1为本技术检测面检测结构的整体结构示意图；图2为图1所示的检测面检测结构沿A-A线的剖视图。具体实施方式为进一步揭示本技术的技术方案，兹结合附图详细说明本技术的实施方式。图1为本技术检测面检测结构的整体结构示意图，图2为图1所示的检测面检测结构沿A-A线的剖视图，结合以上附图可知，本检测面检测结构包括检测销11、检测指针12、弹簧13、手柄球14、以及支架16，其中，所述检测销11穿过所述支架15，所述检测销11上设有刻度15 ；所述支架15上安装有检测指针12，该检测指针12位于所述检测销 11的刻度15处；所述手柄球14固定于所述检测销11的一端；所述弹簧13 —端作用于所述支架16—侧，另一端作用于所述手柄球14上。为了防止所述检测销11在检测过程中自身发生转动影响检测结果，进一步提高本检测面检测结构的检测精度，所述检测销11的外部包裹有防转套21，该防转套21位于所述支架16内部，该防转套21—侧设有凹陷，该凹陷与防转销22结合。以下结合图1和图2说明本技术在实际检测时的动作情况。检测时，固定被检产品，通过所述推动手柄球14，使得所述检测销11的检测头与被检产品检测面接触，此时读取所述检测指针12指向的所述检测销11上的刻度值就可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值即可以对被检产品检测面偏差值进行量化检测，检测完成后，松开所述手柄球14，通过所述弹簧13的弹力使得所述检测销11自动恢复至最初状态。采用以上技术方案通过简单的几个步骤就可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值，操作简单。另外，所述检测销11的外部包裹有防转套21，该防转套21位于所述支架16内部，该防转套21—侧设有凹陷，该凹陷与防转销22结合，因此，上述结构可以防止所述检测销11在检测过程中自身发生转动而影响检测精度。以上通过对所列实施方式的介绍，阐述了本技术的基本构思和基本原理。但本技术绝不限于上述所列实施方式，凡是基于本技术的技术方案所作的等同变化、改进及故意变劣等行为，均应属于本技术的保护范围。权利要求1 一种检测面检测结构，其特征在于，该检测结构包括检测销(11)、检测指针(12)、 弹簧(13)、手柄球(14)、以及支架(16)，其中，所述检测销(11)穿过所述支架(15)，所述检测销(11)上设有刻度(15)；所述支架(15)上安装有检测指针(12)，该检测指针(12)位于所述检测销(11)上的刻度(15)处；所述手柄球(14)固定于所述检测销(11)的一端；所述弹簧(13)—端作用于所述支架(16)—侧，另一端作用于所述手柄球(14)上。2.根据权利要求1所述的检测面检测结构，其特征在于，所述检测销(11)的外部包裹有防转套(21)，该防转套(21)位于所述支架(16)内部，该防转套(21)—侧设有凹陷，该凹陷与防转销(22)结合。专利摘要本技术公开了一种检测面检测结构，该检测结构包括检测销、检测指针、弹簧、手柄球、以及支架。本技术检测面检测结构中设有检测销且检测销上设有刻度，使用本检测面检测结构对被检产品检测面进行实际检测时，通过读取检测指针指向的检测销上的刻度值就可以直接测出被检产品检测面的具体偏差值即可以对被检产品检测面进行量化检测。文档编号G01B5/02GK202083313SQ20112007846公开日2011年12月21日 申请日期2011年3月23日 优先权日2011年3月23日专利技术者董力, 陈鑫 申请人:昆山若宇检具工业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种检测面检测结构，其特征在于，该检测结构包括：检测销（１１）、检测指针（１２）、弹簧（１３）、手柄球（１４）、以及支架（１６），其中，所述检测销（１１）穿过所述支架（１５），所述检测销（１１）上设有刻度（１５）；所述支架（１５）上安装有检测指针（１２），该检测指针（１２）位于所述检测销（１１）上的刻度（１５）处；所述手柄球（１４）固定于所述检测销（１１）的一端；所述弹簧（１３）一端作用于所述支架（１６）一侧，另一端作用于所述手柄球（１４）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董力，陈鑫，
申请(专利权)人：昆山若宇检具工业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32