减少开关电容采样噪声的技术制造技术

技术编号:6937877 阅读:306 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种新型基于开关电容的采样技术,与传统的采样技术相比,该发明专利技术通过额外增加一个采样阶段的电容,大幅度降低采样过程中由于开关电阻引入的热噪声,该热噪声往往是电路精度的瓶颈,另一方面,该额外引入的采样电容并不会对开关电容的积分阶段产生影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路领域,尤其涉及基于开关电容的采样技术。
技术介绍
开关电容技术是电路技术中应用非常多,广泛应用于高精度模数/数模转换器, 电荷泵,滤波器等,特别对于高精度模数/数模转换器,往往采用Delta-sigma结构,而这种结构的核心在于开关电容积分器,其精度也受限于开关电容采样噪声。如附图说明图1所示,传统的开关电容积分器结构。该电路工作分为两个阶段,采样阶段和积分阶段。在采样阶段,如图2所示。开关Sl和S3闭合,输入信号对电容Cl进行充电。采Vin样结束时,电容Cl上的电量为由于开关在闭合时可等效为电阻,假设其阻值为R,则其热噪声功率谱密度为4kTR,其中k为波尔兹曼常数,T为温度,R为电阻值。由该电阻和电容构成的系统函数为^^·因此输出端的等效噪声均方值为权利要求1.一种基于开关电容的新型采样电路,该电路通过在采样阶段引入额外的电容,可以有效地降低由于开关等效电阻引入的热噪声,即大幅度提高采样精度。同时在采样阶段断开该电容与电路的联系,使之不会对积分电路造成影响。即不会影响原电路的积分系数。2.如权利要求1,该电路的特征在于额外的采样电容,该电容与原采样电容在采样阶段进行并联。3.如权利要求2,该电路的特征在于引入额外的采样电容降低采样噪声,却在积分阶段将其断开,使该电容不会在积分阶段给电路引入额外负担,也不会影响电路的积分系数。全文摘要本专利技术公开了一种新型基于开关电容的采样技术,与传统的采样技术相比,该专利技术通过额外增加一个采样阶段的电容,大幅度降低采样过程中由于开关电阻引入的热噪声,该热噪声往往是电路精度的瓶颈,另一方面,该额外引入的采样电容并不会对开关电容的积分阶段产生影响。文档编号H03B29/00GK102281033SQ20111008062公开日2011年12月14日 申请日期2011年3月30日 优先权日2011年3月30日专利技术者张耀国, 程玉华 申请人:上海北京大学微电子研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于开关电容的新型采样电路,该电路通过在采样阶段引入额外的电容,可以有效地降低由于开关等效电阻引入的热噪声,即大幅度提高采样精度。同时在采样阶段断开该电容与电路的联系,使之不会对积分电路造成影响。即不会影响原电路的积分系数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张耀国程玉华
申请(专利权)人:上海北京大学微电子研究院
类型:发明
国别省市:31

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