转接元件的测试模块制造技术

本发明专利技术涉及一种转接元件的测试模块，包括一待测的转接元件、一仿真卡及一侦错板。仿真卡电性连接转接元件。侦错板分别电性连接转接元件与仿真卡，并与转接元件及仿真卡之间形成一回路。侦错板通过传递于此回路中的测试信号，以判断转接元件是否异常。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种测试模块，特别是有关于一种转接元件的测试模块。
技术介绍
图1绘示已知技术的测试转接元件的方块示意图。由于目前服务器的PCI-E插槽 800的连接规格尚未直接与支持行动PCI Express模块(Mobile PCIExpress Module MXM) 的高阶PCI-E适配卡700 (例如高阶的绘图适配卡或视频图像适配卡)。因此需要将高阶 PCI-E适配卡700插接于一转接元件200上，再由此转接元件200连接服务器的PCI-E插槽 800，作为高阶PCI-E适配卡700与服务器交换信号之桥梁。在配备有此种高阶PCI-E适配卡700的服务器出货前，都必须确保转接元件200 的质量，避免提高后续的维修成本及售后服务成本。目前此种转接元件200的测试方式仍是将一高阶PCI-E适配卡700的实物产品安装至一待测转接元件200，再将待测转接元件 200插接于一测试服务器的PCI-E插槽800。待使得测试服务器开机后，测试服务器才能对待测转接元件200进行电源及信号的测试，才可得知此待测转接元件200是否合格。然而，利用测试服务器来对转接元件进行功能测试时，存在以下缺点1、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，存在着大量的人机交互测试工作，不仅效率低，也常因为人为判断的误差而造成测试失败。2、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，由于每次测试都必须将高阶 PCI-E适配卡、待测的转接元件及PCI-E插槽重新安装，相当耗费人力及时间。3、搭配测试服务器对转接元件进行功能测试时，配合服务器的启动，需要一固定的开机时间，进而拉长转接元件的整体测试时间，进而影响生产成本及产品质量。4、搭配高阶PCI-E适配卡的实物产品对转接元件进行功能测试时，由于高阶 PCI-E适配卡的功能强大，因此目前在市场上的价格相当昂贵，因此，若上述的转接元件为不良品时，往往会伤害高阶PCI-E适配卡或服务器，造成重大价值的损失。如此，如何研发出一种解决方案，可克服上述种种不便及缺点，实乃相关业者目前刻不容缓的一重要课题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于揭露一种转接元件的测试模块。此种测试模块包括一待测的转接元件、一仿真卡及一侦错板。此转接元件适于转接一高阶PCI-E适配卡 (Peripheral Component Interconnect Express)至一月艮务器的一 PCI—E 连接插槽上。仿真卡活动地插设于转接元件上，电性连接转接元件。侦错板分别电性连接转接元件与仿真卡，并与转接元件及仿真卡之间形成一回路。侦错板通过传递于回路中的测试信号，以判断转接元件是否异常。本专利技术的一实施例中，仿真卡具有多个印刷线路，此些印刷线路相同于此高阶 PCI-E适配卡的线路。本专利技术的一实施例中，此测试模块还包含一测试计算机，测试计算机电性连接侦错板，用以指示侦错板进行测试，并接受侦错板传回转接元件是否异常的判断结果。本专利技术的一实施例中，此测试模块还包含一供应电源，供应电源电性连接转接元件，用以提供转接元件所需的工作电源。本专利技术的一实施例中，侦错板具有一微处理单元，微处理单元具有一第一通用输入输出接口，用以输出一测试信号至该转接元件、一第二通用输入输出接口，用以接收自该仿真卡所回传的一回传信号、一内部集成电路接口，用以读取该转接元件的一电子抹除式可复写只读存储器的信息及一仿真输出入接口，用以读取该转接元件的一电源运行状态。本专利技术的一实施例中，侦错板具有一符合PCI-E规格的连接部，连接部连接至转接元件。综上所述，本专利技术的测试模块透过上述的各种信息传输接口即可得知转接元件是否异常，使得转接元件不需搭配服务器即可进行测试。如此，本专利技术具有以下优点1、简化了人机交互测试工作，进而提高效率，也降低人为判断的误差而造成测试失败的机率。