温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种液晶元件的光学参数量测方法，包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射液晶元件局部面积的偏振光束；(B)使该光束依序通过一相位延迟片与待测的液晶元件，并将穿透液晶元件的该光束分成一平行偏振光束及一垂直偏振光束；(C)连续地以一预定角度旋转该相...
该专利属于周晟所有，仅供学习研究参考，未经过周晟授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。