【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及联轴器加工的检测
,具体为。
技术介绍
对于联轴器内的通长键槽,一般需要检测键槽宽度两边相对于中心线的对称度, 以往的检测多是将待检测联轴器放置于检测平台上,人工用千分尺进行测量,其缺点在于 受检测平台本体基准精度低的影响,其检测精度低,同时人工用千分尺进行测量易受人为因素影响,导致其测量不准确,检测效率低。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术提供了,其能有效避免以往人工检测受检测平台本体精度影响而导致的检测精度低的问题,并有效减少人为检测的影响,测量准确、效率高。其技术方案是这样的,其特征在于 其包括以下检测步骤1、将待检测联轴器放置于V型铁上,所述的V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在所述待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;2、用千分表校对所述对称度测量块上端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm 时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值Hl并记录;3、将所述待检测联轴器连同插装于所述键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对所述对称度测量块下端面水平度,当所述千分表跳动不大于0. 005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;4、根据所测量的Hl与H2值,进行对称度值的计算;5、将所述L形对称度测量块插入到所述待检测联轴器的另一端键槽内,重复步骤2 步骤4,测得另一端键槽对称度值。其进一步特征在于所述L形对称度测量块的上端面与下端面平行;所述L形对称度测量块的厚度与所述待检测联轴器的键槽宽度相同;所 ...
【技术保护点】
1.一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于:其包括以下检测步骤:⑴将待检测联轴器放置于V型铁上,所述的V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在所述待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;⑵用千分表校对所述对称度测量块上端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值H1并记录;⑶将所述待检测联轴器连同插装于所述键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对所述对称度测量块下端面水平度,当所述千分表跳动不大于0.005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;⑷根据所测量的H1与H2值,进行对称度值的计算;⑸将所述L形对称度测量块插入到所述待检测联轴器的另一端键槽内,重复步骤⑵~步骤⑷,测得另一端键槽对称度值。
【技术特征摘要】
1.一种联轴器键槽对称度检测方法,其特征在于其包括以下检测步骤⑴将待检测联轴器放置于V型铁上,所述的V型铁放置于五面体加工机床的工作台,在所述待检测联轴器的一端键槽内插入L形对称度测量块;⑵用千分表校对所述对称度测量块上端面水平度,当所述千分表跳动不大于0. 005mm 时,通过所述五面体加工机床数控程序检测所述对称度测量块上端面至检测基准的高度值 Hl并记录; ⑶将所述待检测联轴器连同插装于所述键槽内的对称度测量块一起翻转180度,用千分表校对所述对称度测量块下端面水平度,当所述千分表跳动不大于0. 005mm时,通过所述五面体加工机床数控程序自动检测所述对称度测量块下端面至检测基准的高度值H2并记录;⑷根据所测量的Hl与H2值,进行对称度值的计算;(5...
【专利技术属性】
技术研发人员:王可君,
申请(专利权)人:日立泵制造无锡有限公司,
类型:发明
国别省市:32
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