2、缩短了对转接元件进行测试的整体测试时间，进而改善生产成本及产品质量。3、节省了取得测试服务器所需的硬件取得成本以及避免伤害高阶PCI-E适配卡的实体产品或服务器的风险。附图说明为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下图1绘示已知技术以服务器测试转接元件的方块示意图；图2绘示本专利技术转接元件的测试模块的方块示意图；图3绘示本专利技术转接元件的测试模块在一实施例下的方块示意图；图4绘示本专利技术测试转接元件的方法在此实施例下的流程图。主要元件符号说明100测试模块430第七连接部200转接元件440微处理单元210第一连接部441测试内容韧体220第二连接部450第一通用输入输出接口230电子抹除式可复写只读存储器460第二通用输入输出接口300仿真卡470内部集成电路接口310印刷线路480仿真输出入接口320第三连接部500测试计算机330第四连接部510第八连接部400侦错板600供应电源410第五连接部700高阶PCI-E适配卡420第六连接部800服务器PCI-E连接插槽401--406 步骤具体实施例方式以下将以附图及详细说明清楚说明本专利技术的精神，如熟悉此技术的人员在了解本专利技术的实施例后，当可由本专利技术所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本专利技术的精神与范围。请参照图2所示，图2绘示本专利技术转接元件的测试模块的方块示意图。本专利技术是揭露一种转接元件的测试模块，测试模块100至少包括一待测的转接元件200、一仿真卡300 及一侦错板400。仿真卡300电性连接转接元件200。侦错板400分别电性连接转接元件 200与仿真卡300，并与该待测的转接元件200及该仿真卡300之间形成一回路。如此，由于侦错板400、转接元件200及仿真卡300之间形成一单向回路，当侦错板400输出一测试信号至转接元件200，侦错板400可通过此测试信号是否经仿真卡300再回到侦错板400， 或者通过回到侦错板400后的测试信号是否改变，来判断此转接元件200是否发生异常。请参照图3所示，图3绘示本专利技术转接元件的测试模块在一实施例下的方块示意图。本专利技术的一实施例中，此转接元件200在工作时，是用来转接一高阶PCI-E适配卡 700 (例如高阶的绘图适配卡或视频图像适配卡)至一服务器的一 PCI-E连接插槽800上 (如图1)。此转接元件200具有一第一连接部210、一第二连接部220及一电子抹除式可复写只读存储器 230 (Electrically-ErasableProgrammable Read-Only Memory, EEPR0M)。仿真卡300活动地插设于待测的转接元件200上，电性连接此转接元件200，且仿真卡300并非一上述的高阶PCI-E适配卡700，但在表面上配置有与此高阶PCI-E适配卡 700相同的印刷线路310，用以代表此高阶PCI-E适配卡700的实体产品。仿真卡300另具有一第三连接部320及一第四连接部330。第三连接部320与转接元件200的第一连接部210相匹配，用以插设于第一连接部210上。第三连接部320及第四连接部330通过印刷线路310彼此电性相通。侦错板400亦具有一第五连接部410 (例如PCI-E规格)、一第六连接部420及一第七连接部430 (例如RS232规格)。第五连接部 410与转接元件200的第二连接部220相匹配，本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种转接元件的测试模块，其特征在于，该转接元件适于转接一高阶ＰＣＩ－Ｅ适配卡至一服务器的一ＰＣＩ－Ｅ连接插槽上，其包括：一仿真卡，活动地插设于该转接元件上，电性连接该转接元件；一侦错板，分别电性连接该转接元件与该仿真卡，并与该转接元件及该仿真卡之间形成一回路，其中该侦错板通过传递于该回路中的测试信号，以判断该转接元件是否异常。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江颖范，张鉴炽，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71