【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,尤其涉及晶体硅。
技术介绍
作为清洁能源,太阳能电池的应用越来越广泛,常规太阳能电池具有如图1所示的结构,太阳能电池的基底中包括PN结,PN结的两面分别具有减反射膜1(通常为氮化硅膜)和背电极4,在减反射膜1上有前电极5 (栅线),该前电极5在电池制备的高温烧结步骤中会穿过减反射膜1而与太阳能电池的基底相接触。太阳能电池的效率(光电转换效率)是其最重要的性能,而太阳能电池效率的损失主要包括光损失和电损失。其中,光损失包括前电极遮光造成的损失以及表面反射损失; 电损失包括由电极与PN结的接触造成的损失以及复合损失。如图2所示,在太阳能电池基底中的半导体材料的原子6相互键合,同时半导体材料中还存在许多表面悬挂键7和内部缺陷8,这些悬挂键7和缺陷8会俘获半导体材料中的少数载流子,缩短少数载流子寿命,降低太阳能电池的效率,这一现象即为复合损失,由内部缺陷造成的复合为内部复合,由表面悬挂键造成的复合为表面复合;另外,太阳能电池中还存在电极复合。现有的太阳能电池(以晶体硅太阳能电池为例)的制造流程如下硅片清洗; 表面腐蚀;制绒;扩散制PN结;刻蚀;沉积氮化硅 ...
【技术保护点】
1.一种太阳能电池制造方法,其特征在于,包括:对太阳能电池基底进行氢处理,所述氢处理包括在含氢气氛中于800摄氏度~1500摄氏度的温度下处理太阳能电池基底。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:荣延栋,
申请(专利权)人:北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司,
类型:发明
国别省市:11
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