液晶元件的光学参数量测方法及光学参数量测装置制造方法及图纸

一种液晶元件的光学参数量测方法，包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射液晶元件局部面积的偏振光束；(B)使该光束依序通过一相位延迟片与待测的液晶元件，并将穿透液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；(C)连续地以一预定角度旋转该相位延迟片，并每旋转一次就撷取该平行偏振光束所产生的第一图像画面，以及该垂直偏振光束所产生的第二图像画面；(D)分析所述第一图像画面与所述第二图像画面，以获得该平行偏振光束与该垂直偏振光束两者的光强度比值；(E)依据所述光强度比值，求得液晶元件局部面积的光学参数二维空间分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学参数量测方法与装置，尤其是涉及一种液晶元件的光学参数量测方法与装置。
技术介绍
以目前来说，液晶显示器(IXD)已成为不可取代的主流显示器，而且，在液晶显示器中，扭转向列式液晶(Twisted-Nematic LiquidCrystal，TN-LC)是关键元件，所以目前存在多种量测扭转向列式液晶的光学参数的方法，该光学参数包含扭转角(twist angle), ffi Mifi (phase retardation) > K ( ^ (rubbing angle) > fS] (cell gap) R 5 ftjU^ (pretilt angle)等。目前技术上较为成熟的量测方法有晶体旋转方法(crystal rotation method)及偏振量测方法(polarimetric method)。然而，上述的两种方法都只能测得部分的光学参数。近年来，也有人提出以光谱椭圆仪(spectroscopic ellipsometer)或是干涉式偏光仪(interferometric polarimeter)的方式来量测液晶元件的光学参数， 不过，仍只能本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种液晶元件的光学参数量测方法，其特征在于：该光学参数量测方法包含下列步骤：（Ａ）提供一可垂直入射该液晶元件局部面积的单一波长偏振光束；（Ｂ）提供一相位延迟片，使该光束垂直穿透该液晶元件前，先通过该相位延迟片以使该光束产生相位延迟和偏振状态改变，并提供一偏振分光器，使垂直穿透该液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；（Ｃ）使该相位延迟片连续旋转，并且该相位延迟片每旋转一预定角度就由一第一图像撷取器撷取该平行偏振光束所产生的第一图像画面，以及由一第二图像撷取器撷取该垂直偏振光束所产生的第二图像画面；（Ｄ）由一图像处理模块在对应该液晶元件相同位置分析所述第一图像画面与所述第二图像画...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周晟，
申请(专利权)人：周晟，
类型：发明
国别省市：71